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    투명 소재에서 결함을 탐지하기 위한 방법 및 장치
    1.
    发明授权
    투명 소재에서 결함을 탐지하기 위한 방법 및 장치 失效
    用于检测透明材料中的故障的方法和装置

    公开(公告)号：KR101136804B1

    公开(公告)日：2012-04-19

    申请号：KR1020040021511

    申请日：2004-03-30

    申请人： 쇼오트 아게 ,  이에스에르아 비지온 라소르 게엠베하

    发明人： 게르스트너클라우스 ,  오테르만클레멘스 ,  짐메르만토마스 ,  드로스테죠세프

    IPC分类号： G01N21/88

    CPC分类号： G01N21/896 ,  G01N2021/1772 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8962

    摘要： 투명 소재 내에서 결함을 탐지하기 위한 방법은 첫 번째 방사원을 이용하여 소재 내에서 한정된 부분 공간을 조사하는 것(irradiating)과 두 번째 광원으로부터 소재 내부로 빛을 커플링을 시키는 것을 포함한다. 상기 빛은 부분 공간 내에서 광학적 경로가 소재의 내부로 연장이 되도록 두 번째 광원으로부터 소재 내부로 커플링이 된다. 부분 공간 내에 있는 결함의 존재는 결함에 의한 첫 번째 광원의 빛의 산란, 밝은 영역 흡수 및/또는 빛의 굴절에 의하여 확인된다. 소재 내에서 결함을 탐지하기 위한 장치는 한정된 부분 공간을 조사하기(illuminating)하기 위한 첫 번째 방사원, 상기 부분 공간으로부터 전달되는 빛을 탐지하기 위한 탐지 장치 및 두 번째 방사원을 포함한다. 상기 두 번째 방사원은 부분 공간 내에서 관련된 광학적 경로가 소재 내부에서 배타적으로 통과하도록 소재과 관련하여 정렬된다.
    한정된 부분 공간,방사원,결함,광학적 경로,밝은 영역 흡수, 플로트 유리

    투명 소재에서 결함을 탐지하기 위한 방법 및 장치
    6.
    发明公开
    투명 소재에서 결함을 탐지하기 위한 방법 및 장치 失效
    通过照射和联结灯检查透明材料缺陷的方法和装置

    公开(公告)号：KR1020040086764A

    公开(公告)日：2004-10-12

    申请号：KR1020040021511

    申请日：2004-03-30

    申请人： 쇼오트 아게 ,  이에스에르아 비지온 라소르 게엠베하

    发明人： 게르스트너클라우스 ,  오테르만클레멘스 ,  짐메르만토마스 ,  드로스테죠세프

    IPC分类号： G01N21/88

    CPC分类号： G01N21/896 ,  G01N2021/1772 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8962

    摘要： PURPOSE: A method and a device for inspecting a defect of a transparent material are provided to refer only the signals from a certain partial volume of a transparent material in defect inspection and defect size decision. CONSTITUTION: A method for inspecting a defect of a transparent material comprises the steps of irradiating a definite partial volume(2) of a transparent material using a first radiation source, coupling the lights of a second radiation source(5) into the transparent material to exclusively extend an optical path in the definite partial volume of the transparent material, and inspecting the refraction of the light scattered from a defect and the light of the first radiation source due to the absorption of bright area and/or the defect in the definite partial volume.

    摘要翻译： 目的：提供一种用于检查透明材料缺陷的方法和装置，以仅在缺陷检查和缺陷尺寸决定中仅提及来自透明材料的某部分体积的信号。 构成：用于检查透明材料的缺陷的方法包括以下步骤：使用第一辐射源照射透明材料的确定部分体积（2），将第二辐射源（5）的光耦合到透明材料中至 专门在透明材料的一定部分体积中延伸光路，并且检查由于明亮区域的吸收和/或明确部分的缺陷而导致的从缺陷散射的光的折射和第一辐射源的光的折射 卷。