摘要:
Die Erfindung gibt einen Weg an, um bei technologiebe dingter Bandbreitenbegrenzung (Innenwiderstand Ri, para sitäre Kapazität C) die effektive Bandbreite zu erhöhen. Hierzu wird ein zusätzlicher Widerstand (Ra) zwischen die Signalleitung (L) und einen Punkt mit festem Potential (UH) eingefügt. Ausführungsbeispiele, insbesondere für integrierte Bau weise, werden angegeben. Anwendungsbeispiele sind Busschaltungen und Breitband koppelfeldbausteine, wobei durch die erfindungsgemäße Maßnahme die Zahl der Koppelpunkte (Kapazität C) bei gleicher Bandbreite erhöht werden kann.
摘要:
Es wird eine Überwachungsschaltung für Digitalsignale vorgestellt, mit der in einer getakteten Schaltung festgestellt werden kann, ob auf einer zu überwachenden Datenleitung innerhalb einer vorgegebenen Zeitdauer, beispielsweise einer Rahmendauer, der Signalpegel wechselt, woraus auf das Vorhandensein eines Informationsflusses geschlossen wird.
摘要:
Eine steuerbare Verzögerungsleitung (VZL) ist in Reihe mit einer Entscheidungslogik (EL) geschaltet und wird von dem digitalen Signal durchlaufen. Die Entscheidungslogik (EL) ist über Steuerleitungen (UPO, DOWN0) und die Verzögerungsleitung (VZL) über Adressenleitungen (S0, S1, S2, S3) mit einer Verzögerungsregeleinheit (VRE) verbunden. Die Entscheidungslogik (EL) weist eine mit dem Systemtakt (CK) über eine Taktleitung (TL) verbundene Abtastschaltung (AS) und eine Auswerteeinheit (AWE) auf. Ein ankommendes digitales Signal wird zunächst zu fünf verschiedenen Zeitpunkten abgetastet und dann bewertet, wobei zusätzlich das Vorliegen einer Minimal- oder einerMaximalverzögerung der Verzögerungsleitung (VZL) berücksichtigt wird. An einem ersten (ZO) und einem zweiten Zustandsanzeigeausgang (Z1) der Auswerteeinheit (AWE) ist jederzeit die Systemtakt-Daten-Phasenbeziehung abgreifbar.
摘要:
Schaltungsanordnung mit einem fest eingebauten Testsignalgenerator (TG) und einer davon unabhängigen ebenfalls fest eingebaute Fehlererkennungsschaltung (PE). Von außen kann veranlaßt werden, daß ein Signalweg an einer bestimmten Stelle aufgetrennt und dort das Signal des Testsignalgenerators (TG) eingespeist wird. Das an einer anderen, ebenfalls von außen wählbaren Stelle des Signalwegs abgenommene Signal wird in der Fehlererkennungsschaltung (PE) überprüft; das Ergebnis wird nach außen gegeben. Eine solche Schaltungsanordnung wird vorteilhaft dort eingesetzt, wo eine Vielzahl gleicher Schaltungsanordnungen zu einem größeren Nachrichtennetzwerk vereinigt ist. Als Beispiel wird ein aus vielen Breitbandkoppelfeldbausteinen aufgebautes Breitbandkoppelfeld beschrieben. Da die Testsignalgeneratoren und die Fehlererkennungsschaltungen voneinander unabhängig sind, sind damit auch Systemtests möglich, ohne daß zusätzliche Prüfwege geschaltet werden müssen. Die vorgeschlagene Schaltungsanordnung erleichtert auch den Test hochintegrierter Schaltungen bereits auf dem Wafer, da keine hochfrequenten Testsignale zugeführt und abgegriffen werden müssen.
摘要:
Eine steuerbare Verzögerungsleitung (VZL) ist in Reihe mit einer Entscheidungslogik (EL) geschaltet und wird von dem digitalen Signal durchlaufen. Die Entscheidungslogik (EL) ist über Steuerleitungen (UPO, DOWN0) und die Verzögerungsleitung (VZL) über Adressenleitungen (S0, S1, S2, S3) mit einer Verzögerungsregeleinheit (VRE) verbunden. Die Entscheidungslogik (EL) weist eine mit dem Systemtakt (CK) über eine Taktleitung (TL) verbundene Abtastschaltung (AS) und eine Auswerteeinheit (AWE) auf. Ein ankommendes digitales Signal wird zunächst zu fünf verschiedenen Zeitpunkten abgetastet und dann bewertet, wobei zusätzlich das Vorliegen einer Minimal- oder einerMaximalverzögerung der Verzögerungsleitung (VZL) berücksichtigt wird. An einem ersten (ZO) und einem zweiten Zustandsanzeigeausgang (Z1) der Auswerteeinheit (AWE) ist jederzeit die Systemtakt-Daten-Phasenbeziehung abgreifbar.
摘要:
Schaltungsanordnung mit einem fest eingebauten Testsignalgenerator (TG) und einer davon unabhängigen ebenfalls fest eingebaute Fehlererkennungsschaltung (PE). Von außen kann veranlaßt werden, daß ein Signalweg an einer bestimmten Stelle aufgetrennt und dort das Signal des Testsignalgenerators (TG) eingespeist wird. Das an einer anderen, ebenfalls von außen wählbaren Stelle des Signalwegs abgenommene Signal wird in der Fehlererkennungsschaltung (PE) überprüft; das Ergebnis wird nach außen gegeben. Eine solche Schaltungsanordnung wird vorteilhaft dort eingesetzt, wo eine Vielzahl gleicher Schaltungsanordnungen zu einem größeren Nachrichtennetzwerk vereinigt ist. Als Beispiel wird ein aus vielen Breitbandkoppelfeldbausteinen aufgebautes Breitbandkoppelfeld beschrieben. Da die Testsignalgeneratoren und die Fehlererkennungsschaltungen voneinander unabhängig sind, sind damit auch Systemtests möglich, ohne daß zusätzliche Prüfwege geschaltet werden müssen. Die vorgeschlagene Schaltungsanordnung erleichtert auch den Test hochintegrierter Schaltungen bereits auf dem Wafer, da keine hochfrequenten Testsignale zugeführt und abgegriffen werden müssen.