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公开(公告)号:JP2021527203A
公开(公告)日:2021-10-11
申请号:JP2020568269
申请日:2019-04-19
Applicant: テラダイン、 インコーポレイテッド
Inventor: ミルカニ、 モハマドレザ レイ , マニング、 ケビン ピー. , ヤグマイ、 ロヤ , ファリス、 ティモシー リー , パリッシュ、 フランク
IPC: G01R31/28
Abstract: 例示的な試験システムは、被試験デバイス(DUT)によるアクセスのために分散されたリソースを有する。例示的な試験システムは、試験を行うために装置に接続されるサイトを有するデバイスインタフェースボード(DIB)と、試験機器を保持するように構成されたスロットを有するテスタと、を含む。各試験機器は、DIBのある次元にわたり分散されるリソースを有する。リソースは、サイト内のデバイスがリソースに同等にアクセスできるようにするために分散される。