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发明专利
分散されたリソースを有する試験システム审中-公开

公开(公告)号：JP2021527203A

公开(公告)日：2021-10-11

申请号：JP2020568269

申请日：2019-04-19

Applicant: テラダイン、インコーポレイテッド

Inventor： ミルカニ、モハマドレザレイ , マニング、ケビンピー. , ヤグマイ、ロヤ , ファリス、ティモシーリー , パリッシュ、フランク

IPC: G01R31/28

Abstract: 例示的な試験システムは、被試験デバイス(DUT)によるアクセスのために分散されたリソースを有する。例示的な試験システムは、試験を行うために装置に接続されるサイトを有するデバイスインタフェースボード(DIB)と、試験機器を保持するように構成されたスロットを有するテスタと、を含む。各試験機器は、DIBのある次元にわたり分散されるリソースを有する。リソースは、サイト内のデバイスがリソースに同等にアクセスできるようにするために分散される。

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