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    Smart Label
    62.
    发明公开
    Smart Label 有权
    智能标签

    公开(公告)号：EP2239651A2

    公开(公告)日：2010-10-13

    申请号：EP10157959.7

    申请日：2010-03-26

    申请人： CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

    发明人： Leuenberger, David ,  Basset, Guillaume ,  Beierlein, Tilman

    IPC分类号： G06F3/045 ,  A61J7/00 ,  B32B7/12 ,  B65D83/00 ,  G01L1/20

    CPC分类号： H01G13/00 ,  A61J1/035 ,  A61J7/0418 ,  A61J7/0427 ,  A61J2200/30 ,  G01L1/205 ,  G06F3/045

    摘要： A smart label is provided that can be affixed on or integrated in an object. The smart label is able to provide an electrical signal indicative of the applied pressure or force and/or the position of the applied pressure or force at a touch point on the object to which the label is affixed.
    The smart label comprises a layer structure (1) and a detector system (2). The layer structure (1) comprises at least a stack of a first, a second and a third layer (L1,L2,L3), whereby the first and third layers (L1,L3) each comprise a flexible, electrically conductive or semiconductive material and at least two electrodes (E) for connecting the layers to the detector system (2).
    The second layer (L2) comprises a flexible, deformable and compressible material and separates the first and third layers (L1,L3). The second layer (L2) is electrically nonconductive or electrically conductive but less conductive than the first and third layers (L1,L3).
    The at least two electrodes (E) from the first and third layers (L1,L3) are arranged along one side of the layer structure (1).

    X-Ray Imaging Device and Method for the Manufacturing thereof
    65.
    发明公开
    X-Ray Imaging Device and Method for the Manufacturing thereof 审中-公开
    它们的制备的X射线成像装置和处理

    公开(公告)号：EP2026383A3

    公开(公告)日：2009-08-05

    申请号：EP08162513.9

    申请日：2008-08-18

    申请人： CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

    发明人： Von Känel, Hans ,  Kaufmann, Rolf

    IPC分类号： H01L27/146

    CPC分类号： H01L27/14689 ,  H01L27/14659 ,  H01L31/028 ,  H01L31/1812

    摘要： The present invention discloses an X-ray imaging device (100) comprising an X-ray absorber (105) that comprises a plurality of semiconductor layers. The plurality of semiconductor layers comprise a substrate (110) having a backside; and at least one absorption layer (120,130,140,150) adapted to absorb at least one X-ray photon impinging on the at least one absorption layer that is adapted to correspondingly generate in response to the at least one impinging X-ray photon at least one electron-hole pair; and a readout unit (310), wherein the readout unit is operatively coupled to the X-ray absorber (105) such to enable readout of the at least one electron-hole pair. Additional and alternative embodiments are described and claimed.

    Procédé de mesure bidimensionnelle de la position d'un objet
    69.
    发明公开
    Procédé de mesure bidimensionnelle de la position d'un objet 审中-公开
    Verfahren zur zweidimensionalen Messung der Position eines Gegenstands

    公开(公告)号：EP1972901A1

    公开(公告)日：2008-09-24

    申请号：EP07104445.7

    申请日：2007-03-20

    申请人： CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement

    发明人： FRANZI, Edoardo ,  MASA, Peter ,  HEIM, Pascal

    IPC分类号： G01D5/347 ,  G01D5/245

    CPC分类号： G01D5/34776 ,  G01D5/34707

    摘要： L'invention concerne un procédé de détermination de la position d'un objet par rapport à une position de référence. Il comporte les principales opérations suivantes :
    - association à cet objet d'un motif périodique bidimensionnel (11) formé de marques (17, 18) disposées régulièrement selon une grille orthogonale, d'axes X et Y, à lignes et colonnes,
    - irradiation dudit motif au moyen d'ondes électromagnétiques,
    - captation des ondes réémises par le motif pour obtenir une image de leur répartition spatiale,
    - élaboration de deux signaux de marquage périodiques (Mx, My) respectivement représentatifs de cette image selon lesdits axes, et
    - comparaison de ces signaux à des références représentatives de ladite position de référence afin de déterminer le décalage de position de l'objet selon les axes X et Y par rapport à cette position de référence.

    摘要翻译： 该方法涉及将由二维格栅放置的标记形成的周期性空间标记图案（11）与行和列相关联。 该图案用电磁波照射。 收集通过图案重发的波，以从空间分布获得图像。 开发分别表示沿着行和列的图像的两个定时信号。 将信号与表示参考位置的参考值进行比较，以确定物体相对于参考位置沿轴线（X，Y）的位置的位移。 还包括用于实现用于测量物体的绝对位置的方法的二维图案的独立权利要求。