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    REGISTRATION OF AN EXTENDED REFERENCE FOR PARAMETER MEASUREMENT IN AN OPTICAL SENSING SYSTEM
    1.
    发明公开
    REGISTRATION OF AN EXTENDED REFERENCE FOR PARAMETER MEASUREMENT IN AN OPTICAL SENSING SYSTEM 审中-公开
    注册EINER ERWEITERTEN REFERENZ ZUR PARAMETERMESSUNG在EINEM OPTISCHEN ERFASSUNGSSYSTEM

    公开(公告)号：EP2577222A4

    公开(公告)日：2017-06-28

    申请号：EP11790271

    申请日：2011-05-31

    申请人： INTUITIVE SURGICAL OPERATIONS

    发明人： FROGGATT MARK E ,  KLEIN JUSTIN W ,  GIFFORD DAWN K ,  REAVES MATTHEW ,  BOS JOSEPH J ,  SANG ALEXANDER K

    IPC分类号： G01B9/02 ,  G01B11/16 ,  G01D5/353 ,  G01L1/24

    CPC分类号： G01B9/02088 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02023 ,  G01B9/02069 ,  G01B9/02084 ,  G01B11/161 ,  G01D5/35361 ,  G01L1/242

    摘要： An interferometric measurement system measures a parameter using at least one optical waveguide. A memory stores reference interferometric pattern data associated with a segment of the optical waveguide. Interferometric detection circuitry detects and stores measurement interferometric pattern data associated with the segment of the optical waveguide during a measurement operation. A spectral range of the reference interferometric pattern of the optical waveguide is greater than a spectral range of the measurement interferometric pattern of the optical waveguide. A processor shifts one or both of the measurement interferometric pattern data and the reference interferometric pattern data relative to the other to obtain a match and to use the match to measure the parameter. An example parameter is strain.

    摘要翻译： 干涉测量系统使用至少一个光波导来测量参数。 存储器存储与光波导的一段相关联的参考干涉图案数据。 干涉检测电路在测量操作期间检测并存储与光波导的段相关联的测量干涉图案数据。 光波导的参考干涉图案的光谱范围大于光波导的测量干涉图案的光谱范围。 处理器将测量干涉图案数据和参考干涉图案数据中的一者或两者相对于另一者移位以获得匹配并且使用匹配来测量参数。 示例参数是应变。