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1.

发明公开
Method of and apparatus for measuring lattice constant ratio 失效
标题翻译：用于测量尺寸常数比的方法和装置

公开(公告)号：EP0404221A3

公开(公告)日：1991-07-24

申请号：EP90201498.4

申请日：1990-06-11

申请人： Philips Electronics N.V.

发明人： Maruyama, Hiromu

IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/3106 , G01N2223/3303 , G01N2223/602 , G01N2223/604

摘要： The invention discloses a method and an apparatus for measuring lattice spacings in particular of a single crystal during the grow thereof by vapour deposition whilst located in a heating furnace.

2.

发明公开
Method of and apparatus for measuring lattice constant ratio 失效
标题翻译： Verfahren und Vorrichtung zur Messung desGitterkonstantenverhältnisses。

公开(公告)号：EP0404221A2

公开(公告)日：1990-12-27

申请号：EP90201498.4

申请日：1990-06-11

申请人： Philips Electronics N.V.

发明人： Maruyama, Hiromu

IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/20

CPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/207 , G01N2223/056 , G01N2223/1016 , G01N2223/3106 , G01N2223/3303 , G01N2223/602 , G01N2223/604

摘要： The invention discloses a method and an apparatus for measuring lattice spacings in particular of a single crystal during the grow thereof by vapour deposition whilst located in a heating furnace.

摘要翻译： 本发明公开了一种用于在位于加热炉中时通过气相沉积在其生长期间测量单晶的晶格间距的方法和装置。