公开(公告)号：EP2586373A1

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：EP12190359.5

申请日：2012-10-29

申请人： CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA

发明人： Kottler, Christian ,  Revol, Vincent

IPC分类号： A61B6/00 ,  G01B9/02 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20 ,  G02B5/18 ,  G21K1/06

CPC分类号： G21K1/067 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/484 ,  A61B6/588 ,  A61B6/589 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20075 ,  G01N2223/1003 ,  G01N2223/313 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1819 ,  G02B5/1838 ,  G02B5/1871 ,  G02B27/0087 ,  G02B27/42 ,  G02B2005/1804 ,  G21K1/06 ,  G21K2201/067 ,  G21K2207/005

摘要： Embodiments relate to an X-ray interferometer for imaging an object (130) comprising: a phase grating (122) for effecting in correspondence with the phase grating geometry a phase shift to at least a part of X-ray incident onto the phase grating (122); and an absorption grating (123) for effecting in correspondence with the absorption grating geometry absorption to at least a part of X-ray incident onto the absorption grating (123). The X-ray interferometer may be characterized in that the grating period (P 122 ) of the phase grating (122), and the grating period (P 123 ) of the absorption grating (123) are dimensioned such that a detector (140) for X-rays can be placed at a relatively large distance away from the absorption grating (123) such the phase contrast sensitivity of the image of the object detected by the detector remains substantially unaffected.

摘要翻译： 实施例涉及一种用于对物体成像的X射线干涉仪（130），包括：相位光栅（122），用于相应于相位光栅几何结构实现入射到相位光栅上的至少一部分X射线的相移（ 122）; 和一个吸收光栅（123），用于实现与入射到吸收光栅（123）上的至少一部分X射线的吸收光栅几何吸收相对应的吸收光栅。 该X射线干涉仪的特征可以在于，相位光栅（122）的光栅周期（P122）和吸收光栅（123）的光栅周期（P123）被确定尺寸，使得用于X射线的检测器（140） 可以将光线放置在离吸收光栅（123）较远的距离处，使得由检测器检测到的物体的图像的相位对比灵敏度基本上不受影响。