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公开(公告)号：JP2020091139A
公开(公告)日：2020-06-11
申请号：JP2018227120
申请日：2018-12-04
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： KAIHOTSU TATSUYA
IPC: G01N21/67
Abstract: 【課題】固体試料の形状に応じて分析結果に誤差が生じるのを防止することができる発光分析装置を提供する。【解決手段】組成情報取得処理部51が、検出器43における各波長の検出強度を検量線と比較することにより、固体試料中の成分の組成情報を取得する。規格判定処理部52が、組成情報取得処理部51により取得された組成情報に基づいて、予め設定されている複数の規格の中から該当する規格を判定する。表示処理部53が、規格判定処理部52による規格の判定を行う際に設定画面を表示させる。形状設定受付部54が、前記設定画面において、固体試料の形状の設定を受け付ける。補正処理部55が、形状設定受付部54により設定が受け付けられた固体試料の形状に応じて、検量線を補正する。【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2019095296A
公开(公告)日：2019-06-20
申请号：JP2017224874
申请日：2017-11-22
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： IWAKIRI SHOGORO , MIYAZAKI SHIKARI
IPC: G01N3/04
Abstract: 【課題】つかみ具により試験片が適正な把持力で把持されているか否かを容易に判断することが可能な材料試験機および把持力検出方法を提供する。【解決手段】制御部40は、ロードセル13による力の検出値に基づいて、試験片10とロードセル13に接続された上つかみ具21とを含む系の固有振動数を演算するためのFFT変換部41と、ロードセル13を介して接続されている。また、制御部40は、FFT変換部41により演算した固有振動数を記憶するための記憶部43と接続されている。さらに、制御部40は、試験開始前にFFT変換部41により演算した固有振動数と記憶部43に記憶した固有振動数とを比較する比較部42とも接続されている。【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2019090654A
公开(公告)日：2019-06-13
申请号：JP2017218398
申请日：2017-11-13
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： KOJIMA KOICHI , KAWABATA SHINICHIRO , TANAKA KOICHI
Abstract: 【課題】より広いm/zの範囲について精密に質量分析装置を較正する。【解決手段】較正方法は、配列番号1のアミノ酸配列を有する分子を含む試料のマススペクトルを質量分析装置により取得することと、マススペクトルにおいて、当該分子に対応するピークを選択することと、当該ピークが、上記アミノ酸配列に基づいたm/z値に対応することに基づいて質量分析装置により取得された測定データを較正することと、を備える。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019020610A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017139628
申请日：2017-07-19
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： SAKAMOTO JUNKI
IPC: G02B6/42 , G02B6/00 , G02B27/02 , H01L31/0232 , H01S5/0683
Abstract: 【課題】ファイバ結合効率の変化に対して、シングルモードファイバからの光出力を安定させることができるレーザモジュール。【解決手段】一端に入射側端部30が設けられ他端に出射側端部50が設けられたファイバ40、レーザビームを出射する1以上のレーザダイオードと、1以上のレーザダイオードから出射されるレーザビームをファイバに集光させる第2レンズ12、第2レンズを収納するとともにファイバの入射側端部と1以上のレーザダイオードを固定する筐体20a、ファイバの入射側端部と出射側端部との間に設けられファイバの曲率r2を変化させるハウジング100と、ハウジング内のファイバの曲率変化位置近傍に配置されファイバからの光を受光する受光素子を備える。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019020580A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017138518
申请日：2017-07-14
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： FUJI RISA
Abstract: 【課題】試料の空孔状態を容易に計測することができる顕微鏡データ処理装置の提供。【解決手段】顕微鏡データ処理装置としての制御・処理装置は、レーザー顕微鏡から出力される試料表面画像データに基づいて一群の試料表面高さデータを生成し取得する試料表面高さデータ取得部300と、一群の試料表面高さデータから空孔領域の試料表面高さデータを抽出する空孔データ抽出部302と、一群の試料表面高さデータのデータ数と空孔領域の試料表面高さデータのデータ数とに基づいて試料内における空孔状態を算出する空状態率演算部303と、を備える。【選択図】図2
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2019020430A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2018211033
申请日：2018-11-09
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： MASUDA SHINGO
Abstract: 【課題】試料ガスがスプリット流路から必要以上に排出されることを確実に防止できるガスクロマトグラフを提供する。【解決手段】ガスクロマトグラフ100では、制御部7は、挿入検出部71及びバルブ制御部72などとして機能する。挿入検出部71は、入口圧センサ51が検出する入口圧の上昇に基づいて、シリンジが試料気化室に挿入されるタイミングを検出する。バルブ制御部72は、そのタイミングに基づいて、スプリットバルブ41に対する印加電圧を制御する。そのため、シリンジから試料が注入される前にスプリットバルブ41の動作を制御でき、試料ガスがスプリット流路から必要以上に排出されることを確実に防止できる。【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2019020361A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017141919
申请日：2017-07-21
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： NAKANO SHIGENOBU , KOMORI YUKI , OKADA MASAYUKI
IPC: G01N30/54
Abstract: 【課題】冷却対象の温度を精度よく調整することを可能にする冷媒導入装置、及び、当該冷媒導入装置を備えたガスクロマトグラフを提供する。【解決手段】制御部33は、温度予測処理部331を含んでいる。温度予測処理部331は、記憶部32の時間差情報322及び時間差情報322に基づいて、冷媒供給部8から冷媒を供給したと仮定した場合のカラムオーブン3内の温度を予測する。そのため、冷媒供給部8から冷媒を供給した場合のカラムオーブン3内の温度を、温度予測処理部331によって精度よく予測できる。そして、その予測したカラムオーブン3内の温度が、分析動作に適した値である場合に、冷媒供給部8から冷媒を供給すれば、カラムオーブン3内の温度を適切な温度に近づけることができる。そのため、カラムオーブン3内の温度を精度よく調整することが可能になる。【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2019020313A
公开(公告)日：2019-02-07
申请号：JP2017140647
申请日：2017-07-20
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： SANO SATORU , SHIRAI TARO , TOKI TAKAHIRO , HORIBA AKIRA , MORIMOTO NAOKI
IPC: G01N23/20
Abstract: 【課題】一度に観察可能な視野が制限されるのを抑制しながら、繊維を含む材料の欠陥に関する情報を取得することが可能なX線位相イメージング装置を提供する。【解決手段】X線位相イメージング装置100は、炭素強化繊維TにX線を照射するX線源1と、X線源1から照射されたX線に基づく画像信号を検出する画像信号検出器2とを備える。また、X線位相イメージング装置100は、X線源1からX線が照射される位相格子4と、位相格子4を通過したX線が照射される吸収格子5とを含む複数の格子と、画像信号検出器2によって検出された画像信号に基づいて暗視野像を取得する画像取得部6aとを備える。さらに、X線位相イメージング装置100は、炭素強化繊維Tの暗視野像に基づいて、炭素強化繊維Tの欠陥に関する情報を取得する制御部6bを備える。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019004061A
公开(公告)日：2019-01-10
申请号：JP2017118265
申请日：2017-06-16
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： WAKABAYASHI NAOKI , IWAI NOBUYUKI
Abstract: 【課題】合波する複数のビームについてビーム間隔を縮小した後の色収差を抑制できる発光装置を提供する。【解決手段】複数の光源10と、光源10からそれぞれ出射される複数のビームLが入射する第1光学素子31、及び第1光学素子31から出射された複数のビームLが入射する第2光学素子32を有し、第1光学素子31に入射した複数のビームLのビーム間隔よりも第2光学素子32から出射される複数のビームLのビーム間隔を狭くして、複数のビームLを出射するビーム間隔縮小装置30とを備え、第1光学素子31と第2光学素子32が、ビームLが透過するときにそれぞれに生じる色収差を打ち消し合う光学特性を有する。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2019002828A
公开(公告)日：2019-01-10
申请号：JP2017118517
申请日：2017-06-16
Applicant: SHIMADZU CORP
Inventor： MIYAZAKI SHIKARI , NISHIMURA TSUKASA
IPC: G01N3/30
Abstract: 【課題】試験機の固有振動数測定のための特別な機器を追加することなく、簡易かつ正確に、試験機の固有振動数を得ることが可能な衝撃試験の評価方法および衝撃試験機を提供する。【解決手段】パーソナルコンピュータ42は、機能的構成として、固有振動の解析において、試験力の時系列データから試験機の固有振動数を求めるためのデータ区間を抽出するデータ抽出部52と、抽出されたデータ区間に対して周波数スペクトル解析を実行する解析部53と、試験機の固有振動波形を試験力データから除去する振動波形除去部54を備える。データ抽出部52、解析部53、振動波形除去部54は、それぞれデータ抽出プログラム、解析プログラム、振動波形除去プログラムとしてメモリ51に格納されている。【選択図】図2
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