TRENNKLEMME
    7.
    发明公开
    TRENNKLEMME 审中-公开

    公开(公告)号:EP3671800A1

    公开(公告)日:2020-06-24

    申请号:EP19213774.3

    申请日:2019-12-05

    摘要: Eine Trennklemme (1) umfasst ein Gehäuse (2), eine erste Leiterschiene (4) und eine zweite Leiterschiene (7), eine Schalteinrichtung (9) und eine Betätigungseinrichtung (10), wobei die Schalteinrichtung (9) mittels der Betätigungseinrichtung (10) aus einer Verbindungsstellung, in welcher die erste Leiterschiene (4) und die zweite Leiterschiene (8) durch die Schalteinrichtung (9) elektrisch leitend verbunden sind, in eine Trennstellung, in welcher die elektrisch leitende Verbindung der ersten Leiterschiene (4) und der zweiten Leiterschiene (8) getrennt ist, und zurück verstellbar ist. Ein Sichtabschnitt (102) der Betätigungseinrichtung (9) in der Verbindungsstellung mit einer Oberfläche (12, 12a) eines Abschnitts einer Oberseite des Gehäuses (2) oder eines mit dem Gehäuse (2) verbundenen Teils fluchtet, und dass der Sichtabschnitt (102) der Betätigungseinrichtung (9) steht in der Trennstellung von einer Oberfläche (12, 12a) eines Abschnitts einer Oberseite des Gehäuses (2) oder eines mit dem Gehäuse (2) verbundenen Teils deutlich sichtbar hervor. Eine Anordnung von mindestens zwei aneinandergereihten Trennklemmen (1) wird bereitgestellt.

    PRÜF- UND ANSCHLUSSVORRICHTUNGSANORDNUNG UND PRÜFVORRICHTUNG
    8.
    发明公开
    PRÜF- UND ANSCHLUSSVORRICHTUNGSANORDNUNG UND PRÜFVORRICHTUNG 审中-公开
    TEST和连接设备配置和测试人员

    公开(公告)号:EP2715872A1

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:EP12726599.9

    申请日:2012-05-21

    IPC分类号: H01R9/26

    摘要: The present invention relates to a test apparatus for a test and connection apparatus arrangement, having a test unit which comprises a connecting unit that has a pin element for disconnecting an electrical connection and also has two first measuring connections, wherein two electrically conductive contact plates are arranged on the pin element, said contact plates each being electrically conductively connected to one of the two first measuring connections, wherein the measuring connections are arranged on that side of the test unit which is opposite the pin element, wherein the measuring connections are arranged at an angle to one another and/or vertically offset in relation to one another. The present invention also relates to a test apparatus having at least two test units which each comprise a connecting unit having a pin element and two first measuring connections, wherein the test units and/or the connecting units are arranged so as to be vertically offset in relation to one another. The present invention also relates to a test and connection apparatus arrangement having a test apparatus of this kind and a connection apparatus into which the test apparatus can be plugged.

    PRÜF- UND ANSCHLUSSVORRICHTUNGSANORDNUNG UND ANSCHLUSSVORRICHTUNG
    9.
    发明公开
    PRÜF- UND ANSCHLUSSVORRICHTUNGSANORDNUNG UND ANSCHLUSSVORRICHTUNG 有权
    TEST和连接设备配置和连接设备

    公开(公告)号:EP2715871A1

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:EP12723855.8

    申请日:2012-05-21

    IPC分类号: H01R9/26

    摘要: The present invention relates to a test and connection apparatus arrangement, having a test apparatus, and having a connection apparatus for connecting electrical conductors, wherein the test apparatus can be plugged into the connection apparatus and, in the process, disconnects an electrical connection between two contact lugs which are electrically in contact, and wherein the test apparatus can be plugged into the connection apparatus from a top face of the connection apparatus and from a bottom face of the connection apparatus. The present invention also relates to a connection apparatus which is designed for connecting electrical conductors.