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    Système électronique testable
    1.
    发明公开
    Système électronique testable 失效
    Prüfbares电子系统

    公开(公告)号：EP0762285A1

    公开(公告)日：1997-03-12

    申请号：EP96410088.7

    申请日：1996-08-06

    申请人： TEMENTO SYSTEMS

    发明人： Deroux-Dauphin, Patrice ,  François, Christian

    IPC分类号： G06F11/267 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/318555 ,  G01R31/2815 ,  G01R31/318536 ,  G01R31/318561

    摘要： L'invention concerne un système électronique testable comprenant des éléments testables munis d'interfaces de test normalisées permettant d'organiser les éléments en chaînes qui se comportent comme des registres à décalage pour assurer l'échange d'informations de test. Chaque élément est, soit un composant (10) possédant un identificateur caractéristique du comportement de test du composant et accessible par l'interface de test du composant, soit un aiguillage (24) permettant d'organiser une chaîne en sous-chaînes individuellement sélectionnables par des canaux de l'aiguillage. Des aiguillages maîtres (24) définissent des sous-ensembles (20) d'éléments, un canal spécifique de chaque aiguillage maître étant réservé pour accéder a un identificateur (22) caractéristique de l'organisation de test du sous-ensemble associé.

    摘要翻译： 该系统包括提供标准化测试接口的可测试元素，允许组件的链接。 这些链包括允许交换测试信息的移位寄存器。 每个元件包括具有用于测试组件的特征标识符的组件（10），其可通过组件的测试接口访问。 它还包括一个切换系统（24），允许将链条组织成具有切换通道的可单独选择的子链。 主交换设备（24）定义元件（20）的子组件，具有允许访问相关子组件的测试组织的特征的标识符（22）的特定通道。