公开(公告)号：EP3899775A1

公开(公告)日：2021-10-27

申请号：EP19813896.8

申请日：2019-12-11

申请人： Technische Universität Wien

发明人： KRIEG, Christian

IPC分类号： G06F30/327 ,  G06F30/398

公开(公告)号：EP3671490A1

公开(公告)日：2020-06-24

申请号：EP18214502.9

申请日：2018-12-20

申请人： Technische Universität Wien

发明人： KRIEG, Christian

IPC分类号： G06F17/50

摘要： The present invention is related to a method for validating a hardware system (HS) by a model (MO) thereof, the method (1) comprising the following steps:
providing reference structures (RS) and determining (2), in the model (MO), sub-structures (SS), each of which is structurally equivalent to one of said reference structures (RS);
extracting (3), from the model (MO), input cones (IN) for each sub-structure (SS);
creating (4) monopartite candidate graphs (CG) by mapping the bipartite sub-structure (SS) and the respective input cones (IN) to one of the candidate graphs (CG);
creating (5), for each candidate graph (CG), a match vector (MV), each dimension (D t ) of the match vector (MV) comprising a count (x t ) of occurrences, in the candidate graph (CG), of a different one of predetermined graphlets (GL);
clustering (6), on the basis of similarity of the match vectors (MV), the candidate graphs (CG) in clusters (CL); and
selecting, from each of said clusters (CL), one candidate graph (CG) and determining a functional behaviour of the respective sub-structure (SS) of the selected candidate graph (CG) for validating (7) the hardware system (HS).

公开(公告)号：EP3382580A1

公开(公告)日：2018-10-03

申请号：EP17163776.2

申请日：2017-03-30

申请人： Technische Universität Wien

发明人： KRIEG, Christian ,  JANTSCH, Axel ,  MOSBECK, Martin

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5045 ,  G06F17/504

摘要： A method for automatic detection of a functional primitive in a model of a hardware system, the model being a netlist (2) having cells (2') and net links (2") therebetween, comprising the steps:
a) mapping the cells (2') to nodes (4), each of which having a target node type, and the net links (2") to edges (11) of a target graph (3, 10), and mapping the functional primitive to a search pattern (14) having search nodes (19) and connections therebetween;
b) selecting candidates from those target nodes (4) the target node types of which match a search node type, and selecting a candidate structure from those selected candidates the target nodes (4) and edges (11) of which match the search nodes (19) and connections of the search pattern (14);
c) reverse-mapping the target nodes (4) and edges (11) of the selected candidate structure to the cells (2') and net links (2") of the netlist (2); and
d) outputting said cells (2') and net links (2") as detected functional primitive.

公开(公告)号：EP3026592B1

公开(公告)日：2018-04-04

申请号：EP15196409.5

申请日：2015-11-26

申请人： Technische Universität Wien

发明人： KRIEG, Christian ,  SCHUPFER, Florian ,  RATHMAIR, Michael

IPC分类号： G06F21/56 ,  G06F21/76

CPC分类号： G06F21/76 ,  G06F21/56

公开(公告)号：EP3026592A1

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：EP15196409.5

申请日：2015-11-26

申请人： Technische Universität Wien

发明人： KRIEG, Christian ,  SCHUPFER, Florian ,  RATHMAIR, Michael

IPC分类号： G06F21/56 ,  G06F21/76

CPC分类号： G06F21/76 ,  G06F21/56

摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (1) zum automatisierten Detektieren von Schadstrukturen (M) in einem elektronischen Schaltkreis, dessen Systemmodell (S) in einer Hardwarebeschreibungssprache modelliert wurde, umfassend: Erzeugen (2) eines abstrakten Syntaxbaums (AST) aus dem Systemmodell (S); Mustervergleichen (3) zumindest einer Teilstruktur des abstrakten Syntaxbaums (AST) mit zumindest einer Referenz-Schadstruktur (R i ) und, bei Übereinstimmung, Markieren der Teilstruktur als potentielle Schadstruktur (P i ); Ermitteln (5) charakteristischer Merkmale (C ij ) der potentiellen Schadstruktur (P i ), zugehöriger Eigenschaften (F ij ) und eines Zulässigkeitsbereichs (A ij ) jeder Eigenschaft (F ij ); Übersetzen der Eigenschaft (F ij ) und des Zulässigkeitsbereichs (A ij ) in eine Prüfungssprache für einen Zustandsautomaten (Z); und Prüfen eines Zustandsautomaten (Z), der durch Umwandeln des Systemmodells (S) oder des abstrakten Syntaxbaums (AST) gewonnen wurde, auf verschiedene Zustände und/oder Zustandsübergänge, wobei eine Schadstruktur (M) detektiert wird, wenn in einem Zustand und/oder Zustandsübergang eine der Eigenschaften (F ij ) den Zulässigkeitsbereich (A ij ) verlässt.

摘要翻译： 本发明涉及一种方法和装置（1）的有害结构（M）中的电子电路的自动检测，系统模型（S）中的硬件描述语言建模，包括：生成（2）从所述抽象语法树（AST）的 系统模型（S）; 模式进行比较（3）的抽象语法树（AST）与至少一个参考有害结构（R i）和，如果它们匹配，标记的部分结构为潜在有害的结构（P I）的中的至少一个的部分结构; 的相关联的潜在的有害结构的特性特征（C IJ）（P i）中，特性（F IJ）和每个属性（F IJ）的可允许的范围（A IJ）确定（5）; 平移所述特性（F IJ）和用于状态机（Z）的测试语言允许的范围（A IJ）; 和检查状态机（Z），其通过将所述系统模型（S）或抽象语法树（AST）获得的，在不同的状态和/或状态转变，其中，有害结构（M）是在一种状态时检测和/或 状态转移离开性质（FIJ）的容许范围（IJ）中的一个。