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公开(公告)号：JP2019121409A
公开(公告)日：2019-07-22
申请号：JP2018001065
申请日：2018-01-09
申请人： 東芝情報システム株式会社
摘要： 【課題】コントローラや記憶装置本体を含めた経路の不具合を検出する。 【解決手段】記憶装置本体10、半導体記憶装置100に接続されるホスト装置200、コントローラ30、データ設定回路63のいずれかを第1のデータ源として第1の検査用メモリ61に検査用データの書き込みを行わせる制御を行うと共に、前記記憶装置本体10、前記ホスト装置200、前記コントローラ30、前記データ設定回路63のいずれかを第2のデータ源として第2の検査用メモリ62に検査用データの書き込みを行わせる制御を行ってテスト準備を整わせるテスト回路42と、前記第1の検査用メモリ61に書き込まれた検査用データと、前記第2の検査用メモリ62に書き込まれた検査用データとを比較し、一致不一致を検出する比較回路64とを具備する。 【選択図】図3
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