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发明公开
SYSTEM AND CARTRIDGE FOR SAMPLE TESTING 审中-公开

公开(公告)号：EP4149678A1

公开(公告)日：2023-03-22

申请号：EP21729764.7

申请日：2021-05-13

申请人： QUIDEL CORPORATION

发明人： KEHLE, Johannes , JACONO, Bruce , KROLL, Werner , SUR, Kunal , PARPIA, Zaheet , ELIOPOULOS, Andrew , MOROVICH, Matthew , MCDANIELS-DAVIDSON, Jesse , BJARNASON, Jon , WITKOWICKI, Jesse , LINHOFF, Todd , PACK, Todd Denison

IPC分类号： B01L3/00 , G01N35/04