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公开(公告)号:TWI584349B
公开(公告)日:2017-05-21
申请号:TW104137126
申请日:2015-11-11
Inventor: 胡建群 , HU, CHIEN CHUN , 張振涼 , CHANG, CHEN LIANG , 謝忠儒 , HSIEH, JU RU , 陳柏嘉 , CHEN, PO CHIA , 莊舜宇 , CHUANG, SHUN YU , 林威佐 , LIN, WEI TUZO
CPC classification number: H01L21/67046 , B08B1/04 , B08B3/102 , B08B3/12 , H01L21/67051
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公开(公告)号:TW201631623A
公开(公告)日:2016-09-01
申请号:TW104137126
申请日:2015-11-11
Inventor: 胡建群 , HU, CHIEN CHUN , 張振涼 , CHANG, CHEN LIANG , 謝忠儒 , HSIEH, JU RU , 陳柏嘉 , CHEN, PO CHIA , 莊舜宇 , CHUANG, SHUN YU , 林威佐 , LIN, WEI TUZO
CPC classification number: H01L21/67046 , B08B1/04 , B08B3/102 , B08B3/12 , H01L21/67051
Abstract: 本揭露提供在半導體製造中清洗晶圓的方法。該方法包括使用晶圓洗滌器清洗晶圓。該方法還包括將晶圓洗滌器移入攪動的清洗液內。該方法也包括在攪動的清洗液中,在晶圓洗滌器和清洗工作臺之間產生接觸。此外,該方法包括在攪動的清洗液清洗晶圓洗滌器之後,藉由晶圓洗滌器清洗晶圓或另一晶圓。
Abstract in simplified Chinese: 本揭露提供在半导体制造中清洗晶圆的方法。该方法包括使用晶圆洗涤器清洗晶圆。该方法还包括将晶圆洗涤器移入搅动的清洗液内。该方法也包括在搅动的清洗液中,在晶圆洗涤器和清洗工作台之间产生接触。此外,该方法包括在搅动的清洗液清洗晶圆洗涤器之后,借由晶圆洗涤器清洗晶圆或另一晶圆。
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