APPARATUS FOR INSPECTING OBJECTS USING CODED BEAM
    1.
    发明公开
    APPARATUS FOR INSPECTING OBJECTS USING CODED BEAM 有权
    装置用于研究使用编码RAY物体

    公开(公告)号:EP2076793A2

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:EP07873569.3

    申请日:2007-10-24

    IPC分类号: G01T1/29 G01V5/00

    摘要: An apparatus for inspecting objects utilizes a fan beam or flood beam to illuminate the inspected region of the object. A modulator, which may take the form of a movable mask, dynamically encodes the beam so that each segment of the inspected region receives varying amounts of radiation according to a predetermined temporal sequence. The resultant signal produced by a backscatter detector or optional transmission detector receiving radiation from the object is decoded to recover spatial information so that an image of the inspected region may be constructed.

    X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis
    2.
    发明公开
    X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis 审中-公开
    Röntgenstrahl-AnalysesystemfüreineRöntgenstrahlstreuungsanalyse

    公开(公告)号:EP2778665A1

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:EP13159569.6

    申请日:2013-03-15

    申请人: Bruker AXS GmbH

    IPC分类号: G01N23/201 G21K1/02

    摘要: An X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis comprising an x-ray source for generating a beam of x-rays propagating along a transmission axis (3), at least one hybrid slit (5b) with an aperture which defines the shape of the cross section of the beam, a sample on which the beam shaped by the hybrid slit (5b) is directed, and an X-ray detector for detecting x-rays originating from the sample, wherein the hybrid slit (5b) comprises at least three hybrid slit elements (7), each hybrid slit element (7) comprising a single crystal substrate (8) bonded to a base (9) with a taper angel a≠0, the single crystal substrates (8) of the hybrid slit elements (7) limiting the aperture, is characterized in that the hybrid slit elements (7) are staggered with an offset along the transmission axis (3). The inventive X-ray analyzing system shows improved resolution and signal to noise ration.

    摘要翻译: 一种用于x射线散射分析的X射线分析系统,包括用于产生沿着透射轴(3)传播的x射线的X射线源,至少一个具有限定形状的孔的混合狭缝(5b) 所述横梁的横截面为由所述混合狭缝(5b)成形的所述梁的样品和用于检测来自所述样品的X射线的X射线检测器,其中所述混合狭缝(5b)包括在 至少三个混合狭缝元件(7),每个混合缝隙元件(7)包括一个单晶基片(8),该单晶基片(8)与锥形天使(‰)接合到基座(9)上,混合狭缝的单晶基片 限制孔径的元件(7)的特征在于,混合狭缝元件(7)沿着透射轴线(3)与偏移错开。 本发明的X射线分析系统显示出改进的分辨率和信噪比。

    Système d'imagerie pour l'imagerie d'objets a mouvement rapide
    3.
    发明公开
    Système d'imagerie pour l'imagerie d'objets a mouvement rapide 有权
    Bildgebungssystemfürdie Bildgebung von sich schnell bewegenden Objekten

    公开(公告)号:EP2551720A1

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:EP12177430.1

    申请日:2012-07-23

    摘要: Système d'imagerie destiné à l'imagerie d'objets présentant un mouvement rapide, comportant une source de rayons X (2), un écran scintillateur (5), un obturateur (6, 6', 106) et un détecteur (8) du faisceau émis par l'obturateur (6, 6', 106), une unité de traitement (9) reliée au détecteur (8), l'obturateur (6, 6', 106) étant disposé entre l'écran scintillateur (5) et le détecteur (8), et un support (29) pour l'objet à observer disposé en aval de la source de rayon X (2) et en amont de l'écran scintillateur (5), l'obturateur (6, 6', 106) étant un obturateur pilotable à des fréquences élevées, par exemple supérieures à environ 1 kHz, l'obturateur (6, 6', 106)étant fixe et la transmission du signal provenant de l'écran scintillateur vers le détecteur étant commandé par des moyens de polarisation électrique (13) contrôlés par une unité de commande (11).

    摘要翻译: 该系统具有位于闪烁体屏幕(5)和检测器(8)之间的快门(6)。 处理单元(9)连接到检测器。 支撑件(29)支撑位于X射线源下游并且位于闪烁体屏幕上游的对象。 快门被控制在高频,其中从屏幕发出的信号向检测器的传输由控制单元(11)控制的电偏振器(13)控制。 致动器致动物体以相对于固定部分移动移动部分。 检测器是电荷耦合器件或互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。 执行器是热执行器,静电执行器,磁致动器,无接触执行器或无线执行器。 还包括用于成像快速移动物体的方法的独立权利要求。