半導體裝置及其形成方法
    23.
    发明专利
    半導體裝置及其形成方法 审中-公开
    半导体设备及其形成方法

    公开(公告)号:TW201630184A

    公开(公告)日:2016-08-16

    申请号:TW104124565

    申请日:2015-07-29

    Abstract: 一種裝置包含:第一半導體條;第一閘極介電質,環繞於第一半導體條;第二半導體條,重疊於第一半導體條;第二閘極介電質,環繞於第二半導體條,且第二閘極介電質接觸第一閘極介電質;以及閘極電極,具有一部份位於第二半導體條之上方,而其他部分位於第一、第二半導體條與第一、第二閘極介電質之相對兩側。

    Abstract in simplified Chinese: 一种设备包含:第一半导体条;第一闸极介电质,环绕于第一半导体条;第二半导体条,重叠于第一半导体条;第二闸极介电质,环绕于第二半导体条,且第二闸极介电质接触第一闸极介电质;以及闸极电极,具有一部份位于第二半导体条之上方,而其他部分位于第一、第二半导体条与第一、第二闸极介电质之相对两侧。

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