Detektoreinrichtung zur Verwendung in der Atomabsorptionsspektroskopie

    公开(公告)号:EP0911620A2

    公开(公告)日:1999-04-28

    申请号:EP98116873.5

    申请日:1998-09-07

    IPC分类号: G01J3/28

    CPC分类号: G01N21/3103 G01J3/2803

    摘要: Die Erfindung betrifft eine photoelektrische Detektoreinrichtung zur Verwendung in der Atomabsorptionsspektroskopie. Sie zeichnet sich aus durch ein Photohalbleiterfeld mit einer Mehrzahl von Photohalbleitereinrichtungen und eine Ausleseeinrichtung zum gemeinsamen Auslesen der in den Photohalbleitereinrichtungen eines beliebigen zusammenhängenden Bereichs im Photohalbleiterfeld durch Auftreffen von Strahlung erzeugten Ladungen sowie zum Erzeugen elektrischer, den ausgelesenen Ladungen entsprechender Signale.

    摘要翻译: 本发明涉及在原子吸收光谱学中使用的光电检测装置。 该器件的特征在于具有多个光电半导体器件的光电半导体阵列和用于通过辐射冲击共同读出在光致半导体阵列中的任何连续部分的光半导体器件中产生的电荷的读出装置, 并且用于产生对应于读出电荷的电信号。

    Atomabsorptionsspektrometer
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:EP0902272A2

    公开(公告)日:1999-03-17

    申请号:EP98116856.0

    申请日:1998-09-07

    IPC分类号: G01N21/31

    CPC分类号: G01N21/3103 G01N2021/3122

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Atomabsorptionsspektrometer, umfassend einen Meßlichtweg, der von wenigstens einer jeweils Linienstrahlung eines nachzuweisenden Elements emittierenden Lichtquelle durch eine eine zu untersuchende, das nachzuweisende Element enthaltende Probe in den atomisierten Zustand versetzende Atomisierungseinrichtung zu einer Detektionseinrichtung führt, und einen Referenzlichtweg, der von jeder Lichtquelle zu der Detektionseinrichtung führt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlenteilereinrichtung so vorgesehen ist, daß ein erster Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Meßlichtweg und gleichzeitig ein zweiter Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Referenzlichtweg führbar ist.

    摘要翻译: 原子吸收光谱仪具有光束分离器,可以更快的测试精度。 原子吸收光谱仪具有测量光路(110),其引导至少一个光源(150)的至少一个相应的线辐射,发射至少一个要检测的元件。 还有从每个光源(150)通向检测器单元(130)的参考线路径(120)。 提供了一种分束器单元(140),使得第一光源(150)的线辐射的第一部分可以在测量光路(110)上引导,并且同时第二部分的线辐射 光源超过参考光路(120)。

    Spektrometervorrichtung
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:EP0778459A1

    公开(公告)日:1997-06-11

    申请号:EP96117015.6

    申请日:1996-10-23

    IPC分类号: G01J3/28

    CPC分类号: G01J3/2803 G01J2003/2866

    摘要: Die Erfindung betrifft eine Spektrometervorrichtung mit einer Monochromatoreinrichtung, einer Licht von der Monochromatoreinrichtung empfangenden Lichtmeßeinrichtung und einer eine Kalibrierlichtquelle umfassenden Kalibriereinrichtung. Die Erfindung schafft eine neue Spektrometervorrichtung, deren Lichtmeßeinrichtung eine Vielzahl von Lichtmeßelementen in einer sich in Dispersionsrichtung der Monochromatoreinrichtung erstreckenden Anordnung aufweist, und deren Kalibriereinrichtung basierend auf einer Spektrallichtmessung mit der Kalibrierlichtquelle eine Zuordnung zwischen Lichtmeßelementen und Wellenlängen des durch die betreffenden Lichtmeßelemente erfaßbaren Spektrallichtes trifft. Durch diese Maßnahmen wird die Kalibrierung und insbesondere deren automatische Durchführung ggf. simultan zu einer Spektrenmessung wesentlich erleichtert und die Genauigkeit der Kalibrierung verbessert.

    摘要翻译: 光谱仪包括具有光入口(2)的单色仪(1),以接收来自检查光源(4)的光。 具有从单色器的分散方向上的多个测量元件的光度计(6)接收来自单个器件的光,该单色器仅从来自源的窄波长范围。 该计量器连接到控制和评估单元(27),其分析所接收的光的光谱,并且其自身连接以将限定波长的光返回到单色仪。 校准系统实现光测量元件与光谱光波长之间的协调。 因此,校准是自动地和同时进行的光谱测量,这是更容易和更准确的。

    Atomabsorptionsspektrometer
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:EP0902272A3

    公开(公告)日:1999-07-07

    申请号:EP98116856.0

    申请日:1998-09-07

    IPC分类号: G01N21/31

    CPC分类号: G01N21/3103 G01N2021/3122

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Atomabsorptionsspektrometer, umfassend einen Meßlichtweg, der von wenigstens einer jeweils Linienstrahlung eines nachzuweisenden Elements emittierenden Lichtquelle durch eine eine zu untersuchende, das nachzuweisende Element enthaltende Probe in den atomisierten Zustand versetzende Atomisierungseinrichtung zu einer Detektionseinrichtung führt, und einen Referenzlichtweg, der von jeder Lichtquelle zu der Detektionseinrichtung führt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlenteilereinrichtung so vorgesehen ist, daß ein erster Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Meßlichtweg und gleichzeitig ein zweiter Teil der Linienstrahlung jeder Lichtquelle über den Referenzlichtweg führbar ist.