摘要:
Le dispositif et le procédé suivant l'invention concernent la détection au défilé de défauts de surface sur des produits métalliques longs. Ce procédé et ce dispositif comportent au moins une caméra linéaire CCD (6, 7) effectuant des expositions à des temps successifs t₁, t₂, t 3. ...t n . Des moyens informatiques (18, 19) calculent les écarts observés pour chaque pixel ou ensemble de pixels à ces temps successifs. L'évolution de ces écarts permet de détecter les défauts et leur étendue. L'utilisation de seuils permet de réduire le bruit de fond. Des orientations différentes de l'axe optique des caméras (6, 7) permettent la détection de différents types de défauts. Vitesse de défilement : jusqu'à 1 m/s ou davantage. Application en particulier aux tubes de révolution (1) en métaux inoxydables ou réfractaires.