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公开(公告)号：EP4429895A1
公开(公告)日：2024-09-18
申请号：EP22814363.2
申请日：2022-11-08
IPC分类号： B42D25/378 , B42D25/41 , B41M5/28 , B41M3/14
CPC分类号： B42D25/378 , B42D25/41 , B41M5/28 , B41M3/14
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公开(公告)号：EP4218197B1
公开(公告)日：2024-08-28
申请号：EP21752068.3
申请日：2021-07-30
IPC分类号： H04L9/00
CPC分类号： H04L9/005 , H04L9/003 , H04L2209/0820130101
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公开(公告)号：EP4417995A1
公开(公告)日：2024-08-21
申请号：EP23305208.3
申请日：2023-02-16
申请人： THALES DIS FRANCE SAS , THALES
发明人： EL JAAFARI, Mohamed , PANAITOPOL, Dorin , FINE, Jean-Yves , RICHARD DE LATOUR, Antoine , BLAUDIN DE THE, Yann
CPC分类号： H04W64/00 , G01S13/878 , G01S5/01 , G01S5/0244 , G01S5/14 , G01S19/38 , G01S5/02695 , G01S13/765 , G01S5/0249 , G01S7/006
摘要： La présente invention concerne un procédé de gestion de la détermination du positionnement d'un terminal de communication ayant au moins un satellite non géostationnaire en vue et paraissant présent auprès d'un noeud de réseau, le procédé comprenant les étapes de, pour une entité du réseau :
- détermination d'un positionnement de référence du terminal ;
- calcul d'au moins une prédiction d'affaiblissement de précision calculée en fonction de données d'éphémérides du ou des satellites concernés pour au moins un instant à venir et du positionnement de référence du terminal ;
- comparaison de la prédiction d'affaiblissement avec un seuil maximal ;
- déclarer la détermination du positionnement non accessible en cas d'affaiblissement de précision prédit supérieur au seuil maximal ;
- sinon, envoyer au noeud de réseau et au terminal des instructions d'exécution d'une procédure de mesures multiples de temps aller-retour à l'instant à venir.-
公开(公告)号：EP4401989A1
公开(公告)日：2024-07-24
申请号：EP22772537.1
申请日：2022-09-13
发明人： SUBRA, Sébastien
IPC分类号： B42D25/324 , B42D25/346 , B42D25/305 , B42D25/23 , B42D25/41 , B42D25/425 , B42D25/435
CPC分类号： B42D25/23 , B42D25/305 , B42D25/324 , B42D25/346 , B42D25/41 , B42D25/425 , B42D25/435
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公开(公告)号：EP4070241B1
公开(公告)日：2024-07-17
申请号：EP20808484.8
申请日：2020-11-25
IPC分类号： G06K19/077
CPC分类号： G06K19/07724 , G06K19/0772 , G06K19/07794
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公开(公告)号：EP4392264A1
公开(公告)日：2024-07-03
申请号：EP22765850.7
申请日：2022-08-17
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公开(公告)号：EP4386542A1
公开(公告)日：2024-06-19
申请号：EP22306898.2
申请日：2022-12-15
发明人： LEPAVEC, Emmanuel , MINETTE DE SAINT MARTIN, Xavier , BOUVERON, Dominique , PHAN, Guillaume Chi-Dan
摘要： The invention concerns a method for the relink of software components installed on a device being updated, the device comprising a CAP file, the method comprising creating a CAP file component, called Link Component (30), the Link Component (30) comprising a proprietary Constant Pool part (31), built by using the original Constant Pool component of the CAP file, and a proprietary Reference Location part (32), built by using the original Reference Location Component and the original Method Component of the CAP file.
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公开(公告)号：EP4380066A1
公开(公告)日：2024-06-05
申请号：EP22306753.9
申请日：2022-11-29
CPC分类号： G06K19/0726 , H04B5/24 , H04B5/43
摘要： A media card (200 or 300) with an tunable inductive antenna pattern (203) includes an area (204) configured for receiving a wireless chip (306a, 306b, or 306d) operating at one of several given frequencies and an antenna with an antenna pattern printed on a core layer (202) and printed on the area configured for receiving the wireless chip, where the antenna pattern includes one or more selectable conductive extension segments (206a-206g). In some embodiments, the one or more selectable conductive extension segments are selectively removed to tune the antenna for a frequency for the wireless chip operating at one of several given or predetermined frequencies.
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公开(公告)号：EP4379601A1
公开(公告)日：2024-06-05
申请号：EP22306752.1
申请日：2022-11-29
IPC分类号： G06K19/077
CPC分类号： G06K19/07749
摘要： A card (200) having processed areas includes a core layer (104), an antenna pattern (102) on the core layer, and one or more bump-out areas (110) of the antenna pattern having a threshold distance towards a process boundary, where the card passes a continuity test if a cutting or a punching or a milling process fails to create an open circuit at the bump-out areas. The card fails a continuity test if the cutting or the punching or the milling processes creates the open circuit at the bump-out areas.
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