半導體封裝件及其製法
    3.
    发明专利
    半導體封裝件及其製法 审中-公开
    半导体封装件及其制法

    公开(公告)号:TW201405744A

    公开(公告)日:2014-02-01

    申请号:TW101126428

    申请日:2012-07-23

    Abstract: 一種半導體封裝件,係包括:第一封裝膠體、嵌埋於該第一封裝膠體中且具有外露之凹部的導電元件、藉由黏著層設於該第一封裝膠體與凹部上之晶片、以及包覆該晶片之第二封裝膠體,且該第二封裝膠體復形成於該凹部內,使該黏著層與該導電元件之接觸面積減少,而與該第二封裝膠體之接觸面積增加,藉以提升該黏著層之結合力,故可避免該晶片與該導電元件之間產生脫層之問題。本發明復提供該半導體封裝件之製法。

    Abstract in simplified Chinese: 一种半导体封装件,系包括:第一封装胶体、嵌埋于该第一封装胶体中且具有外露之凹部的导电组件、借由黏着层设于该第一封装胶体与凹部上之芯片、以及包覆该芯片之第二封装胶体,且该第二封装胶体复形成于该凹部内,使该黏着层与该导电组件之接触面积减少,而与该第二封装胶体之接触面积增加,借以提升该黏着层之结合力,故可避免该芯片与该导电组件之间产生脱层之问题。本发明复提供该半导体封装件之制法。

Patent Agency Ranking