公开(公告)号：JP2017120200A

公开(公告)日：2017-07-06

申请号：JP2015256210

申请日：2015-12-28

Applicant: 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  日亜化学工業株式会社

Inventor： 神門 賢二 ,  中澤 由莉 ,  丹羽 一樹 ,  山路 芳紀 ,  松岡 真也

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/32 ,  G01J1/08 ,  G01J3/10

Abstract: 【課題】発光ダイオード等を用いた照明器具の全光束を精度良く測定できる分光放射測定装置を提供する。 【解決手段】入射スリット21sと、入射スリットからの入射光の波長に応じて出射角を変化させる分散手段22と、分散された光のうち特定の波長帯域の光を出射させる出射スリット23sとを備えた分光器20と、被測定光源から出射された光を、拡散光にして入射スリットに照射する光導入手段10と、分光分布測定の基準とする標準光源1とを備え、標準光源は、発光ダイオードと発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含み、標準光源の分光分布Ps(λ)と、該分光分布Ps(λ)の2次微分係数Ps”(λ)と、入射スリットの幅と分散手段の分散特性と出射スリットの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ(nm)とが、380nm〜780nmの波長範囲において、Δλ 2 ×(Ps”(λ)/Ps(λ)) 【選択図】図1

公开(公告)号：JP6967835B2

公开(公告)日：2021-11-17

申请号：JP2015256210

申请日：2015-12-28

Applicant: 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  日亜化学工業株式会社

Inventor： 神門 賢二 ,  中澤 由莉 ,  丹羽 一樹 ,  山路 芳紀 ,  松岡 真也

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/32 ,  G01J1/08 ,  G01J3/10