公开(公告)号：JP2015152574A

公开(公告)日：2015-08-24

申请号：JP2014029742

申请日：2014-02-19

Applicant: 株式会社豊田中央研究所 ,  株式会社デンソー

Inventor： 松原 弘幸 ,  森川 勝博

IPC: G01S17/93 ,  G01C3/06 ,  G01S7/481

Abstract: 【課題】照射光の総光量を減らしつつ、物体を感度良く検出することができる。 【解決手段】物体検出装置12は、不均一な照射光分布の照射光を照射する光照射部16と、照射光が照射された物体からの反射光を受光する受光領域を、大きさの異なる複数の単位受光領域で照射光分布に応じて分割して反射光を受光する受光部18と、受光部18からの出力信号に基づいて物体を検出する検出部と、を備える。 【選択図】図2

Abstract translation: 要解决的问题：在减少照射光的总光量的同时，检测高灵敏度的物体。解决方案：物体检测装置12包括：光照射部分16，用于用具有不均匀照射光分布的照射光照射物体 ; 光接收部分18，其将用于将从照射光照射的物体的反射光接收的光接收区域根据照射光分布分成具有不同尺寸的多个单位光接收区域以接收反射光; 以及检测部件，用于根据来自光接收部件18的输出信号来检测物体。

公开(公告)号：JP6291280B2

公开(公告)日：2018-03-14

申请号：JP2014029742

申请日：2014-02-19

Applicant: 株式会社豊田中央研究所 ,  株式会社デンソー

Inventor： 松原 弘幸 ,  森川 勝博

IPC: G01S17/93 ,  G01S7/481