摘要:
Die Erfindung betrifft Verfahren und Vorrichtungen zur Erfassung physikalischer Parameter wie insbesondere mechanischer Kräfte, die im Rahmen einer üblichen Behandlung flacher, scheibenartiger und bruchempfindlicher Gegenstände auf dieselben einwirken. Die Verfahren und Vorrichtungen können besonders vorteilhaft bei der Fertigung von Solarzellen oder Solarwafern eingesetzt werden. Im Rahmen des erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Behandlung auf einen Probekörper (1) angewendet, der im Wesentlichen die geometrischen und/oder mechanischen Eigenschaften der Gegenstände aufweist, und mindestens einen Sensor (2) zur Erfassung der während der Behandlung auf den Probekörper (1) einwirkenden physikalischen Parameter umfasst, wobei der Sensor (2) zur Verstärkung des Messsignals bevorzugt einer elastischen Zwischenschicht (9) aufgelagert ist.