利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

20 条记录 (耗时 0.014 秒)

    Messsystem
    12.
    发明公开
    Messsystem 有权
    测量系统

    公开(公告)号：EP2754996A3

    公开(公告)日：2014-10-29

    申请号：EP14000106.6

    申请日：2014-01-13

    申请人： Micronas GmbH

    发明人： Ritter, Joachim ,  Jörg, Franke

    IPC分类号： G01D5/14 ,  G01B7/14

    CPC分类号： G01B7/14 ,  G01D5/145

    摘要： Messsystem
    mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors ( B ) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist,
    mit einem Geber (30), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) einer erste Periodizität (T1) aufweist, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der dritten Raumrichtung (y) eine zweite Periodizität (T2) aufweist, wobei eine erste Periode der ersten Periodizität (T1) und eine zweite Periode der zweiten Periodizität (T2) unterschiedlich sind,
    mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (20) eine Logik (25) aufweist, die eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (C) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen.

    摘要翻译： 测量系统具有用于在第一空间方向测量磁场矢量（B）的第一分量（BX）集成在半导体芯片中的第一磁场传感器（11）的磁场传感器装置（10）（x）和用于内置半导体芯片的第二磁场传感器（12） 测量第二部件在第二空间方向（z），所述磁场矢量（B）的（BZ）和一个内置的半导体芯片第三磁场传感器（13），用于在第三成分的第三空间方向（y）测量磁场矢量（B）（通过） ，与编码器（30）形成，在所述第一空间方向（x）的其旋转和/或平移运动（B）依赖和在第二空间方向（z）和在第三空间方向（y）的磁场矢量 变化，其特征在于，由编码器的运动（30）在第一空间方向（x）的磁场矢量（B）引起的变化和在第二空间方向（z） 具有第一周期（T1），其中，由所述编码器的运动（30）引起的在第三空间方向上的磁场矢量（B）（Y）的第二周期（T2），其中，所述第一频率的第一时段（T1）的变化 和第二周期（T2）的第二时间段是不同的，具有其中第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12）和第三磁场传感器（13）连接的评价电路（20），其中，所述评估电路（20 ），其包括基于第一测量信号逻辑（25），其被适配，所述编码器的位置（30）（a）所述第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12）和第三测量信号的第二测量信号（B）的 （C）的第三磁场传感器（13）。

    Messsystem
    13.
    发明公开
    Messsystem 有权

    公开(公告)号：EP2754996A2

    公开(公告)日：2014-07-16

    申请号：EP14000106.6

    申请日：2014-01-13

    申请人： Micronas GmbH

    发明人： Ritter, Joachim ,  Jörg, Franke

    IPC分类号： G01D5/14

    CPC分类号： G01B7/14 ,  G01D5/145

    摘要： Messsystem
    mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors ( B ) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist,
    mit einem Geber (30), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) einer erste Periodizität (T1) aufweist, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der dritten Raumrichtung (y) eine zweite Periodizität (T2) aufweist, wobei eine erste Periode der ersten Periodizität (T1) und eine zweite Periode der zweiten Periodizität (T2) unterschiedlich sind,
    mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (20) eine Logik (25) aufweist, die eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (C) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen.

    摘要翻译： 测量系统具有磁场传感器装置（10），该磁场传感器装置（10）设置有用于测量预定方向（x-z）上的磁场矢量（B）的分量（Bx-Bz）的磁场传感器（11-13）。 磁场传感器与评估电路（20）连接。 评估电路被提供以基于磁场传感器的测量信号来确定发射器（30）的位置。

    Schaltungsanordnung mit einer seriellen Testschnittstelle bzw. serielles Testbetriebsverfahren
    16.
    发明公开
    Schaltungsanordnung mit einer seriellen Testschnittstelle bzw. serielles Testbetriebsverfahren 有权
    带有串行测试接口或串行测试模式的方法的电路装置

    公开(公告)号：EP1857827A3

    公开(公告)日：2010-06-09

    申请号：EP07008192.2

    申请日：2007-04-23

    申请人： Micronas GmbH

    发明人： Bidenbach, Reiner ,  Franke, Jörg ,  Ritter, Joachim ,  Jung, Christian

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/31713 ,  G01R31/2844 ,  G01R31/2884

    摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung mit einer seriellen Test-Schnittstelle (TIF) zum Ansteuern einer Testbetriebsart, einem frei programmierbaren digitalen Prozessor (CPU), einem Gehäuse (G) zur Aufnahme der Test-Schnittstelle (TIF) und des Prozessors (CPU) und Anschlusskontakten (C0, C1) für einen Daten- und/oder Signalaustausch mit externen Komponenten und Einrichtungen, wobei an einem der Anschlusskontakte (C1) eine modulierte Versorgungsspannung (VDD) anlegbar ist zum Übertragen von Daten (d) und/oder einem Takt (T) unter Verwendung von zumindest zwei Spannungspegeln (V2, V3), welche ansteuerbar sind und ungleich zu einem Versorgungsspannungspegel (V1) zum Versorgen der Schaltungsanordnung mit einer Betriebsspannung sind. Außerdem bezieht sich die Erfindung auf ein serielles Testbetriebsverfahren für eine solche Schaltungsanordnung.

    Messsystem
    19.
    发明公开
    Messsystem 有权
    测量系统

    公开(公告)号：EP2754997A3

    公开(公告)日：2014-10-29

    申请号：EP14000111.6

    申请日：2014-01-13

    申请人： Micronas GmbH

    发明人： Ritter, Joachim ,  Jörg, Franke

    IPC分类号： G01D5/14 ,  G01R33/09

    CPC分类号： G01R33/09 ,  G01D5/145

    摘要： Messsystem (1),
    mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors (B) in einer ersten Raumrichturig (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors (B) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors (B) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist,
    mit einem Geber (20), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (20) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors (B) eine geschlossene und kreuzungsfreie Linie in allen drei Raumrichtungen (x, y, z) beschreibt, und
    mit einer Auswertungsschaltung (30), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (30) eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (S x ) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (S z ) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (S y ) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen.

    摘要翻译： 测量系统（1），具有用于测量在第一空间方向性上古里希（x）和一个内置的半导体芯片第二磁场传感器的磁场矢量（B）的第一分量（BX）集成在半导体芯片中的第一磁场传感器（11）的磁场传感器装置（10） （12），用于测量在第二空间方向（z）的磁场矢量（B）的用于测量的第三组分的第二组分（BZ）和一个内置的半导体芯片第三磁场传感器（13）（通过）在空间中的第三方向上的磁场矢量（B）的 具有（y）的，与形成在依赖于在第一空间方向上的磁场矢量（B）的其旋转和/或平移运动的编码器（20），（x）和在第二空间方向（z）和在第三 空间方向（y）变化，其中，由所述磁场矢量（B）和在所有三个劳一个封闭的横自由行的编码器（20）变化的移动引起的 mrichtungen（X，Y，Z）描述，并且与到所述第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12）和第三磁场传感器（13）连接的评价电路（30），其中，所述评估电路（30）配 基于第一测量信号中的第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12）和第三磁场传感器（13）的第三测量信号（SY）的第二测量信号（Sz）来的（SX）的编码器（30）的位置 确定。