-
公开(公告)号:TW201419473A
公开(公告)日:2014-05-16
申请号:TW101142584
申请日:2012-11-15
Applicant: 矽品精密工業股份有限公司 , SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.
Inventor: 林志生 , LIN, CHIHSHENG , 陳俊龍 , CHEN, CHUN LUNG , 李信宏 , LEE, HSIN HUNG
IPC: H01L23/488 , H01L21/60
CPC classification number: H01L24/11 , C23C14/34 , C25D5/02 , C25D7/12 , H01L24/06 , H01L24/14 , H01L2224/03001 , H01L2224/0401 , H01L2224/11001 , H01L2924/01029 , H05K1/111 , H05K3/4007 , H05K2201/0338 , H05K2201/0367 , Y10T29/49124
Abstract: 一種基板之連接結構,該基板係具有複數連接墊及外露該些連接墊之絕緣保護層,該連接結構係包括:設於該連接墊之外露表面上並延伸至該絕緣保護層上金屬層、以及設於該金屬層上之導電凸塊,且該導電凸塊之寬度係小於該連接墊之寬度。因該金屬層完全覆蓋該連接墊之外露表面,故於後續進行覆晶製程之填膠步驟時,膠材不會流至該連接墊表面,因而有效避免該膠材與該基板間發生脫層。
Abstract in simplified Chinese: 一种基板之连接结构,该基板系具有复数连接垫及外露该些连接垫之绝缘保护层,该连接结构系包括:设于该连接垫之外露表面上并延伸至该绝缘保护层上金属层、以及设于该金属层上之导电凸块,且该导电凸块之宽度系小于该连接垫之宽度。因该金属层完全覆盖该连接垫之外露表面,故于后续进行覆晶制程之填胶步骤时,胶材不会流至该连接垫表面,因而有效避免该胶材与该基板间发生脱层。
-
公开(公告)号:TWI473227B
公开(公告)日:2015-02-11
申请号:TW101142584
申请日:2012-11-15
Applicant: 矽品精密工業股份有限公司 , SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.
Inventor: 林志生 , LIN, CHIHSHENG , 陳俊龍 , CHEN, CHUN LUNG , 李信宏 , LEE, HSIN HUNG
IPC: H01L23/488 , H01L21/60
CPC classification number: H01L24/11 , C23C14/34 , C25D5/02 , C25D7/12 , H01L24/06 , H01L24/14 , H01L2224/03001 , H01L2224/0401 , H01L2224/11001 , H01L2924/01029 , H05K1/111 , H05K3/4007 , H05K2201/0338 , H05K2201/0367 , Y10T29/49124
-
公开(公告)号:TW201405744A
公开(公告)日:2014-02-01
申请号:TW101126428
申请日:2012-07-23
Applicant: 矽品精密工業股份有限公司 , SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.
Inventor: 林志生 , LIN, CHIHSHENG , 陳俊龍 , CHEN, CHUN LUNG , 李信宏 , LEE, HSIN HUNG
IPC: H01L23/488 , H01L21/60
CPC classification number: H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2924/15311 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 一種半導體封裝件,係包括:第一封裝膠體、嵌埋於該第一封裝膠體中且具有外露之凹部的導電元件、藉由黏著層設於該第一封裝膠體與凹部上之晶片、以及包覆該晶片之第二封裝膠體,且該第二封裝膠體復形成於該凹部內,使該黏著層與該導電元件之接觸面積減少,而與該第二封裝膠體之接觸面積增加,藉以提升該黏著層之結合力,故可避免該晶片與該導電元件之間產生脫層之問題。本發明復提供該半導體封裝件之製法。
Abstract in simplified Chinese: 一种半导体封装件,系包括:第一封装胶体、嵌埋于该第一封装胶体中且具有外露之凹部的导电组件、借由黏着层设于该第一封装胶体与凹部上之芯片、以及包覆该芯片之第二封装胶体,且该第二封装胶体复形成于该凹部内,使该黏着层与该导电组件之接触面积减少,而与该第二封装胶体之接触面积增加,借以提升该黏着层之结合力,故可避免该芯片与该导电组件之间产生脱层之问题。本发明复提供该半导体封装件之制法。
-
公开(公告)号:TWI553805B
公开(公告)日:2016-10-11
申请号:TW101126428
申请日:2012-07-23
Applicant: 矽品精密工業股份有限公司 , SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.
Inventor: 林志生 , LIN, CHIHSHENG , 陳俊龍 , CHEN, CHUN LUNG , 李信宏 , LEE, HSIN HUNG
IPC: H01L23/488 , H01L21/60
CPC classification number: H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2924/15311 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
-
-
-