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    ACCESSORY FOR UTILIZATION WITH NON-CONTACT ELECTRICAL DETECTOR
    2.
    发明公开
    ACCESSORY FOR UTILIZATION WITH NON-CONTACT ELECTRICAL DETECTOR 审中-公开

    公开(公告)号：EP4177612A1

    公开(公告)日：2023-05-10

    申请号：EP22206097.2

    申请日：2022-11-08

    申请人： Fluke Corporation

    发明人： PAINTING, Brian D. ,  SILVA, Luis R. ,  WOO, Ginger M. ,  STEUER, Ronald

    IPC分类号： G01R1/04 ,  G01R15/16 ,  G01R31/69

    摘要： Accessories (100) are removably received by a non-contact electrical detector (200) for measuring an electrical characteristic without galvanic contact between the accessory and a non-contact sensor in the non-contact electrical detector. In some embodiments, an accessory is positioned in a gap (219) between first (214) and second extensions (216) of the non-contact electrical detector. In some embodiments, an accessory includes first and second recesses (404, 406) on opposite sides of the accessory. First and second clamp arms (314, 316) of a non-contact electrical detector are inserted within the first and second recesses to removably hold the accessory. An external conductive prong (104, 106, 108) of the accessory is electrically coupled, or is selectively electrically coupleable, with an internal conductive prong (114) of the accessory. The external conductive prong is configured to be inserted into a receptacle of an electrical outlet. In use, the accessory positions the internal conductive prong within a sensing area of the non-contact electrical sensor of the non-contact electrical detector.

    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINES AUSSENLEITERKONTAKTS
    5.
    发明公开
    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINES AUSSENLEITERKONTAKTS 审中-公开

    公开(公告)号：EP4431957A1

    公开(公告)日：2024-09-18

    申请号：EP23215193.6

    申请日：2023-12-08

    申请人： MD Elektronik GmbH

    发明人： Eben, Johannes ,  Wiebe, Rudolf ,  Harrer, Helmut ,  Kirchisner, Rupert

    IPC分类号： G01R31/18 ,  G01R31/69

    CPC分类号： G01R31/69 ,  G01R31/18 ,  H01R43/16 ,  H01R24/40

    摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zum Prüfen eines Außenleiterkontakts (2) aufweisend eine Führung (6) mit einem Vorschub zum Bereitstellen eines Trägerstreifens (4) mit Außenleiterkontakten (2) an einem Fixierbereich (7), eine Fixiervorrichtung (8) zum Fixieren eines zu prüfenden Außenleiterkontakts (2) an dem Fixierbereich (7), und einen Prüfstift (10), der zumindest teilweise in den Außenleiterkontakt (2) eingeführt werden kann und ein vorbestimmtes elektrisches Feld erzeugt, so dass elektrisch leitfähige Fremdkörper, die sich innerhalb des Außenleiterkontakts (2) befinden, einen Kurzschluss verursachen. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zum Prüfen eines Außenleiterkontakts (2).

    METHODS AND APPARATUS TO DETECT A COMPATIBLE PORT
    8.
    发明公开
    METHODS AND APPARATUS TO DETECT A COMPATIBLE PORT 审中-公开

    公开(公告)号：EP4345472A1

    公开(公告)日：2024-04-03

    申请号：EP23193693.1

    申请日：2023-08-28

    申请人： INTEL Corporation

    发明人： THITE, Yogesh ,  MULGUND, Prabhanjan

    IPC分类号： G01R31/69 ,  G06F1/16 ,  G06F1/18

    摘要： Methods, apparatus, systems, and articles of manufacture are disclosed detection circuitry including an inductor and a capacitor; and controller circuitry coupled to the detection circuitry, the controller circuitry configured to: generate a voltage pulse; supply the voltage pulse to the detection circuitry; monitor a characteristic of a detection output of the detection circuitry in response to the voltage pulse; determine a variation in the detection output based on a comparison of the characteristic of the detection output to a threshold value; and determine a type of connector in proximity to the detection circuitry based on the variation.