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    Detector circuit
    1.
    发明公开
    Detector circuit 失效
    Detektorschaltung。

    公开(公告)号：EP0541837A1

    公开(公告)日：1993-05-19

    申请号：EP91119165.8

    申请日：1991-11-11

    申请人： Hewlett-Packard GmbH

    发明人： Fischer, Martin

    IPC分类号： G01R19/165

    CPC分类号： G01R19/1659 ,  G01R31/31924 ,  G01R31/3193

    摘要： A detector circuit (2), preferably for an integrated circuit tester, compares an unknown binary signal (A) with two reference voltages (V r1 , V r2 ). The outputs of comparators (5, 6) are fed to a 1-of-n decoder (11) whose outputs (12-14) are, in turn, fed to latch circuits (22-24). Those latch circuits comprise a feedback loop which is activated by a control signal (G) such that they may be operated either in a transmission mode or in a mode wherein all states of the unknown binary signal A during a prescribed time window may be recorded. The outputs (K,M,O) of latch circuits (22-24) are fed to D flip-flops (38-40), in order to sample the outputs of the latch circuits (22-24).

    摘要翻译： 优选用于集成电路测试器的检测器电路（2）将未知二进制信号（A）与两个参考电压（Vr1，Vr2）进行比较。 比较器（5,6）的输出被馈送到1 / n解码器（11），其输出（12-14）又被馈送到锁存电路（22-24）。 这些锁存电路包括由控制信号（G）激活的反馈回路，使得它们可以以传输模式或以其中可以记录在规定时间窗口内的未知二进制信号A的所有状态的模式来操作。 锁存电路（22-24）的输出（K，M，O）被馈送到D触发器（38-40），以便对锁存电路（22-24）的输出进行采样。