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公开(公告)号：JP6407821B2
公开(公告)日：2018-10-17
申请号：JP2015160367
申请日：2015-08-17
Applicant: ゼロックス コーポレイション , XEROX CORPORATION
Inventor： ジン・ジョウ , ナンシー・ワイ・ジア , ウェイ・ホン , マンダキニ・カナンゴ , シン・リュー
CPC classification number: H04N17/02 , G01N21/253 , G01N21/274 , G01N21/78 , G01N21/8483 , G01N2021/7759 , G01N2201/0461 , G06K9/4652 , G06K9/6201 , G06K2009/4666 , G06T7/90
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公开(公告)号：JP2018513966A
公开(公告)日：2018-05-31
申请号：JP2017548195
申请日：2016-03-22
Applicant: イラミーナ インコーポレーテッド , イルミナ ケンブリッジ リミテッド
Inventor： スティーブン ローリングス , ベンケイツ マイソール ナーガラージャ ラオ , ベン ケオン アン , ニティン ウドパ
CPC classification number: C12Q1/6837 , B01L3/5027 , B01L7/52 , B01L9/52 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0822 , B01L2300/0877 , C12Q1/6869 , G01N21/13 , G01N21/253 , G01N21/6452 , G01N35/04 , G01N35/1095 , G01N2035/00356 , G01N2035/00752 , G01N2035/0091 , G01N2201/025 , G02B21/34
Abstract: 本発明方法はシステムステージ上に第1キャリヤ組立体を位置決めするステップを有する。キャリヤ組立体は支持フレームを備え、この支持フレームは、支持フレームの窓を画定する内方フレーム端縁を有する。第1キャリヤ組立体は、窓内に位置決めされかつ内方フレーム端縁によって包囲される第1基板を有する。第1基板はその上にサンプルを有する。本発明方法は、さらに、第1基板におけるサンプルからの光学的信号を検出するステップを有する。本発明方法はさらに、システムステージ上における第1キャリヤ組立体をシステムステージ上で第2キャリヤ組立体と交換するステップを有する。第2キャリヤ組立体は、支持フレームと、支持フレームによって保持されるアダプタプレートを含む。第2キャリヤ組立体は、アダプタプレートによって支持される第2基板を有し、この第2基板上のサンプルを有する。本発明方法は、さらに、第2基板のサンプルからの光学的信号を検出するステップを有する。【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6226965B2
公开(公告)日：2017-11-08
申请号：JP2015514520
申请日：2013-05-31
Applicant: コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ
Inventor： ヴァンサン・ポエール , ミリアム−ロール・キュビゾル , パトリック・プートー , セドリック・アリエ , ジョハンナ・スピアツェスカ
CPC classification number: G01N33/86 , G01N15/0227 , G01N15/1434 , G01N15/1436 , G01N15/1463 , G01N21/77 , G01N33/4905 , G01N33/80 , C12M1/3446 , C12Q1/04 , C12Q1/56 , G01N2015/0073 , G01N2015/0084 , G01N2015/0092 , G01N2015/0693 , G01N2015/1075 , G01N2015/144 , G01N2015/1454 , G01N2015/1486 , G01N2015/1497 , G01N2021/7769 , G01N21/253 , G01N21/6452 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/12
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公开(公告)号：JP2017527795A
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：JP2017508510
申请日：2015-08-14
Applicant: テノヴァ・グッドフェロー・インコーポレイテッド
Inventor： ヴィットリオ・シポロ , ダグラス・ジェイ・ズリアーニ , アヴィシェク・パル , オヴィディウ・ネグル
IPC: G01N21/39 , G01N21/03 , G01N21/3504
CPC classification number: G01N21/03 , G01N21/253 , G01N21/39 , G01N33/004 , Y02A50/243 , Y02A50/244
Abstract: 炉ガス流中のH2O蒸気、CO、O2、CO2、および/またはH2を分析するためのオフガス分析器が、ガス抽出プローブに流体結合される。この分析器は、レーザに光学結合された複数の採取チャンバを有する光学測定セルを含む。分析器測定セルは、被加熱キャビネット内の抽出されたガス試料を水の凝縮点より高い温度に維持するために被加熱キャビネットの内部を加熱するように動作可能なヒータを有する、被加熱キャビネット内に収容される。分析器により、湿ったオフガス試料のガス水蒸気の分析が可能となる。
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公开(公告)号：JP2017156208A
公开(公告)日：2017-09-07
申请号：JP2016039259
申请日：2016-03-01
Applicant: 株式会社SCREENホールディングス
Inventor： 小久保 正彦
CPC classification number: H04N5/2256 , C12M23/12 , C12M23/22 , C12M41/36 , G01N21/253 , G01N21/84 , G01N33/487 , G02B21/0032 , G02B21/0088 , G02B21/086 , G02B21/362 , G06K9/00134 , G02B21/36
Abstract: 【課題】メニスカスの影響を考慮した撮像光学系を用いて、メニスカスの影響がない場合でも画像品質の良好な画像を得る。 【解決手段】照明手段10は、光源111と、光源111が出射する光を撮像対象物のある試料面に入射させる照明光学系110とを有し、照明光学系110は、光軸が撮像光学系と同軸で、光源111の像C2が照明光学系110と撮像光学系との間に形成され、保持手段は、光源像C2と撮像光学系との間に試料面を配置する。 【選択図】図2
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2017151436A
公开(公告)日：2017-08-31
申请号：JP2017028745
申请日：2017-02-20
Inventor： ヨアヒム・ヴィーツォレック
CPC classification number: G01N21/6456 , C12Q1/686 , G01N21/6452 , G02B17/008 , G02B17/0605 , G02B17/0812 , H04N5/2256 , G01N2021/6463 , G01N2035/0418 , G01N21/253 , G01N2201/0245 , G01N2201/0631 , G02B27/0025
Abstract: 【課題】生体試料のための像形成光学測定装置および光学像形成方法を提供する。 【解決手段】光学測定装置が、試料平面を規定する試料保持器であって、試料平面に測定位置の並びを含む試料担体を配置するように構成された試料保持器と、試料平面を照射するように構成された照明装置2bと、検出器4と、検出器4上に測定位置の並びを含む試料平面を像形成するように構成された光学像形成系3とを備え、光学像形成系3が、2:1から1:2の間の倍率で検出器4上に試料平面を像形成するように適応された2つ以上の曲面反射素子31、32を含み、検出器4が、測定位置の並びのすべての測定位置の像を同時に撮影するように構成される。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP6141525B2
公开(公告)日：2017-06-07
申请号：JP2016520316
申请日：2014-03-05
Applicant: シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト , Siemens Aktiengesellschaft
Inventor： フローリアン ベネディクト ガイガー , マーティン ケアデル , アントン シック
IPC: G01N21/552
CPC classification number: G01N21/552 , A61B5/0075 , A61B5/0086 , G01N21/253 , G01N21/255 , G01N21/27 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , A61B2505/05 , A61B2562/146 , A61B5/4244 , A61B5/6879 , G01N2201/061 , G01N2201/0636
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公开(公告)号：JP2017029137A
公开(公告)日：2017-02-09
申请号：JP2016143077
申请日：2016-07-21
Applicant: パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド
Inventor： マンダナ・ヴェイゼー , ジェンピン・ル , ユージーン・エム・チョウ , デイヴィット・ケイ・ビーゲルセン , ラムクマール・アビヒシェーク , フェリシア・リン
CPC classification number: G01N1/10 , G01N21/253 , G01N29/02
Abstract: 【課題】物質を分析するための試験プレート、およびこのような試験プレートに関連するシステムの提供。 【解決手段】複数のウェルを有し、それぞれのウェルが、分析対象の物質を含むように構成された試験プレートと、センサが、物質の特徴を検知し、時間経過に伴って検知された特徴に基づいてセンサシグナルを作成するように並べられ、複数のセンサがそれぞれのウェルと関連するように並べられ、複数のセンサの少なくとも1つのセンサは、複数のセンサの別のセンサによって検知される特徴とは異なる物質の特徴を検知するセンサと、試験プレートに沿って配置された背面の上に並べられ、センサに接続し、選択したセンサのセンサシグナルが背面のデータ出力でアクセスする様に構成されたセンサ選択回路と、を備えるデバイス。 【選択図】なし
Abstract translation: 试验板用于分析的物质，并提供与这样的测试板相关联的系统。 具有多个孔，每个孔中，将试验板配置为包括物质进行分析，在传感器检测到材料的特性，它是随着时间的推移检测，其特征在于 布置成基于配置成使得多个传感器与每个相关联的特征来创建一个传感器信号以及，所述多个传感器，其由多个传感器中的另一个传感器检测的至少一个传感器 用于检测材料的特性不同的传感器，被布置在其上沿着试验板设置分别连接到传感器的后面，它被配置为所选择的传感器的传感器信号在后一个的数据输出端被访问 装置，包括一个传感器选择电路，被。 系统技术领域
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公开(公告)号：JP6073045B2
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：JP2011131272
申请日：2011-06-13
Inventor： ゲザ ブルクハルト , ピロウ エンゲルブレヒト , アンドレアス ギスラー , ニコラス ハスティングス , ロルフ シュネーベリ , デイビッド ロジャー テーゲルダイン
CPC classification number: G01N35/0098 , G01N33/54326 , G01N2035/00227 , G01N2035/00465 , G01N21/253
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公开(公告)号：JP5988055B2
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：JP2013536451
申请日：2012-09-28
Applicant: 国立大学法人豊橋技術科学大学
CPC classification number: G01N21/27 , G01N21/253 , G01N21/45 , G01N2021/458 , G01N2021/7779
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