公开(公告)号：EP2754997A2

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：EP14000111.6

申请日：2014-01-13

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim ,  Jörg, Franke

IPC分类号： G01D5/14

CPC分类号： G01R33/09 ,  G01D5/145

摘要： Messsystem (1),
mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors (B) in einer ersten Raumrichturig (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors (B) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors (B) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist,
mit einem Geber (20), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (20) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors (B) eine geschlossene und kreuzungsfreie Linie in allen drei Raumrichtungen (x, y, z) beschreibt, und
mit einer Auswertungsschaltung (30), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (30) eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (S x ) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (S z ) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (S y ) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen.

摘要翻译： 测量系统（1）具有磁场传感器装置（10），其具有集成在半导体芯片中的第一磁场传感器（11），用于测量第一磁场矢量（B）的第一分量（Bx） 空间方向（x）和集成在半导体芯片中的第二磁场传感器（12），用于测量第二空间方向（z）上的磁场矢量的第二分量（Bz）。 第三磁场传感器（13）集成在半导体芯片中，用于测量第三空间方向（y）上的磁场矢量的第三分量（By）。

公开(公告)号：EP1857827B1

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：EP07008192.2

申请日：2007-04-23

申请人： Micronas GmbH

发明人： Bidenbach, Reiner ,  Franke, Jörg ,  Ritter, Joachim ,  Jung, Christian

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31713 ,  G01R31/2844 ,  G01R31/2884

摘要： The arrangement (IC) has a serial test interface (TIF) controlling a test type of operation and a housing (G) accommodating the serial test interface and a processor (CPU). A modulated supply voltage (VDD) is applied to a connecting contact (C1) for transmitting data and/or a clock pulse by making use of two voltage levels (V2, V3). The voltage levels are controlled and are not equal to a feed-in voltage level (V1) for supplying an operating voltage to the arrangement. An independent claim is also included for a serial test operation method for a circuit arrangement.

公开(公告)号：EP1857827A2

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：EP07008192.2

申请日：2007-04-23

申请人： Micronas GmbH

发明人： Bidenbach, Reiner ,  Franke, Jörg ,  Ritter, Joachim ,  Jung, Christian

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31713 ,  G01R31/2844 ,  G01R31/2884

摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung mit einer seriellen Test-Schnittstelle (TIF) zum Ansteuern einer Testbetriebsart, einem frei programmierbaren digitalen Prozessor (CPU), einem Gehäuse (G) zur Aufnahme der Test-Schnittstelle (TIF) und des Prozessors (CPU) und Anschlusskontakten (C0, C1) für einen Daten- und/oder Signalaustausch mit externen Komponenten und Einrichtungen, wobei an einem der Anschlusskontakte (C1) eine modulierte Versorgungsspannung (VDD) anlegbar ist zum Übertragen von Daten (d) und/oder einem Takt (T) unter Verwendung von zumindest zwei Spannungspegeln (V2, V3), welche ansteuerbar sind und ungleich zu einem Versorgungsspannungspegel (V1) zum Versorgen der Schaltungsanordnung mit einer Betriebsspannung sind. Außerdem bezieht sich die Erfindung auf ein serielles Testbetriebsverfahren für eine solche Schaltungsanordnung.

摘要翻译： 该装置（IC）具有控制测试操作类型的串行测试接口（TIF）和容纳串行测试接口的外壳（G）和处理器（CPU）。 调制电源电压（VDD）通过利用两个电压电平（V2，V3）施加到用于发送数据和/或时钟脉冲的连接触点（C1）。 电压电平被控制，并且不等于向该装置提供工作电压的馈入电压电平（V1）。 对于电路装置的串行测试操作方法，还包括独立权利要求。

公开(公告)号：EP1855089A2

公开(公告)日：2007-11-14

申请号：EP07007739.1

申请日：2007-04-16

申请人： Micronas GmbH

发明人： Bidenbach, Reiner ,  Franke, Jörg ,  Ritter, Joachim

IPC分类号： G01D18/00 ,  H01L21/66

CPC分类号： G01D18/00 ,  G01D11/245

摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Monolithische Sensoranordnung mit einem Gehäuse (G), einem im Gehäuse (G) integrierten Sensor (S) und zwei oder drei Anschlusskontakten (C0, C1, C2) am Gehäuse zum Kontaktieren des Sensors (S), wobei in dem Gehäuse (G) ein frei programmierbarer digitaler Prozessor (CPU), ein Programmspeicher (MP) und ein Datenspeicher (MD) zum Steuern und/oder Verarbeiten von Funktionalitäten und/oder Messdaten des Sensors (S) integriert sind bzw. auf ein Verfahren zum Ansteuern einer solchen monolithischen Sensoranordnung.

摘要翻译： 该装置具有一传感器（S），例如 霍尔传感器，在外壳（G），和在所述壳体用于接触传感器提供两个或三个连接触头（C0，C1），其设置。 可自由可编程数字处理器（CPU），程序存储器（MP），以及用于控制和/或处理的功能和/或测量所述传感器的数据的数据存储器（MD）被集成在壳体中。 在电源电压与一个脉冲是通过连接接触（C1）可诱导的。 集成的接口（I）从连接触点为总线（B）上并行数据的串行数据（D）转换。 因此独立claimsoft被包括为用于致动的单片传感器装置的方法。

公开(公告)号：EP1811714A8

公开(公告)日：2007-09-26

申请号：EP06026973.5

申请日：2006-12-28

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim

IPC分类号： H04L7/033

CPC分类号： H04L7/0331

摘要： Die Erfindung bezieht sich auf, eine integrierte Schaltung (7) für eine asynchrone, serielle Datenübertragung mit Strukturen zum Ausbilden
- eines Eingangsanschlusses (30) zum Anlegen asynchroner, serieller Daten (d),
- eines Abtasters (5) zum Abtasten der asynchronen, seriellen Daten (d) mittels eines daran anliegenden Abstattaktes (aclk) und
- eines Bitlängen-Zählers (4) zum Bestimmen einer Bitdauer durch Zählen einer Anzahl (m) von Takten des Abtasttaktes (aclk) oder eines Bitlängen-Zählertaktes (xclk),
wobei
- ein Bitlängenanschluss (32) zum variablen Einstellen der Anzahl (m) der Takte des Bitlängen-Zählers (4) an der integrierten Schaltung (7) und/oder am Bitlängen-Zähler (4) ausgebildet ist.

公开(公告)号：EP2767804B1

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：EP13005477.8

申请日：2013-11-22

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim ,  Franke, Jörg

IPC分类号： G01D5/14 ,  G01R33/07 ,  G01R33/09

CPC分类号： G01D5/16 ,  G01D5/145 ,  G01R33/072 ,  G01R33/091

公开(公告)号：EP2899510A1

公开(公告)日：2015-07-29

申请号：EP15000557.7

申请日：2013-11-22

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim ,  Franke, Jörg

IPC分类号： G01D5/14 ,  G01R33/07 ,  G01R33/09

CPC分类号： G01D5/16 ,  G01D5/145 ,  G01R33/072 ,  G01R33/091

摘要： Messsystem,
mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldes (B) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldes ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) aufweist,
mit einem Geber (31, 34), der ausgebildet ist eine erste Magnetfeldänderung mit einer ersten Periodizität (T 1 ) in der Magnetfeldsensoranordnung (10) erzeugen, und
mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) angeschlossen sind,
wobei die Auswertungsschaltung (20) eingerichtet ist, zur Erzeugung eines ersten Signals (D) mit der ersten Periodizität (T 1 ) aus einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) entsprechend einer Arcustangens-Funktion (arctan (A/B)),
wobei der Geber (31, 34) ausgebildet ist, eine zweite Magnetfeldänderung mit einer zweiten Periodizität (T2) in der Magnetfeldsensoranordnung (10) zu erzeugen, und
wobei die Auswertungsschaltung (20) eingerichtet ist, ein zweites Signal (C) mit der zweiten Periodizität (T2) aus dem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und dem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) entsprechend einer Betragsfunktion (|A| + |B|) zu erzeugen.

摘要翻译： （测定系统，包括具有用于在第一空间方向测量磁场（B）的第一分量（B x）的（x）和第二磁场传感器（12），用于测量的第二部件的第一磁场传感器（11）的磁场传感器装置（10） 的磁场（B）在第二空间方向（z的乙Z）），与编码器（31，34）被形成具有第一周期的在所述磁场传感器配置的第一磁场变化（T 1）（10）产生，并且与 评估电路（20），所述第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12）被连接，其中，所述评估电路（20）被适配用于产生第一信号（D）以所述第一周期（T 1）的 的第一测量信号（a）的第一磁场传感器（11）和根据一个反正切函数（反正切（A / B））的第二磁场传感器（12）的第二测量信号（B），其中所述发射器（31，34）形成的 是与在磁场传感器装置（10）的第二周期（T2）的第二磁场的变化来生成，并且其中所述评估电路（20）被布置，第二信号（C）以所述第二周期（T2）（从第一测量信号A ）对应于绝对值函数（第一磁场传感器（11）和第二磁场传感器（12的第二测量信号（B））的| A | 生成）| + | B.

公开(公告)号：EP2767804A1

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：EP13005477.8

申请日：2013-11-22

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim ,  Franke, Jörg

IPC分类号： G01D5/14 ,  G01R33/07 ,  G01R33/09

CPC分类号： G01D5/16 ,  G01D5/145 ,  G01R33/072 ,  G01R33/091

摘要： Messsystem,
mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldes ( B ) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldes ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) aufweist,
mit einem Geber (31, 34), der ausgebildet ist eine erste Magnetfeldänderung mit einer ersten Periodizität (T 1 ) in der Magnetfeldsensoranordnung (10) erzeugen, und
mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) angeschlossen sind,
wobei die Auswertungsschaltung (20) eingerichtet ist, zur Erzeugung eines ersten Signals (D) mit der ersten Periodizität (T 1 ) aus einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) entsprechend einer Arcustangens-Funktion (arctan (A/B)),
wobei der Geber (31, 34) ausgebildet ist, eine zweite Magnetfeldänderung mit einer zweiten Periodizität (T2) in der Magnetfeldsensoranordnung (10) zu erzeugen, und
wobei die Auswertungsschaltung (20) eingerichtet ist, ein zweites Signal (C) mit der zweiten Periodizität (T2) aus dem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und dem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) entsprechend einer Betragsfunktion (|A|+|B|) zu erzeugen.

摘要翻译： 该系统具有旋转编码器（31），其在磁场传感器阵列（10）中产生具有周期性的旋转角依赖磁场变化，其中周期的周期对应于编码器的旋转。 评估电路根据绝对值函数从磁场传感器（11）的测量信号和另一磁场传感器（12）的另一测量信号产生具有周期性的第一信号。 电路具有基于第一信号和第二信号确定编码器的旋转角度（Phi）的逻辑。

公开(公告)号：EP2105750A1

公开(公告)日：2009-09-30

申请号：EP08005967.8

申请日：2008-03-28

申请人： Micronas GmbH

发明人： Rubehn, Thilo ,  Ritter, Joachim ,  Umbach, Gert ,  Bächer, Dieter ,  Horn, Wolfgang, Dr. ,  Franke, Jörg

IPC分类号： G01R31/317

CPC分类号： G01R31/31713 ,  G01R31/31726

摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine integrierte Schaltungsanordnung (J) mit Anschlusskontakten (S0, SDAT) für einen seriellen Daten- und/oder Signalaustausch mit externen Komponenten und Vorrichtungen (C) und mit einer Steuereinrichtung (JC) und/oder einer seriellen Schnittstelle (JD) zum getakteten Empfangen von Daten (jd) mittels einer zwischen zumindest einem tiefen, einem mittleren und einem hohen Spannungszustand (V1, Vm, Vh) modulierten Signalspannung (v) an einem solchen Anschlusskontakt (SDAT). Die Steuereinrichtung (JC) und/oder die Schnittstelle (JD) sind derart ausgestaltet, dass in einem Sendemodus über den Anschlusskontakt (SDAT) Daten (jo) gesendet werden, indem die Schalteinrichtung (Ts, Tw, Rw) nach Empfang einer von insbesondere dem mittleren Spannungszustand (Vm) in insbesondere den höheren oder tieferen Spannungszustand (Vh; V1) wechselnden Flanke (f1) den Spannungszustand in den insbesondere entgegengesetzten des tieferen oder höheren Spannungszustands (V1; Vh) zieht. Außerdem bezieht sich die Erfindung auf eine Vorrichtung bzw. ein Verfahren zum Betreiben einer solchen Schaltungsanordnung.

摘要翻译： 集成电路装置具有控制单元（JC）或接口（JD）具有电路单元。 控制单元和接口被调整和控制的搜索没有数据（JO）是反式mitted成在连接触头（SDAT）的传输模式。 接收侧翼后的电路单元改变电压状态（VM，VH）。 在其他状态下的电压（V1）的时钟（T）的半个时钟周期的时间操作顺序是从所述电压状态中的一个不同。 独立权利要求中包括了以下内容：（1）与连接用于串行数据或信号交换触头装置; 和（2），用于通过电压信号的调制串行传输环数据的方法。

公开(公告)号：EP1811714A1

公开(公告)日：2007-07-25

申请号：EP06026973.5

申请日：2006-12-28

申请人： Micronas GmbH

发明人： Ritter, Joachim

IPC分类号： H04L7/033

CPC分类号： H04L7/0331

摘要： Die Erfindung bezieht sich auf, eine integrierte Schaltung (7) für eine asynchrone, serielle Datenübertragung mit Strukturen zum Ausbilden
- eines Eingangsanschlusses (30) zum Anlegen asynchroner, serieller Daten (d),
- eines Abtasters (5) zum Abtasten der asynchronen, seriellen Daten (d) mittels eines daran anliegenden Abstattaktes (aclk) und
- eines Bitlängen-Zählers (4) zum Bestimmen einer Bitdauer durch Zählen einer Anzahl (m) von Takten des Abtasttaktes (aclk) oder eines Bitlängen-Zählertaktes (xclk),

wobei
- ein Bitlängenanschluss (32) zum variablen Einstellen der Anzahl (m) der Takte des Bitlängen-Zählers (4) an der integrierten Schaltung (7) und/oder am Bitlängen-Zähler (4) ausgebildet ist.

摘要翻译： 该电路具有到输入端子，用于连接异步串行数据，其中提供了一种用于扫描所述异步串行数据的扫描仪（5）。 甲位长度计数器（4）是通过计算许多预定时钟的提供了一种用于确定一个采矿钻头的长度。 甲位长度端子设置在所述集成电路和/或比特长度计数器设置用于比特长度计数器的时钟数的变量的调整。 一种可调节预定标器（2）和固定位长度计数器被组合以形成可调节的位长度计数器。 因此独立claimsoft被包括用于在集成电路操作的方法。