公开(公告)号：EP2519953A2

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：EP10841479.8

申请日：2010-12-10

申请人： Intel Corporation

发明人： SPRY, Bryan L. ,  SCHOENBORN, Theodore Z. ,  ABRAHAM, Philip ,  MOZAK, Christopher P. ,  ELLIS, David G. ,  NEJEDLO, Jay J. ,  QUERBACH, Bruce ,  GREENFIELD, Zvika ,  GHATTAS, Rony ,  THOLIYIL, Jayasekhar ,  LUCAS, Charles D. ,  YUNKER, Christopher E.

IPC分类号： G11C29/10

CPC分类号： G11C29/08 ,  G11C29/10 ,  G11C29/44

摘要： REUT (Robust Electrical Unified Testing) for memory links is introduced which speeds testing, tool development, and debug. In addition it provides training hooks that have enough performance to be used by BIOS to train parameters and conditions that have not been possible with past implementations. Address pattern generation circuitry is also disclosed.

摘要翻译： 引入了用于内存链接的REUT（强大的电气统一测试），可以加速测试，开发和调试。 此外，它提供了具有足够的性能的训练钩子，以供BIOS使用，以训练以前的实现中不可能的参数和条件。 还公开了地址图案生成电路。