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公开(公告)号：JP2020112666A
公开(公告)日：2020-07-27
申请号：JP2019002856
申请日：2019-01-10
Applicant: 日本電信電話株式会社
IPC: G02F1/313
Abstract: 【課題】スイッチエレメントの間の間隔を狭くして小型化しつつ、クロストークを低減した光信号処理装置を提供する。 【解決手段】複数の入力光導波路と、複数の出力光導波路と、複数の入力光導波路と複数の出力光導波路との間に配列された複数の光導波路素子と、接続光導波路とを備えた光信号処理装置であって、光導波路素子と近接する接続光導波路の伝搬定数が、当該近接する前記光導波路素子を構成する光導波路の伝搬定数と異なる。光導波路素子と近接する接続光導波路は、一端または両端が光導波路素子と接続されている接続光導波路または両端が光導波路素子と接続されていない接続光導波路である。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2020106608A
公开(公告)日：2020-07-09
申请号：JP2018243258
申请日：2018-12-26
Applicant: 日本電信電話株式会社
IPC: G02F1/01
Abstract: 【課題】シリカPLCのアンダークラッドに熱酸化シリカ膜を使用しつつ、アンダークラッドの厚みを厚くし、かつ製造時に成膜時間を短くすることが可能な光信号処理装置を実現する。 【解決手段】シリコン基板上に形成された光導波路を含む平面光回路として形成され、熱光学効果を用いた位相変調素子を有する光信号処理装置であって、光導波路のコアとシリコン基板の間に複数のシリカ膜を有しており、前記複数のシリカ膜のうち少なくとも一つが熱酸化により形成されていることを特徴とする光信号処理装置とした。 【選択図】図4
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公开(公告)号：JP2018194802A
公开(公告)日：2018-12-06
申请号：JP2017101222
申请日：2017-05-22
Applicant: 日本電信電話株式会社
Abstract: 【課題】ハイパワーな光に耐性があり、かつ熱耐性がある光モジュール及びその製造方法を提供する。 【解決手段】光ファイバ101と、平面光波回路102と、前記光ファイバ101が挿入・固定されたファイバブロック103と、前記ファイバブロック103と前記平面光波回路102とを接着・固定するUV硬化樹脂接着剤層104と、前記ファイバブロック103と前記平面光波回路102とを接着・固定するガラス層105とを備えた光モジュール100であって、前記UV硬化樹脂接着剤層104は、前記ファイバブロック103と前記平面光波回路102との接続端面間において、前記光ファイバ101と前記平面光波回路102との間で入力又は出力される光が通過しない部分に設けられ、前記ガラス層105は、前記接続端面間において前記光ファイバ101と前記平面光波回路102との間で入力又は出力される光が通過する部分に設けられることを特徴とする。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2020008647A
公开(公告)日：2020-01-16
申请号：JP2018127753
申请日：2018-07-04
Applicant: 日本電信電話株式会社
IPC: G02F1/01
Abstract: 【課題】光導波路を用いて実現される光スイッチや光フィルタ等の光信号処理装置における電気配線を削減する。 【解決手段】基板上に形成された光導波路を有する光信号処理装置であって、前記光導波路は少なくとも一つの入力ポートと、少なくとも一つの出力ポートを有し、前記入力ポートから入力された光信号に対して位相シフトを加える位相シフタを含む被駆動エレメントを複数有し、各前記被駆動エレメントは少なくとも二つの制御端子を有し、前記二つの制御端子間に時分割同期した制御信号を印加する制御配線を有し、前記被駆動エレメントへアクセスする前記制御配線が複数の被駆動エレメントで共有される光信号処理装置とした。 【選択図】図2
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2017187398A
公开(公告)日：2017-10-12
申请号：JP2016076754
申请日：2016-04-06
Applicant: 日本電信電話株式会社
IPC: G01R15/24 , G01R31/302 , G01R29/12
Abstract: 【課題】測定環境温度の変動の影響を解決し、素子サイズを小さくしつつ電界検出の高感度化を実現することができる電界強度測定器を提供すること。 【解決手段】所定の波長の光を出力する光源と、測定対象の電界中に設けられ、前記光源から出力された光を導波するマッハツェンダー干渉計と、前記マッハツェンダー干渉計を伝搬した光の強度を測定することによって、前記測定対象の電界強度を検出する検出部とを備えた電界強度測定器であって、前記マッハツェンダー干渉計は、電気光学結晶を用いて構成された互いに長さが等しい2本のアーム導波路を有し、該2本のアーム導波路は異なる結晶方位方向に光を導波することを特徴とする電界強度測定器である。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2017156287A
公开(公告)日：2017-09-07
申请号：JP2016041588
申请日：2016-03-03
Applicant: 日本電信電話株式会社
Abstract: 【課題】測定時の温度が変化しても安定した測定を高精度に行うことができる電界検出装置を提供すること。 【解決手段】電界強度測定方法であって、波長設定システムにより、波長可変光源からの光の波長を変えながら、被測定デバイスの出力の光強度の極小点を判定するステップと、光強度が極小点と判定された場合に、当該極小点のときの前記波長から予め所定量シフトされた波長の光により前記被測定デバイスに与えられる電界強度を測定するステップとを含む。 【選択図】図11
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公开(公告)号：JP2019159016A
公开(公告)日：2019-09-19
申请号：JP2018043175
申请日：2018-03-09
Applicant: 日本電信電話株式会社
Abstract: 【課題】ウエハあたりで作製可能なチップ数を増加させるとともに、チップ内で発生した不具合の影響範囲を小さくしつつ、大規模な光入出力装置を実現する。 【解決手段】多入力多出力の光入出力装置であって、複数の基本スイッチと、各基本スイッチを組み合わせて接続するための光素子のアレイを含んで構成され、前記アレイと前記基本スイッチが異なるチップとして構成され、前記アレイと前記基本スイッチがチップの外部で光接続されることを特徴とする光入出力装置とした。 【選択図】図4
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