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    検査装置及び検査方法
    1.
    发明专利
    検査装置及び検査方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021196189A

    公开(公告)日：2021-12-27

    申请号：JP2020100649

    申请日：2020-06-10

    Applicant: キヤノン株式会社

    Inventor： 加藤 成樹

    IPC: G01N21/95 ,  G01N21/88

    Abstract: 【課題】照明の切り替えに伴う負担を軽減して物体の表面を検査する。 【解決手段】物体の表面を検査する検査装置において、明暗パターンを物体の表面に照射する照明部と、照明部により明暗パターンが照明された物体の表面を撮像する撮像部と、撮像部により撮像された画像を処理することにより物体の表面の評価を行う処理部と、を有し、回転中の物体に対して、物体が1回転する間に照明部により明暗パターンの位相をずらしながら照明して、撮像部により撮像することを、複数周回分、繰り返すことにより、物体の複数の画像を取得し、処理部は、複数の画像に基づいて物体の表面における画像を評価する。 【選択図】図1

    画像検査装置、表示方法及びプログラム
    2.
    发明专利
    画像検査装置、表示方法及びプログラム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021189139A

    公开(公告)日：2021-12-13

    申请号：JP2020097873

    申请日：2020-06-04

    Applicant: 株式会社リコー

    Inventor： 高山 広

    IPC: G06T7/00 ,  G01N21/88

    Abstract: 【課題】画像不良の検知に係る閾値を適切に変更できるようにすること。 【解決手段】画像検査装置は、判断部と、生成部とを備える。前記判断部は、記録媒体上に画像形成出力された原稿画像を読み取ることにより生成されたスキャン画像データと、前記原稿画像の元となる画像データである原稿画像データに対応する見本画像データとの比較結果に基づいて、前記スキャン画像データが示す画像における印刷異常の有無を判断する。前記生成部は、前記判断部により前記スキャン画像データが示す画像に印刷異常があると判断された場合に、該印刷異常が画像上の前記スキャン画像データが示す画像における該印刷異常の位置とは異なる位置に付加された疑似欠陥画像を示す表示画像データを生成する。 【選択図】図3

    検査装置および検査方法
    3.
    发明专利
    検査装置および検査方法 有权

    公开(公告)号：JP2021189053A

    公开(公告)日：2021-12-13

    申请号：JP2020095171

    申请日：2020-06-01

    Applicant: 住友金属鉱山株式会社

    Inventor： 三澤 宏 ,  村上 慎一

    IPC: B07B1/46 ,  G01N21/88

    Abstract: 【課題】網目構造の目詰まり等を適切に検査できる技術を提供する。 【解決手段】網目構造を有する板状の物体を鉛直方向に直立した状態で保持する保持部と、網目構造を撮像する撮像部と、物体と撮像部との相対位置を移動させる移動機構と、撮像部が撮像した画像を解析して網目構造の状態を判定する処理部と、を有する検査装置。 【選択図】図1

    ひび割れ状況分析支援プログラム、ひび割れ状況分析支援方法および分析支援装置
    4.
    发明专利
    ひび割れ状況分析支援プログラム、ひび割れ状況分析支援方法および分析支援装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021181906A

    公开(公告)日：2021-11-25

    申请号：JP2020086818

    申请日：2020-05-18

    Applicant: 富士通株式会社

    Inventor： 及川 浩一 ,  中尾 学 ,  長谷川 英司

    IPC: G06T7/00 ,  G01N21/88

    Abstract: 【課題】未熟練者に対して注目すべき領域を表示することができる。 【解決手段】分析支援装置は、対象物が撮像された画像を基にして、対象物の表面上のひびの発生している部分を検出する。分析支援装置は、ひびの発生している部分の検出結果を画像に重畳した重畳画像10を表示する。分析支援装置は、重畳画像に対する領域10aの指定をユーザから受け付ける。分析支援装置は、ひびの特徴量に関する度数分布H1,H2を生成する際に、領域のひびの特徴量に対応する度数に、ユーザの熟練度に応じた度数を加算する。分析支援装置は、度数分布を基にして、重畳画像の一部の領域を表示する。 【選択図】図1

    外観検査システム
    5.
    发明专利
    外観検査システム 有权

    公开(公告)号：JP2021181889A

    公开(公告)日：2021-11-25

    申请号：JP2020086523

    申请日：2020-05-18

    Applicant: 本田技研工業株式会社

    Inventor： 橋本 款音 ,  伊藤 大輔

    IPC: G01N21/88

    Abstract: 【課題】外観検査システムによって得られる検査結果の信頼性を向上させる。 【解決手段】外観検査システム30は、光を照射する照明装置110a〜110qと、検査対象物を保持する保持具(76)とを備える。保持具の、照明装置110a〜110qが発した光が照射される部位(被照射部位)には、受光装置134が設けられる。受光装置134による照度の測定値が予め設定された基準値以下であるとき、外観検査システム30の判定部(114)は、「検査条件不成立」と判定する。受光装置134に代替し、グレースケールチャート94を設けるようにしてもよい。 【選択図】図6

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