摘要:
A microprocessor-controlled electronic coin chute (10,20) is designed for use in a coin telephone station (1) and adapted to operate over an extended temperature range while making coin acceptance/rejection decisions that are both rapid and accurate. Within the coin chute are a pair of coin quality sensors (12,13) designed to measure a different property of a coin such as composition and size. Each coin quality sensor (12,13) comprises a series-connected pair of coils placed on opposite sides of the coin path (120). These coils are part of an oscillator circuit having a maximum frequency when the coin is positioned between them, and an idle frequency otherwise. Idle frequency measurements are made each time an associated telephone switchhook is operated. The measured idle frequency serves as a temperature indication which, together with a stored program, is used by the microprocessor (250) to establish acceptability limits for each coin in an allowed set. The stored program includes a predetermined functional relationship between acceptability limits and idle frequency for each allowable coin. New acceptability limits are calculated immediately after the idle frequencies are measured.
摘要:
A method of correcting coin data and an apparatus for inspecting coins are disclosed. Determination data is formed on the basis of data read out from a permanent memory, and authenticity and determination of coins are determined on the basis of the readout data. At the same time, maximum and minimum values corresponding to physical characteristics of coins are obtained. When the number of stored coins reaches a predetermined number or an operating time reaches a predetermined duration, the obtained values are updated. When such updating is performed a predetermined number of times, a standard deviation is also updated.
摘要:
Bei Münzprüfern und Geldzählmaschinen tritt das Pro blem einer exakten Münzerkennung, gekoppelt mit der For derung nach einer schnellen, kostengünstigen Sortierung bei geringem Platzbedarf und leichter Umrüstbarkeit auf. Wegen der Komplexität des weltweiten Münzumlaufs arbei tet die Weiche mit einem kompakten Vierfachsensor für Durchmesser, Material, Dicke und Randbeschaffenheit, der seine Vergleichsparameter aus vom Anwender vorgegebe nen Münzen für jeden Kanal ermittelt und im Betriebsfall hieraus den Annahme- oder Abweisungskanal einstellt. Die unmittelbar an den Sensor anschliessende zweistufige Wei che, die in der ersten Stufe eine schnelle Vorsortierung be wirkt, erlaubt aufgrund der kurzen Wege bei entsprechender Aufbereitung des Münzgemisches eine hohe Verarbeitungs geschwindigkeit, wie sie bei Zahlmaschinen benötigt wird.
摘要:
The validator has a transmit coil TC for creating a magnetic field and a receive RC coil for detecting changes in the field due to the presence of a coin adjacent to the coils. The validator performs a test on each coin to provide a first parameter which is a measure of coin face area, and a second parameter which is a measure of coin resistance. The parameters are utilised to establish the validity of the coin.
摘要:
Ein Verfahren zur Überprüfung einer Münze oder einer Medaille umfasst das Bestimmen (S110) einer horizontalen Referenzebene der Münze oder Medaille, das Erzeugen (S120) einer Messgröße in Bezug auf die horizontale Referenzebene; und das Ermitteln (S130) eines Überprüfungsergebnisses aus der Messgröße.
摘要:
The feature information generation device of the present disclosure generates feature information for coin recognition from an image of a coin. The feature information generation device includes: an acquisition unit configured to acquire an actual coin image which is an image of an actual coin, the actual coin including a first surface part formed from a first material and a second surface part formed from a second material different from the first material; and a control unit configured to generate a synthetic coin image to which a virtual boundary line is provided along a boundary between the first surface part and the second surface part in the actual coin image and generate the feature information based on the synthetic coin image.
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Oberflächenprüfung von Münzen (1) auf Verschmutzung, insbesondere aufgrund von chemischen Prozessen, wobei - eine zu untersuchende Münze (1; 1a, 1b) relativ zu einem optischen Aufnahmegerät (20) derart bewegt wird, dass sich Bereiche der Oberfläche des Münzbilds im Aufnahmebereich des Aufnahmegeräts (20) befinden, - während der Bewegung der zu untersuchenden Münze (1; 1a, 1b) mit dem optischen Aufnahmegerät (20) entlang zumindest eines Oberflächenbereichs (O; O 1 , O 2 , O 3 ) und während dieser Zeit Oberflächenpunkte des Münzbilds (10; 10a, 10b) in zumindest zwei optischen Wellenlängenbereichen aufgenommen werden, wobei derart für jeden der Wellenlängenbereiche jeweils ein Profil (P; P 1 , P 2 , P 3 ) erstellt wird, das die Reflexion in dem betreffenden Wellenlängenbereich für eine Anzahl von zeitlich aufeinander folgenden Aufnahmen darstellt, die vom Münzbild (10; 10a, 10b) der zu untersuchenden Münze (1; 1a, 1b) während ihrer Bewegung erstellt wurden, - vorab zumindest ein Referenzprofil (R; R 1 , R 2 , R 3 ) einer Referenzmünze aufgenommen und zur Verfügung gehalten wird, das derart zentriert ist, dass die Mitte des im Aufnahmebereich des Aufnahmegeräts (20) erfassten Münzbilds der Mitte des erstellten Referenzprofils (R; R 1 , R 2 , R 3 ) entspricht, und das derart gestreckt oder gestaucht ist, dass die Breite des erfassten Münzbilds im erstellten Referenzprofil (R; R 1 , R 2 , R 3 , R 4 ) einer vorgegebenen Standardbreite entspricht, - das erstellte Profil (P; P 1 , P 2 , P 3 ) der zu untersuchenden Münze (1; 1a, 1b) derart verschoben und gestreckt oder gestaucht wird, dass die Mitte des erfassten Münzbilds (10; 10a, 10b) der zu untersuchenden Münze (1; 1a, 1b) in der Mitte des erstellten Profils (P; P 1 , P 2 , P 3 ) liegt und dass die Breite des erfassten Münzbilds (10; 10a, 10b) im erstellten Profil (P; P 1 , P 2 , P 3 ) der vorgegebenen Standardbreite entspricht, - das erstellte Profil (P; P 1 , P 2 , P 3 ) der zu untersuchenden Münze (1; 1a, 1b) mit dem zumindest einen Referenzprofil (R; R 1 , R 2 , R 3 , R 4 ) der Referenzmünze verglichen und ein diesbezüglicher Übereinstimmungsmaßwert ermittelt wird, und - eine Verschmutzung festgestellt wird, wenn der ermittelte Übereinstimmungsmaßwert eine einen vorgegebenen Schwellenwert unterschreitende Übereinstimmung indiziert.