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公开(公告)号:TWI675557B
公开(公告)日:2019-10-21
申请号:TW107140044
申请日:2018-11-12
Applicant: 日商索尼半導體解決方案公司 , SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
Inventor: 白石淳也 , SHIRAISHI, JUNYA
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公开(公告)号:TWI638539B
公开(公告)日:2018-10-11
申请号:TW106125326
申请日:2017-07-27
Applicant: 日商索尼半導體解決方案公司 , SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
Inventor: 白石淳也 , SHIRAISHI, JUNYA
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公开(公告)号:TW201810979A
公开(公告)日:2018-03-16
申请号:TW106125326
申请日:2017-07-27
Applicant: 日商索尼半導體解決方案公司 , SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
Inventor: 白石淳也 , SHIRAISHI, JUNYA
Abstract: 針對高密度記錄的再生訊號,可以獲得具有高的對錯誤率相關,亦即高精度的訊號品質評價值。為此,基於PRML解碼系中的最大似然解碼中的偵測路徑也就是各時刻之最大似然路徑與似然度第二高之第2路徑的路徑度量差分之分布,而求出路徑選擇錯誤率之推定值。又,從最大似然解碼中的各時刻之路徑選擇時的最大似然路徑與第2路徑的位元差異數,求出錯誤偵測中的平均錯誤位元數。然後從這些結果求出推定位元錯誤率,生成相應於推定位元錯誤率的評價值。
Abstract in simplified Chinese: 针对高密度记录的再生信号,可以获得具有高的对错误率相关,亦即高精度的信号品质评价值。为此,基于PRML译码系中的最大似然译码中的侦测路径也就是各时刻之最大似然路径与似然度第二高之第2路径的路径度量差分之分布,而求出路径选择错误率之推定值。又,从最大似然译码中的各时刻之路径选择时的最大似然路径与第2路径的比特差异数,求出错误侦测中的平均错误比特数。然后从这些结果求出推定比特错误率,生成相应于推定比特错误率的评价值。
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