公开(公告)号：KR20180072679A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：KR20187010024

申请日：2016-06-16

Applicant: EP MINERALS LLC

Inventor： LENZ PETER E ,  PALM SCOTT K ,  NYAMEKYE GEORGE A ,  HUMPHREYS BRADLEY S ,  WANG QUN

IPC: B01J20/14 ,  G01N23/207

CPC classification number: B01J20/14 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/605 ,  G01N2223/616

Abstract: 본발명은물리적성분(6) 및실리카문서(8)를포함하는제품(4) 및이러한제품(4)을제조하기위한방법을개시한다. 일부구현예에서, 물리적성분(6)은분말이거나입자형태일수 있다. 물리적성분(6)은규조암을포함한다. 제품(4) 내에서, 물리적성분(6)의결정질실리카함량은단백석 C와크리스토발석을구별하는방법에따라측정될때보다는전통적인방법들에따라측정될때 중량이더 크다. 실리카문서(8)는단백석 C와크리스토발석사이를구별하는방법에따라측정될때 상기물리적성분(6) 내존재하는결정질실리카의함량을개시한다. 제품(4)을제조하기위한방법은 LH 방법을이용하여결정질실리카함량에대한상기물리적성분(6)을분석하여크리스토발석함량을결정하는단계및 LH 방법의결과를바탕으로실리카문서(8)를작성하는단계를포함할수 있다.

公开(公告)号：KR101826132B1

公开(公告)日：2018-03-22

申请号：KR1020160144505

申请日：2016-11-01

Applicant: 한국지질자원연구원

Inventor： 이현석 ,  양일호

IPC: G01N23/207 ,  E21B49/08 ,  G01N33/24

CPC classification number: E21B49/08 ,  G01N23/207 ,  G01N33/24

Abstract: 본발명은광물별물리검층자료해석결과와캐니스터(canister) 가스체적측정값과의상관관계를도출하여상관성이높은주요광물을선택하고, 선택된주요광물의함량을도출한후, 도출된주요광물의함량과광물과캐니스터가스체적측정값과의상관관계를이용하여셰일가스층의탈착가스량을예측할수 있도록하는물리검층자료해석을통한셰일가스층의탈착가스량예측장치및 그방법에관한것이다. 상기셰일가스층의탈착가스량예측장치는. 시추공에서채취된셰일시료에대한열분석에의해광물및 유기물함량을분석하는광물및 유기물함량분석부; 채취된셰일시료를밀봉한캐니스터내부의가스를이용하여가스함량을측정하는캐니스터가스체적측정부: 상기광물들과가스함량의상관관계를분석하여상관관계가높은광물을주요흡착광물로추출하는상관관계분석부; 상기추출된주요흡착광물의함량을도출하는주요흡착광물함량도출부; 및도출된상기주요흡착광물함량과상기상관관계를이용하여셰일가스저류층에흡착된가스함량을예측하는탈착가스량예측부;를포함하여구성된다.

Abstract translation: 的则本发明推导出特定矿物质的地球物理测井数据解释结果，并通过选择高度相关和选定的主要矿物主要矿物，导出密钥矿物质导出气体体积测量之间的关系的罐（罐）的含量 它通过使用允许预测页岩气层预测装置和方法的气体脱附的量的气体体积测量之间的关系涉及通过地球物理测井数据解释罐和气体的页岩气层的解吸的矿物质含量。 以及页岩气层的解吸气量预测装置。 矿物和有机质含量分析单元，用于从钻孔取样的页岩样品的热分析分析矿物和有机物含量; 为通过使用气体的罐内部的密封所收集的页岩样品罐的气体体积测量单元测量的气体含量：任何分析矿物和通过提取矿物的气体含量之间的相关性的是相关高达主要吸收矿物 关系分析部门; 主要吸附矿物含量导出单元，用于导出提取的主要吸附矿物的含量; 以及解吸气体量预测单元，用于使用导出的主吸附矿物质含量和相关性来预测页岩气储层中吸附的气体含量。

公开(公告)号：KR20180016968A

公开(公告)日：2018-02-20

申请号：KR20177015182

申请日：2015-11-30

Applicant: SINTOKOGIO LTD

Inventor： KOBAYASHI YUJI ,  MATSUI AKINORI

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20008

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 본발명의잔류응력측정장치는, 측정대상물(S)에 X선을조사하는 X선발생원(10)과, 상기측정대상물의회절 X선의강도를제1 검출위치에서검출하는제1 검출소자(11A)와, 상기측정대상물의회절 X선의강도를상기제1 검출위치와는다른제2 검출위치에서검출하는제2 검출소자(11B)와, X선의입사방향과직교하는방향으로연장되는직선을따라서상기제1 검출소자및 상기제2 검출소자를각각이동시키는이동기구(120)와, 상기이동기구를구동시켜상기제1 검출소자및 상기제2 검출소자의각각의검출위치를제어하는이동제어부(21)와, 상기이동기구에의해상기제1 검출소자및 상기제2 검출소자가각각이동하는것에의해서각각검출된회절 X선의강도피크에기초하여, 상기측정대상물의잔류응력을산출하는응력산출부(22)를구비한다. 본발명에의하면, 잔류응력의측정시간의단축을도모할수 있다.

Abstract translation: 一种装置包括：X射线发生源，适于朝向测量对象发射X射线; 第一检测元件，适于检测在第一检测位置处的测量对象的衍射X射线的强度; 第二检测元件，其适于在不同于第一检测位置的第二检测位置处检测测量对象的衍射X射线的强度; 移动机构，其适于沿着在与X射线的入射方向正交的方向上延伸的直线移动第一检测元件和第二检测元件中的每一个; 移动控制单元，其适于通过驱动所述移动机构来控制所述第一检测元件和所述第二检测元件的各个检测位置; 以及应力计算单元，用于基于分别由所述移动机构移动的所述第一检测元件和所述第二检测元件检测到的所述衍射X射线的强度峰值来计算所述测量对象的残余应力。

公开(公告)号：KR101812736B1

公开(公告)日：2017-12-27

申请号：KR1020157010296

申请日：2013-03-13

Applicant: 식스포인트 머터리얼즈 인코퍼레이티드 ,  서울반도체 주식회사

Inventor： 하시모토타다오

IPC: H01L29/20 ,  C30B7/10 ,  C30B29/40 ,  C30B33/00 ,  C30B33/06 ,  H01L21/66 ,  H01L21/78

CPC classification number: G01N23/207 ,  B24B37/044 ,  C01B21/0632 ,  C01P2002/74 ,  C30B7/105 ,  C30B29/403 ,  C30B29/406 ,  C30B33/00 ,  C30B33/06 ,  H01L21/0201 ,  H01L21/30625 ,  H01L21/78 ,  H01L22/12 ,  H01L29/045 ,  H01L29/2003 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 한예에서, 본발명은표면손상층을제거하기위해서폴리싱되고엑스선회절로시험된 III 족질화물잉곳으로부터슬라이스된 III 족질화물웨이퍼를제공한다. 엑스선입사빔은 15도미만의각도로조사되고, 회절피크강도가평가된다. 이시험을통과한 III 족질화물웨이퍼는장치제작을위한충분한표면품질을가진다. 또한, 한예에서본 발명은 III 족질화물잉곳을슬라이싱하는단계, 웨이퍼의적어도하나의표면을폴리싱하는단계, 및표면에대해 15도미만의입사빔 각도를가진엑스선회절로표면품질을시험하는단계에의한 III 족질화물웨이퍼를제조하는방법을제공한다. 또한, 한예에서본 발명은표면에대해 15도미만의입사빔 각도를가진엑스선회절을사용하여 III 족질화물웨이퍼의표면품질을시험하는시험방법을제공한다.

Abstract translation: 在一个实例中，本发明提供了一种III族氮化物晶片，其由用X射线衍射进行抛光和测试的III族氮化物晶锭切片以去除表面损伤层。 x射线入射束以仅15度的角度照射，并评估衍射峰强度。 已通过该测试的III族氮化物晶片具有用于器件制造的足够表面质量。 另外，在本发明中汉业是只有15鲷的一个步骤的入射光束角检测在X射线衍射的表面质量的步骤，以及用于抛光步骤中的至少一个表面上的表面，晶片切片III族氮化物晶锭 提供了一种制造III族氮化物晶片的方法。 另外，在一个实施例中，本发明提供了一种使用x射线衍射来测试III族氮化物晶片的表面质量的测试方法，其中入射束角仅为表面15度。

公开(公告)号：KR101793395B1

公开(公告)日：2017-11-02

申请号：KR1020167010418

申请日：2013-10-25

Applicant: 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤

Inventor： 나카자와마코토 ,  후지무라하지메 ,  아오야마쇼헤이 ,  사노고이치로 ,  오모다카마사아키 ,  하시모토시게루

IPC: G01N23/207 ,  G02B27/30

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/624 ,  G01N2223/633 ,  G01N2223/643

Abstract: 이합금화용융아연도금강판의온라인도금밀착성판정장치는, 반송라인상을주행하는합금화용융아연도금강판을향해 X선을조사하는 X선관구와 ; X선관구로부터발생된 X선을평행빔으로서합금화용융아연도금강판에조사·회절시키는광학계와 ; 회절된 X선의강도를측정하는것이며, 결정격자면간격 d가 1.5Å이상에상당하는회절 X선을검출하는위치에설치된검출기를구비하여이루어지고, X선의출사빔 휘도가 20W/㎟이상으로되고, 광학계에있어서의 X선의폭 방향이득이 0.15 이상으로되어있다. 결정격자면간격 d는, 1.914Å이어도된다. 또한, X선관구로부터의입사 X선의에너지가, Fe-Kα의형광 X선여기에너지보다작아도된다.

Abstract translation: 用于双重压力热浸镀锌钢板的在线电镀附着力测定装置包括：X射线管，用于朝向在输送线上行进的合金化热浸镀锌钢板照射X射线; 一种光学系统，用于将从X射线管产生的X射线作为平行光束照射和衍射到合金化热镀锌钢板中; 并且，检测器设置在用于检测晶格面间隔d为1.5以上的衍射X射线的位置处，其中，X射线发射光束亮度为20W / mm 2以上 并且光学系统中X射线在宽度方向上的增益为0.15或更大。 晶格面间距d可以是1.914 ?. 此外，来自X射线管的入射X射线的能量可以小于Fe-Kα的荧光X射线激发能量。

公开(公告)号：KR1020160069568A

公开(公告)日：2016-06-17

申请号：KR1020140174855

申请日：2014-12-08

Applicant: 주식회사 포스코

Inventor： 지윤경 ,  정병준

IPC: G01N33/24 ,  G01N1/28 ,  G01N21/27 ,  G01N23/04

CPC classification number: G01N33/24 ,  G01N1/28 ,  G01N21/27 ,  G01N23/04 ,  G01N23/207

Abstract: 본발명에의한소결광조직정량화방법은, 비파괴검사를이용하여소결광내부의기공분율을측정하는제1단계; 소결광을절단하여시편을제작하는제2단계; 및시편을화상해석하는제3단계; 를포함한다.

Abstract translation: 根据本发明，烧结矿结构定量方法包括：通过非破坏性试验测量烧结矿内的孔隙率的第一步骤; 通过切割烧结矿制造试样的第二步骤; 以及对样本进行图像分析的第三步骤。 烧结矿结构定量方法可以防止烧结矿内的孔隙和渣的错误测量。

公开(公告)号：KR101613884B1

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：KR1020150012703

申请日：2015-01-27

Applicant: 기초과학연구원 ,  광주과학기술원

Inventor： 이경환 ,  김형택 ,  남창희

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/207 ,  G01N23/20025 ,  G01N2223/42

Abstract: 본발명은위상조절을통한엑스선회절현미경장치및 엑스선회절방법을공개한다. 이장치는결맞는(coherent) 엑스선광을발생시키는광원부; 상기엑스선광을인가받아소정의공간주파수를가지는파형으로회절시키는샘플부; 상기엑스선광을전달받아위상을변화시켜광의진행방향을광축의외각으로분산시키는위상조절부; 상기분산된광을전달받아검출하는검출부; 및상기검출된광을전달받아위상복구알고리즘에의해상기샘플의이미지를복원및 확대하여디스플레이하는복원부;를구비하는것을특징으로한다. 본발명에의할경우, 세기가약한엑스선광원을이용하더라도엑스선회절현미경장치가가지는노이즈, 디텍터의성능에따라제한되는결맞는엑스선회절현미경의공간분해능을증가시킬수 있고, 광원의약한세기를극복하기위하여장 시간의노출을하는경우샘플의열적변형으로발생가능한원치않는상의왜곡을방지할수 있게된다.

Abstract translation: 公开了X射线衍射显微镜装置和通过相位控制的X射线衍射方法。 通过相位控制的X射线衍射显微镜装置包括：产生相干X射线光的光源单元; 用于接收X射线光以将X射线光衍射成具有规定空间频率的波形的采样单元; 相位调整单元，用于接收X射线光以改变X射线光的相位，以将光的传播方向分散到光轴的外部角度; 检测单元，用于接收分散的光以检测分散的光; 以及恢复单元，用于接收检测到的光，以通过恢复算法恢复和放大样本的图像，以显示恢复的图像。 根据本发明，即使使用低强度X射线光源，由X射线衍射显微镜装置的噪声检测器的性能限制的相干X射线衍射显微镜的空间分辨率能够 增加。 如果样品长时间暴露以克服光源的低强度，则能够防止由样品的热变形引起的不期望的相位变形。

公开(公告)号：KR1020160024925A

公开(公告)日：2016-03-07

申请号：KR1020167001387

申请日：2014-06-03

Applicant: 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤

Inventor： 미야오,슈이치 ,  네츠,시게요시

IPC: G01N23/207 ,  C30B35/00 ,  C30B29/06 ,  C01B33/02 ,  C30B13/00 ,  C30B15/00

CPC classification number: G01N23/207 ,  C01B33/02 ,  C01P2002/70 ,  C30B13/00 ,  C30B15/00 ,  C30B29/06 ,  C30B35/007

Abstract: 채취한판상시료(20)를제1 미러지수면 로부터의브래그반사가검출되는위치에배치하고, 슬릿에의해정해지는 X선조사영역이판상시료(20)의주면상을φ 스캔하도록판상시료(20)의중심을회전중심으로하여회전각도φ로면내회전시키고, 미러지수면 로부터의브래그반사강도의판상시료(20)의회전각도(φ) 의존성을나타내는차트를구하고, 해당차트로부터베이스라인의회절강도값(I)을구하고, 마찬가지로제2 미러지수면 로부터얻어지는φ 스캔·차트로부터베이스라인의회절강도값(I)을구하고, 상기 I값과상기 I값의대소관계를다결정실리콘의결정성의평가지표로서이용한다.

Abstract translation: 评价多晶硅的结晶性的方法包括：将收集的板样品（20）设置在检测来自第一米勒分度平面的布拉格反射的位置; 使平板样品（20）围绕其中心平面旋转旋转角度Æ，使得由狭缝限定的X射线照射区域扫描板样品（20）的主平面; 确定显示来自米勒分度平面的布拉格反射强度对板样品（20）的旋转角（Æ）的依赖性的图表; 从图中确定基线的衍射强度值（I B 1）; 类似地从从第二米勒分度平面获得的Æ扫描图中确定基线的衍射强度值（I B 2）; 并且使用I B 1值和I B 2值之间的尺寸关系作为多晶硅的结晶度的评价指标。

公开(公告)号：KR1020160014576A

公开(公告)日：2016-02-11

申请号：KR1020157025056

申请日：2014-04-09

Applicant: 더 존스 홉킨스 유니버시티

Inventor： 스터트맨,댄 ,  핀켄탈,마이클

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20 ,  G01N23/207

CPC classification number: A61B6/484 ,  A61B6/4035 ,  G01N23/046 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20075 ,  G01N23/207 ,  G01N2015/1454 ,  G01N2021/4186 ,  G01N2223/419 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1819 ,  G02B5/1838 ,  G02B5/1842 ,  G02B5/1871 ,  G02B6/02085 ,  G06K9/2036 ,  G21K2207/005

Abstract: 본개시의디바이스및 방법은매우높은 X-선에너지까지의넓은시야탤버트-라우위상콘트라스트 CT 시스템을제공한다. 상기디바이스는단일기판상에타일링되고글랜싱입사로기울어진마이크로간격의격자들을포함하여, 넓은시야위상콘트라스트 CT 시스템을제공한다. 본개시는큰 물체에대해위상-콘트라스트단층촬영(PC-CT)을실행할수 있는, 다수의 GAI들을넓은 FOV 시스템에결합하기위한간단하고경제적이며정확한방법이다. 상기디바이스및 방법은의료 X-선이미징, 산업적비파괴검사, 및보안스크리닝에적용될수 있다.

公开(公告)号：KR1020150055364A

公开(公告)日：2015-05-21

申请号：KR1020130137614

申请日：2013-11-13

Applicant: 주식회사 포스코

Inventor： 박현철 ,  홍재화 ,  천명식

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 결정입경측정장치및 방법이제공된다. 결정입경측정장치는, 시편에 X선을조사하는 X선발생부와조사된 X선에의해생성된회절환의원주상에서회절 X선의세기를검출하는 X선검출부와, 검출된회절 X선의세기가미리설정된기준값이상인피크의개수, 평균세기및 표준편차중 어느하나에기초하여시편을구성하는결정입자의크기를구하는결정입경연산부를포함함으로써, 결정입자의모양, 표면거칠기, 강판표면과의접촉상태등에의한영향을최소화할수 있다.

Abstract translation: 提供了一种测量样品的粒度的装置和方法。 测量晶粒尺寸的装置包括：X射线产生单元，其照射样品中的X射线; X射线检测单元，其检测由所述照射的X射线产生的衍射环的周围的衍射X射线的强度; 以及晶体粒度计算单元，其基于标准偏差，平均强度和检测到的衍射X射线强度的峰值数目中的至少一个来计算构成样品的晶粒尺寸 高于预定标准值。 因此，能够使晶粒的形状，表面粗糙度，钢板的接触状态等的影响最小化。