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发明专利
デジタル回路試験及び分析モジュール、システム及びそれの方法审中-公开

公开(公告)号：JP2021534427A

公开(公告)日：2021-12-09

申请号：JP2021531182

申请日：2019-08-05

申请人： ヌマスカルエイエス

发明人： パルフェール − ソリエール、ティボー , ルスタッド、エイナル , ペルスボルド、ステッフェン

IPC分类号： H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/28

摘要： 本発明は、メモリ(22)を備えるデジタル回路試験及び分析モジュール・システムに関する。メモリ(22)は、デジタル信号のグループによって定義された数値によってアドレス指定される。特定の数値に関連付けられたそれぞれのメモリ・ロケーションはデジタル信号のグループのステータスを示す。ステータスは、たとえば、回路を試験するときの信号のグループ中の信号の妥当性を反映することができる。