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1.

发明授权
Verfahren zum Parametrieren einer integrierten Schaltungsanordnung und integrierte Schaltungsanordnung hierfür 有权
标题翻译：用于设置集成电路的参数的方法和本集成电路装置

公开(公告)号：EP0953848B1

公开(公告)日：2004-07-28

申请号：EP99102191.6

申请日：1999-02-04

申请人： Micronas GmbH

发明人： Hummel, Ulrich Helmut, Dipl.-Ing.

IPC分类号： G01R31/30 , G11C29/00

CPC分类号： H01L22/22