摘要:
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Redundanzimplementierung für einen Speicherbaustein, bei der eine Fuse-Bank (FB) über einen Redundanzpredecoder (FPD) mit einem Vergleicher (Comp) verbunden ist, so daß in dem Vergleicher (Comp) predecodierte Adressen miteinander verglichen werden können und in der Fuse-Bank (FB) undecodierte Adressen speicherbar sind. Dadurch ist eine leistungsarme und platzsparende Gestaltung möglich.
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Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Redundanzimplementierung für einen Speicherbaustein, bei der eine Fuse-Bank (FB) über einen Redundanzpredecoder (FPD) mit einem Vergleicher (Comp) verbunden ist, so daß in dem Vergleicher (Comp) predecodierte Adressen miteinander verglichen werden können und in der Fuse-Bank (FB) undecodierte Adressen speicherbar sind. Dadurch ist eine leistungsarme und platzsparende Gestaltung möglich.
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Die Erfindung betrifft eine MRAM-Anordnung, bei der Leitungstreiberschaltungen (6, 7) jeweils über Verbindungsknoten (4, 5) zwei Speicherzellenfeldern (1, 2 bzw. 2, 3) zugeordnet sind, so daß die Fläche für die Treiberschaltungen praktisch halbiert werden kann.
摘要:
Es wird ein Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speichers beschrieben, der Speicherzellen (MC0; MC255) mit jeweils einem Auswahltransistor (T0, T255) und einem Speicherkondensator (C0, C255) mit ferroelektrischem Speichereffekt aufweist. Der Speicher enthält eine Plattenleitung (PL), die über eine Reihenschaltung des Auswahltransistors (T0) und des Speicherkondensators (C0) jeweiliger Speicherzellen (MC0) mit einer der Spaltenleitungen (BLt) verbunden ist. Ein Speicherzugriff wird nach dem sogenannten "Pulsed Plate Concept" durchgeführt. Der zeitliche Ablauf wird dabei so gesteuert, daß in einem Zugriffszyklus der Speicherkondensator (C0) der auszuwählenden Speicherzelle (MC0) jeweils um den gleichen Betrag aufgeladen und entladen wird. So wird eine durch Source-Drain-Leckströme von nicht aktivierten Auswahltransistoren verursachte Abschwächung oder Zerstörung der in den Speicherzellen gespeicherten Information vermieden.
摘要:
Ein integrierter Halbleiterspeicher weist Speicherzellen (MC) mit ferroelektrischem Speichereffekt auf, die zu Einheiten von Spaltenleitungen (BL1, BL2) und Zeilenleitungen (WL1, WL2) zusammengefaßt sind. Die Speicherzellen (MC) sind jeweils zwischen eine der Spaltenleitungen (BL1) und eine Ladeleitung (PL1) geschaltet. Die Spaltenleitung (BL1) ist an einen Leseverstärker (2) angeschlossen, an dem ein Ausgangssignal (S21) abgreifbar ist, die Ladeleitung (PL1) ist mit einer Treiberschaltung (3) verbunden, durch die die Ladeleitung (PL1) an einem vorgegebenen Potential (V1, GND) anliegt. Die Spaltenleitung (BL1) und die Ladeleitung (PL1) sind in einer inaktiven Betriebsart gemeinsam im Leseverstärker (2) oder in der Treiberschaltung (3) mit einem Anschluß (22) für ein gemeinsames Versorgungspotential (GND) verbunden. Dadurch ist ein relativ schneller Potentialausgleich zwischen den Leitungen (BL1, PL1) möglich. Es kann dadurch eine unbeabsichtigte Veränderung des Speicherzelleninhalts infolge von Störspannungen vergleichsweise gering gehalten werden.
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Ein integrierter Halbleiterspeicher weist Speicherzellen (MC) mit ferroelektrischem Speichereffekt auf, die zu Einheiten von Spaltenleitungen (BL1, BL2) und Zeilenleitungen (WL1, WL2) zusammengefaßt sind. Die Speicherzellen (MC) sind jeweils zwischen eine der Spaltenleitungen (BL1) und eine Ladeleitung (PL1) geschaltet. Die Spaltenleitung (BL1) ist an einen Leseverstärker (2) angeschlossen, an dem ein Ausgangssignal (S21) abgreifbar ist, die Ladeleitung (PL1) ist mit einer Treiberschaltung (3) verbunden, durch die die Ladeleitung (PL1) an einem vorgegebenen Potential (V1, GND) anliegt. Die Spaltenleitung (BL1) und die Ladeleitung (PL1) sind in einer inaktiven Betriebsart gemeinsam im Leseverstärker (2) oder in der Treiberschaltung (3) mit einem Anschluß (22) für ein gemeinsames Versorgungspotential (GND) verbunden. Dadurch ist ein relativ schneller Potentialausgleich zwischen den Leitungen (BL1, PL1) möglich. Es kann dadurch eine unbeabsichtigte Veränderung des Speicherzelleninhalts infolge von Störspannungen vergleichsweise gering gehalten werden.
摘要:
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum verlustarmen Schreiben eines MRAMs, bei der die an den Bitleitungen (BL0, ... BL4) bzw. Wortleitungen liegenden Spannungen derart eingestellt sind, daß die Zellspannung über den Speicherzellen (Z0, ..., Z4) zwischen einer selektierten Wortleitung (WL) bzw. Bitleitung und den einzelnen Bitleitungen (BL0, ..., BL4) bzw. Wortleitungen minimal ist.
摘要:
Es wird ein Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speichers beschrieben, der Speicherzellen (MC0; MC255) mit jeweils einem Auswahltransistor (T0, T255) und einem Speicherkondensator (C0, C255) mit ferroelektrischem Speichereffekt aufweist. Der Speicher enthält eine Plattenleitung (PL), die über eine Reihenschaltung des Auswahltransistors (T0) und des Speicherkondensators (C0) jeweiliger Speicherzellen (MC0) mit einer der Spaltenleitungen (BLt) verbunden ist. Ein Speicherzugriff wird nach dem sogenannten "Pulsed Plate Concept" durchgeführt. Der zeitliche Ablauf wird dabei so gesteuert, daß in einem Zugriffszyklus der Speicherkondensator (C0) der auszuwählenden Speicherzelle (MC0) jeweils um den gleichen Betrag aufgeladen und entladen wird. So wird eine durch Source-Drain-Leckströme von nicht aktivierten Auswahltransistoren verursachte Abschwächung oder Zerstörung der in den Speicherzellen gespeicherten Information vermieden.