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公开(公告)号:EP0911620A2
公开(公告)日:1999-04-28
申请号:EP98116873.5
申请日:1998-09-07
IPC分类号: G01J3/28
CPC分类号: G01N21/3103 , G01J3/2803
摘要: Die Erfindung betrifft eine photoelektrische Detektoreinrichtung zur Verwendung in der Atomabsorptionsspektroskopie. Sie zeichnet sich aus durch ein Photohalbleiterfeld mit einer Mehrzahl von Photohalbleitereinrichtungen und eine Ausleseeinrichtung zum gemeinsamen Auslesen der in den Photohalbleitereinrichtungen eines beliebigen zusammenhängenden Bereichs im Photohalbleiterfeld durch Auftreffen von Strahlung erzeugten Ladungen sowie zum Erzeugen elektrischer, den ausgelesenen Ladungen entsprechender Signale.
摘要翻译: 本发明涉及在原子吸收光谱学中使用的光电检测装置。 该器件的特征在于具有多个光电半导体器件的光电半导体阵列和用于通过辐射冲击共同读出在光致半导体阵列中的任何连续部分的光半导体器件中产生的电荷的读出装置, 并且用于产生对应于读出电荷的电信号。
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公开(公告)号:EP0902272A2
公开(公告)日:1999-03-17
申请号:EP98116856.0
申请日:1998-09-07
IPC分类号: G01N21/31
CPC分类号: G01N21/3103 , G01N2021/3122
摘要: Die Erfindung betrifft ein Atomabsorptionsspektrometer, umfassend einen Meßlichtweg, der von wenigstens einer jeweils Linienstrahlung eines nachzuweisenden Elements emittierenden Lichtquelle durch eine eine zu untersuchende, das nachzuweisende Element enthaltende Probe in den atomisierten Zustand versetzende Atomisierungseinrichtung zu einer Detektionseinrichtung führt, und einen Referenzlichtweg, der von jeder Lichtquelle zu der Detektionseinrichtung führt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlenteilereinrichtung so vorgesehen ist, daß ein erster Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Meßlichtweg und gleichzeitig ein zweiter Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Referenzlichtweg führbar ist.
摘要翻译: 原子吸收光谱仪具有光束分离器,可以更快的测试精度。 原子吸收光谱仪具有测量光路(110),其引导至少一个光源(150)的至少一个相应的线辐射,发射至少一个要检测的元件。 还有从每个光源(150)通向检测器单元(130)的参考线路径(120)。 提供了一种分束器单元(140),使得第一光源(150)的线辐射的第一部分可以在测量光路(110)上引导,并且同时第二部分的线辐射 光源超过参考光路(120)。
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公开(公告)号:EP0902272A3
公开(公告)日:1999-07-07
申请号:EP98116856.0
申请日:1998-09-07
IPC分类号: G01N21/31
CPC分类号: G01N21/3103 , G01N2021/3122
摘要: Die Erfindung betrifft ein Atomabsorptionsspektrometer, umfassend einen Meßlichtweg, der von wenigstens einer jeweils Linienstrahlung eines nachzuweisenden Elements emittierenden Lichtquelle durch eine eine zu untersuchende, das nachzuweisende Element enthaltende Probe in den atomisierten Zustand versetzende Atomisierungseinrichtung zu einer Detektionseinrichtung führt, und einen Referenzlichtweg, der von jeder Lichtquelle zu der Detektionseinrichtung führt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlenteilereinrichtung so vorgesehen ist, daß ein erster Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Meßlichtweg und gleichzeitig ein zweiter Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Referenzlichtweg führbar ist.
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