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1.发明公开Dispositif à ondes acoutiques focalisées pour étudier la structure d'un objet 失效Gerätmit lokalisierten Schallwellen zur Objektstrukturuntersuchung。
公开(公告)号：EP0150843A2
公开(公告)日：1985-08-07
申请号：EP85100880.5
申请日：1985-01-29
发明人： Nongaillard, Bertrand , Camus, Liévin , Boudy, Pierre , Rouvaen, Jean-Michel , Saisse, Henri , Fevrier, Hervé
摘要： Il comporte une sonde électroacoustique (3) comprenant un monocristal (8) sur lequel est fixé un transducteur (4 à 7) alimenté par un générateur électrique (1) de fréquence 100 MHz, cette sonde présentant n surfaces courbes coaxiales (10, 11) formant n lentilles acoustiques, le transducteur délivrant des impulsions d'énergie acoustique focalisées par les lentilles de la sonde dans l'objet à étudier (13), ces impulsions étant réfléchies par l'objet pour former sur le transducteur des signaux électriques de retour. Il comporte en outre des moyens de déplacement (15) de l'objet par rapport à la sonde et un circuit de traitement (16) apte à former des imagesde la structure de l'objet (13) à partir des signaux électriques de retour.
Application au contrôle non destructif d'échantillons de céramique.摘要翻译： 该装置包括由单晶（8）组成的电声探针（3），其上连接有由100MHz发电机（1）提供的换能器（4至7）。 探头具有形成n个声透镜的n个弯曲同轴表面（10,11）。 传感器将由探针聚焦的声能脉冲发送到被调查物体上（13）。 这些脉冲被物体反射并在换能器处形成电返回信号。 该装置还包括用于相对于探针移动物体的装置（15）和能够从电返回信号形成物体（13）的结构的图像的处理电路（16）。 应用于陶瓷样品的无损检测。
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2.发明公开
公开(公告)号：EP0150843A3
公开(公告)日：1985-12-18
申请号：EP85100880
申请日：1985-01-29
发明人： Nongaillard, Bertrand , Camus, Liévin , Boudy, Pierre , Rouvaen, Jean-Michel , Saisse, Henri , Fevrier, Hervé
摘要： Il comporte une sonde électroacoustique (3) comprenant un monocristal (8) sur lequel est fixé un transducteur (4 à 7) ali menté par un générateur électrique (1) de fréquence 100 MHz, cette sonde présentant n surfaces courbes coaxiales (10, 11) formant n lentilles acoustiques, le transducteur délivrant des impulsions d'énergie acoustique focalisées par les lentilles de la sonde dans l'objet à étudier (13), ces impulsions étant réflé chies par l'objet pour former sur le transducteur des signaux électriques de retour. Il comporte en outre des moyens de dé placement (15) de l'objet par rapport à la sonde et un circuit de traitement (16) apte à former des images de la structure de l'ob jet (13) à partir des signaux électriques de retour.
Application au contrôle non destructif d'échantillons de céramique.
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