公开(公告)号：EP0335224A3

公开(公告)日：1990-10-31

申请号：EP89104999.1

申请日：1989-03-21

申请人： NIPPON STEEL CORPORATION

发明人： Tanaka, Fumio ,  DeWitt, David P.

IPC分类号： G01J5/60

CPC分类号： G01J5/06 ,  G01J5/004 ,  G01J5/0044 ,  G01J5/02 ,  G01J5/026 ,  G01J5/0275 ,  G01J5/029 ,  G01J5/061 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0825 ,  G01J5/0834 ,  G01J5/0846 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074

摘要： A method of determining true temperatures of a heated target material by its radiation is based on prior knowledge of an emissivity function. This function describes the relationship between the two spectral emissivities for the target material. The method comprises the steps of measuring two radiances corresponding to said spectral emissivities from the target material, assuming a temperature of the target material, then calculating a pair of emissivities which satisfy the emissivity function whereat the assumed temperature is the true temperature of the target material.

公开(公告)号：EP0129150A3

公开(公告)日：1986-03-19

申请号：EP84106461

申请日：1984-06-06

申请人： Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V.

发明人： Tank, Volker

IPC分类号： G01J05/00

CPC分类号： G01J5/602 ,  G01J5/0871 ,  G01J5/522 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074

公开(公告)号：EP0129150A2

公开(公告)日：1984-12-27

申请号：EP84106461.1

申请日：1984-06-06

申请人： DEUTSCHE FORSCHUNGSANSTALT FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT e.V.

发明人： Tank, Volker

IPC分类号： G01J5/00

CPC分类号： G01J5/602 ,  G01J5/0871 ,  G01J5/522 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074

摘要： Es sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur berührungslosen, emissionsgradunabhängigen Strahlungsmessung der Temperatur T eines natürlichen oder künstlichen Objektes sowie ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung des Emissionsgrades eines Objektes im Infraroten und/oder Sichtbaren geschaffen, wobei zur Bestimmung des Emissionsgrades in einem (abgeschlossenen, innen schwarzen) Meßgehäuse mit der Temperatur T G e h das Objekt auf eine höhere Temperatur geheizt wird. Zur Temperaturmessung und/oder Emissionsgradmessung wird jeweils eine Strahlungsmessung in zwei oder mehr begrenzten Spektralbereichen durchgeführt, in welchen der Transmissionsgrad der Atmosphäre bzw. der Atmosphäre im Gehäuse zumindest annähernd gleich eins (1) ist. Zur Bestimmung der Temperatur T und/oder des Emissionsgrades ∈ des Objektes gegebenenfalls auch der Temperatur des Gehäuses wird zu den in jeweils einem einzigen Meßgang in den verschiedenen Spektralbereichen gemessenen Intensitäten eine Strahldichtekurve berechnet, die durch die gemessenen Intensitäten verläuft. Dazu wird durch Iterationsrechnung mit Hilfe des Planck'schen Strahlungsgesetzes diese Strahlungsdichtekurve dergestalt berechnet, daß sie die Summe der Strahldichte des Objektes (mit der Temperatur Tobj und dem Emissionsgerad ∈) und der Strahldichte der Umgebung (mit der Temperatur Tumg) bzw. der Strahldichte des Gehäuses (mit der Temperatur TGeh). reflektiert am Objekt (mit dem Reflexionsgrad des Objektes), ist.

摘要翻译： 有非接触的发射率独立辐射测量天然或人造物体的温度T以及一种方法和用于确定在红外和/或可见光创建的Öbjektes的发射率的设备的方法和装置，所述关闭的发射率在判断（， ）测定壳体与温度TGEH对象被加热到内部黑色更高的温度。 为了测量温度和/或发射率测量辐射测量是在两个或更多个限定的光谱范围进行每种情况下在其中气氛的透射率或大气在所述壳体至少近似等于一（1）。 以确定的温度T和/或对象也可能在壳体的温度的发射率ε，光束密度曲线被计算，在每个情况下，单个Meßgang在通过测量强度的不同光谱强度的测定。 为了这个目的，该物体的光束密度的总和由迭代计算与辐射的普朗克定律的辅助下计算的，以这样的方式该辐射密度曲线（随温度TObj和发射直ε）和环境（具有温度环境温度Tamb）的光束密度和的光束密度的 壳体（随温度TGEH），反射的物体（与对象的反射率），是。