公开(公告)号：JP6679569B2

公开(公告)日：2020-04-15

申请号：JP2017508510

申请日：2015-08-14

Applicant: テノヴァ・グッドフェロー・インコーポレイテッド

Inventor： ヴィットリオ・シポロ ,  ダグラス・ジェイ・ズリアーニ ,  アヴィシェク・パル ,  オヴィディウ・ネグル

IPC: G01N21/3504 ,  G01N21/03 ,  G01N21/39

公开(公告)号：JP2017527795A

公开(公告)日：2017-09-21

申请号：JP2017508510

申请日：2015-08-14

Applicant: テノヴァ・グッドフェロー・インコーポレイテッド

Inventor： ヴィットリオ・シポロ ,  ダグラス・ジェイ・ズリアーニ ,  アヴィシェク・パル ,  オヴィディウ・ネグル

IPC: G01N21/39 ,  G01N21/03 ,  G01N21/3504

CPC classification number: G01N21/03 ,  G01N21/253 ,  G01N21/39 ,  G01N33/004 ,  Y02A50/243 ,  Y02A50/244

Abstract: 炉ガス流中のH2O蒸気、CO、O2、CO2、および/またはH2を分析するためのオフガス分析器が、ガス抽出プローブに流体結合される。この分析器は、レーザに光学結合された複数の採取チャンバを有する光学測定セルを含む。分析器測定セルは、被加熱キャビネット内の抽出されたガス試料を水の凝縮点より高い温度に維持するために被加熱キャビネットの内部を加熱するように動作可能なヒータを有する、被加熱キャビネット内に収容される。分析器により、湿ったオフガス試料のガス水蒸気の分析が可能となる。

公开(公告)号：JP2020112567A

公开(公告)日：2020-07-27

申请号：JP2020046262

申请日：2020-03-17

Applicant: テノヴァ・グッドフェロー・インコーポレイテッド

Inventor： ヴィットリオ・シポロ ,  ダグラス・ジェイ・ズリアーニ ,  アヴィシェク・パル ,  オヴィディウ・ネグル

IPC: G01N21/3504 ,  G01N21/03

Abstract: 【課題】本発明は、オフガスを分析するシステムおよび方法に関し、より詳細には、オフガス煙道の近傍にて1つまたは複数のオフガス成分の光学分析を実施することにより、含塵工業オフガスまたは高濃度微粒子含有工業オフガスの化学成分を分析するためのシステムに関する。 【解決手段】炉ガス流中のH 2 O蒸気、CO、O 2 、CO 2 、および/またはH 2 を分析するためのオフガス分析器が、ガス抽出プローブに流体結合される。この分析器は、レーザに光学結合された複数の採取チャンバを有する光学測定セルを含む。分析器測定セルは、被加熱キャビネット内の抽出されたガス試料を水の凝縮点より高い温度に維持するために被加熱キャビネットの内部を加熱するように動作可能なヒータを有する、被加熱キャビネット内に収容される。分析器により、湿ったオフガス試料のガス水蒸気の分析が可能となる。 【選択図】図1A