コンパクトスペクトロメータ
    4.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2019500612A

    公开(公告)日:2019-01-10

    申请号:JP2018533674

    申请日:2016-12-22

    Abstract: コンパクトスペクトロメータ(分光計)は励起光を生成し、サンプル上のスポットを照射するように構成された励起光源を含む。分散素子は、少なくとも一つの可動要素を含み、複数の異なる波長帯域の励起光に応答してサンプルから照射された出力光を空間的に分離する。分散素子の可動要素は、出力光を複数の異なる波長帯域が検出器を横切って操作されるようにする。検出器は、出力光の波長帯域を検出し、検出された出力光に応答して出力電気信号を生成する少なくとも一つの光センサを含む。

    分光解析装置、分光解析方法、及び可読媒体

    公开(公告)号:JPWO2016157270A1

    公开(公告)日:2018-01-25

    申请号:JP2017508806

    申请日:2015-12-14

    Inventor: 麻生川 稔

    CPC classification number: C12M1/00 G01J3/443 G01N21/64

    Abstract: 適切に試料を解析することができる分光解析装置、分光解析方法、及びプログラムを提供する。本発明の実施の形態にかかる分光解析装置は、複数の標識物質で標識された複数の物質を含む試料に照射する光を発生する光源(13)と、試料に照射された光によって、試料が発生した観測光を分光する分光器(14)と、分光器(14)で分光された観測光を検出して、観測スペクトルデータを出力する検出器(15)と、検出器(15)から出力された観測スペクトルデータに基づいて、試料中に含まれる複数の物質を解析する処理部(16)であって、複数の標識物質に対して設定された基準スペクトルデータとノイズ成分のデータを要素とする行列の一般化逆行列を用いて、試料に含まれる物質を解析する処理部(16)と、を備えたものである。

    分光測定装置および分光測定方法

    公开(公告)号:JPWO2016088568A1

    公开(公告)日:2017-09-07

    申请号:JP2016562380

    申请日:2015-11-19

    CPC classification number: G01J3/36 G01N21/64 G01N2021/6421

    Abstract: 分光測定装置1は、光源10、積分器20、第1分光検出器41、第2分光検出器42および解析部50を備える。積分器20は、測定対象物が配置される内部空間21と、光を内部空間21に入力する光入力部22と、内部空間21から光を出力する光出力部23と、測定対象物を取り付ける試料取付部24と、を有する。第1分光検出器41は、積分器20から出力された光を受光して、その光のうち第1波長域の光を分光して第1スペクトルデータを取得する。第2分光検出器42は、積分器20から出力された光を受光して、その光のうち第2波長域の光を分光して第2スペクトルデータを取得する。第1波長域と第2波長域とは一部重複する波長域を含む。これにより、より広い波長域の被測定光を分光測定することができる分光測定装置および分光測定方法が実現される。

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