-
公开(公告)号:TW201426822A
公开(公告)日:2014-07-01
申请号:TW102141070
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI , 栗田一成 , KURITA, KAZUNARI
IPC分类号: H01L21/265 , H01L21/322 , H01L27/146
CPC分类号: H01L27/14687 , C23C16/0209 , C23C16/0263 , C23C16/24 , C30B25/20 , H01L21/02381 , H01L21/02439 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/02658 , H01L21/26506 , H01L21/26513 , H01L21/26566 , H01L21/2658 , H01L21/3221 , H01L27/14683 , H01L27/14689
摘要: 本發明的目的是提供一種製造具有更高的去疵能力,且磊晶層表面的霧度水準降低的半導體磊晶晶圓的方法。本發明的半導體磊晶晶圓的製造方法的特徵在於包括:第1步驟,對半導體晶圓10照射簇離子16,而在半導體晶圓的表面10A形成包含簇離子16的構成元素的改質層18;第2步驟,其在該第1步驟後,對半導體晶圓10進行用以結晶性恢復的熱處理,以使半導體晶圓表面10A的霧度水準成為0.20 ppm以下;第3步驟,其在該第2步驟後,在半導體晶圓的改質層18上形成磊晶層20。
简体摘要: 本发明的目的是提供一种制造具有更高的去疵能力,且磊晶层表面的雾度水准降低的半导体磊晶晶圆的方法。本发明的半导体磊晶晶圆的制造方法的特征在于包括:第1步骤,对半导体晶圆10照射簇离子16,而在半导体晶圆的表面10A形成包含簇离子16的构成元素的改质层18;第2步骤,其在该第1步骤后,对半导体晶圆10进行用以结晶性恢复的热处理,以使半导体晶圆表面10A的雾度水准成为0.20 ppm以下;第3步骤,其在该第2步骤后,在半导体晶圆的改质层18上形成磊晶层20。
-
公开(公告)号:TWI514558B
公开(公告)日:2015-12-21
申请号:TW102141071
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI , 栗田一成 , KURITA, KAZUNARI
IPC分类号: H01L27/146
CPC分类号: H01L27/14687 , C23C14/48 , C30B25/186 , C30B29/06 , H01L21/02381 , H01L21/02439 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/02658 , H01L21/26506 , H01L21/26513 , H01L21/26566 , H01L21/3221 , H01L21/324 , H01L27/14689 , H01L29/167
-
公开(公告)号:TW201428823A
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:TW102141074
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI
IPC分类号: H01L21/205 , H01L21/22
CPC分类号: H01L21/26566 , H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/0262 , H01L21/02631 , H01L21/02658 , H01L21/3221 , H01L21/3225 , H01L27/14687
摘要: 本發明提供一種藉由發揮更高的吸除能力而可抑制金屬污染、且無由位錯團簇及COP引起的磊晶缺陷的磊晶矽晶圓及其製造方法。本發明的磊晶矽晶圓100的製造方法的特徵在於包括:第1步驟,對不包含位錯團簇及COP的矽晶圓10照射團簇離子16,在該矽晶圓的表面10A形成由團簇離子16的構成元素固溶而成的改質層18;以及第2步驟,在矽晶圓10的改質層18上形成磊晶層20。
简体摘要: 本发明提供一种借由发挥更高的吸除能力而可抑制金属污染、且无由位错团簇及COP引起的磊晶缺陷的磊晶硅晶圆及其制造方法。本发明的磊晶硅晶圆100的制造方法的特征在于包括:第1步骤,对不包含位错团簇及COP的硅晶圆10照射团簇离子16,在该硅晶圆的表面10A形成由团簇离子16的构成元素固溶而成的改质层18;以及第2步骤,在硅晶圆10的改质层18上形成磊晶层20。
-
公开(公告)号:TW201423969A
公开(公告)日:2014-06-16
申请号:TW102141071
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI , 栗田一成 , KURITA, KAZUNARI
IPC分类号: H01L27/146
CPC分类号: H01L27/14687 , C23C14/48 , C30B25/186 , C30B29/06 , H01L21/02381 , H01L21/02439 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/02658 , H01L21/26506 , H01L21/26513 , H01L21/26566 , H01L21/3221 , H01L21/324 , H01L27/14689 , H01L29/167
摘要: 本發明提供一種製造可藉由發揮出更高的吸除能力而抑制金屬污染的半導體磊晶晶圓的方法。本發明的半導體磊晶晶圓的製造方法的特徵在於包括:第1步驟,其對半導體晶圓10的表面10A照射團簇離子16,而在半導體晶圓的表面10A形成使作為團簇離子16的構成元素的碳及摻質元素固溶的改質層18;以及第2步驟,其在半導體晶圓的改質層18上,形成上述摻質元素的濃度低於該改質層18中的摻質元素的峰值濃度的磊晶層20。
简体摘要: 本发明提供一种制造可借由发挥出更高的吸除能力而抑制金属污染的半导体磊晶晶圆的方法。本发明的半导体磊晶晶圆的制造方法的特征在于包括:第1步骤,其对半导体晶圆10的表面10A照射团簇离子16,而在半导体晶圆的表面10A形成使作为团簇离子16的构成元素的碳及掺质元素固溶的改质层18;以及第2步骤,其在半导体晶圆的改质层18上,形成上述掺质元素的浓度低于该改质层18中的掺质元素的峰值浓度的磊晶层20。
-
公开(公告)号:TWI584353B
公开(公告)日:2017-05-21
申请号:TW105104898
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO,TAKESHI
IPC分类号: H01L21/205 , H01L21/22
CPC分类号: H01L29/36 , H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/0262 , H01L21/02631 , H01L21/02658 , H01L27/14687 , H01L29/167
-
公开(公告)号:TW201620016A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:TW105104898
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO,TAKESHI
IPC分类号: H01L21/205 , H01L21/22
CPC分类号: H01L29/36 , H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/0262 , H01L21/02631 , H01L21/02658 , H01L27/14687 , H01L29/167
摘要: 本發明提供一種藉由發揮更高的吸除能力而可抑制金屬污染的磊晶矽晶圓。磊晶矽晶圓的特徵在於包括:矽晶圓10,包含COP;改質層18,形成於上述矽晶圓10的表面且由特定元素在上述矽晶圓10中固溶而成;以及上述改質層18上的磊晶層20,其中改質層18中的特定元素的深度方向的濃度分佈的半峰全幅值為100 nm以下。
简体摘要: 本发明提供一种借由发挥更高的吸除能力而可抑制金属污染的磊晶硅晶圆。磊晶硅晶圆的特征在于包括:硅晶圆10,包含COP;改质层18,形成于上述硅晶圆10的表面且由特定元素在上述硅晶圆10中固溶而成;以及上述改质层18上的磊晶层20,其中改质层18中的特定元素的深度方向的浓度分布的半峰全幅值为100 nm以下。
-
公开(公告)号:TWI515774B
公开(公告)日:2016-01-01
申请号:TW102141070
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI , 栗田一成 , KURITA, KAZUNARI
IPC分类号: H01L21/265 , H01L21/322 , H01L27/146
CPC分类号: H01L27/14687 , C23C16/0209 , C23C16/0263 , C23C16/24 , C30B25/20 , H01L21/02381 , H01L21/02439 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/02658 , H01L21/26506 , H01L21/26513 , H01L21/26566 , H01L21/2658 , H01L21/3221 , H01L27/14683 , H01L27/14689
-
公开(公告)号:TWI585826B
公开(公告)日:2017-06-01
申请号:TW102141073
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI
IPC分类号: H01L21/205 , H01L21/22
CPC分类号: H01L29/36 , H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/0262 , H01L21/02631 , H01L21/02658 , H01L27/14687 , H01L29/167
-
公开(公告)号:TWI549188B
公开(公告)日:2016-09-11
申请号:TW102141072
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI , 栗田一成 , KURITA, KAZUNARI
IPC分类号: H01L21/322 , H01L21/26 , H01L27/146
CPC分类号: H01L27/14687 , C23C14/48 , C30B25/186 , C30B25/20 , C30B29/06 , H01L21/02381 , H01L21/02439 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/02579 , H01L21/02658 , H01L21/26506 , H01L21/26513 , H01L21/26566 , H01L21/3221 , H01L27/14689 , H01L29/167 , H01L29/36
-
公开(公告)号:TWI521567B
公开(公告)日:2016-02-11
申请号:TW102141074
申请日:2013-11-12
申请人: 勝高股份有限公司 , SUMCO CORPORATION
发明人: 門野武 , KADONO, TAKESHI
IPC分类号: H01L21/205 , H01L21/22
CPC分类号: H01L21/26566 , H01L21/02381 , H01L21/02532 , H01L21/02576 , H01L21/0262 , H01L21/02631 , H01L21/02658 , H01L21/3221 , H01L21/3225 , H01L27/14687
-
-
-
-
-
-
-
-
-