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    晶圓測試探針卡
    3.
    发明专利
    晶圓測試探針卡 审中-公开
    晶圆测试探针卡

    公开(公告)号：TW201430352A

    公开(公告)日：2014-08-01

    申请号：TW102103152

    申请日：2013-01-28

    申请人： 旺矽科技股份有限公司 ,  MPI CORPORATION

    发明人： 陳明祈 ,  CHEN, MINGCHI ,  李天嘉 ,  LI, TIENCHIA ,  葉岱錦 ,  YEH, DAIJIN ,  陳宗毅 ,  CHEN, TSUNGYI ,  王千魁 ,  WANG, CHIENKUEI

    IPC分类号： G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/0735 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/07314

    摘要： 一種晶圓測試探針卡，包含印刷電路板、與印刷電路板電性連接之軟性電路板、位於印刷電路板與軟性電路板之間的彈性塊，以及探針單元。探針單元包含固定於印刷電路板之探針頭與多個探針。探針頭包含多個穿孔。探針為各自獨立地穿設於穿孔中，其中探針相對於探針頭上下移動。

    简体摘要： 一种晶圆测试探针卡，包含印刷电路板、与印刷电路板电性连接之软性电路板、位于印刷电路板与软性电路板之间的弹性块，以及探针单元。探针单元包含固定于印刷电路板之探针头与多个探针。探针头包含多个穿孔。探针为各自独立地穿设于穿孔中，其中探针相对于探针头上下移动。

    接觸探針及探針卡
    4.
    发明专利
    接觸探針及探針卡 审中-公开
    接触探针及探针卡

    公开(公告)号：TW201415035A

    公开(公告)日：2014-04-16

    申请号：TW102121722

    申请日：2013-06-19

    申请人： 日本麥克隆尼股份有限公司 ,  KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS

    发明人： 上林雅朝 ,  UEBAYASHI, MASATOMO ,  相馬亮 ,  SOUMA, AKIRA

    IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/06733

    摘要： [課題]無關於被施加在各探針處之實效OD量的差異，而使刮擦量成為一定範圍以內。[解決手段]本發明之接觸探針，係為將測試機側和被試驗電路之電極墊片作電性連接的構件。此接觸探針，係具備有：位置於基端部處，並且被安裝在探針卡上的安裝部；和位置於前端部處，並與上述電極墊片作接觸之接觸部；和位置在此些之間，並將上述接觸部作彈性支持之臂部。上述接觸部，係被設置在被一體性地安裝於上述臂部之前端部處的台座部之下端部處，上述臂部，係具備有支持上述台座部並容許該台座部之上下移動的其中一側臂片、和支持上述台座部並對於該台座部之傾斜角度而以使上述接觸部之刮擦量變小的方式來作調整之另外一側臂片。本發明之探針卡，係使用有上述接觸探針。

    简体摘要： [课题]无关于被施加在各探针处之实效OD量的差异，而使刮擦量成为一定范围以内。[解决手段]本发明之接触探针，系为将测试机侧和被试验电路之电极垫片作电性连接的构件。此接触探针，系具备有：位置于基端部处，并且被安装在探针卡上的安装部；和位置于前端部处，并与上述电极垫片作接触之接触部；和位置在此些之间，并将上述接触部作弹性支持之臂部。上述接触部，系被设置在被一体性地安装于上述臂部之前端部处的台座部之下端部处，上述臂部，系具备有支持上述台座部并容许该台座部之上下移动的其中一侧臂片、和支持上述台座部并对于该台座部之倾斜角度而以使上述接触部之刮擦量变小的方式来作调整之另外一侧臂片。本发明之探针卡，系使用有上述接触探针。

    含鉤狀接腳觸點邊緣的測試用插座
    5.
    发明专利
    含鉤狀接腳觸點邊緣的測試用插座 审中-公开
    含钩状接脚触点边缘的测试用插座

    公开(公告)号：TW201336176A

    公开(公告)日：2013-09-01

    申请号：TW102103663

    申请日：2013-01-31

    申请人： 測極製造有限公司 ,  TEST MAX MANUFACTURING PTE LTD

    发明人： 談惠梨 ,  TAN, HUI LI, NATALI ,  談惠姍 ,  TAN, HUI SHAN, MELISA

    IPC分类号： H01R13/10

    CPC分类号： G01R1/0466 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/07357

    摘要： 本發明提供一種測試用插座，可在進行一次積體電路測試時適用於測試各種不同的積體電路(IC)焊墊尺寸。該測試用插座包含：一個模塑插座，該模塑插座含有一個內部空間與配置在該模塑插座表面之複數個直通孔；與複數個接觸元件，配置於該模塑插座之該內部空間中，且每個接觸元件都有一個接腳觸點邊緣與一個接腳末端；其中每個接腳觸點邊緣可經由該模塑插座之該些直通孔而延伸；其中每個接腳觸點邊緣能提供一個線性區域而接觸該DUT的導線；其中每個接腳觸點邊緣能提供一個較大的接觸面積，該接觸面積可適用於各類DUT的導線尺寸。

    简体摘要： 本发明提供一种测试用插座，可在进行一次集成电路测试时适用于测试各种不同的集成电路(IC)焊垫尺寸。该测试用插座包含：一个模塑插座，该模塑插座含有一个内部空间与配置在该模塑插座表面之复数个直通孔；与复数个接触组件，配置于该模塑插座之该内部空间中，且每个接触组件都有一个接脚触点边缘与一个接脚末端；其中每个接脚触点边缘可经由该模塑插座之该些直通孔而延伸；其中每个接脚触点边缘能提供一个线性区域而接触该DUT的导线；其中每个接脚触点边缘能提供一个较大的接触面积，该接触面积可适用于各类DUT的导线尺寸。

    螺旋偵測器及其製造方法
    7.
    发明专利
    螺旋偵測器及其製造方法 审中-公开
    螺旋侦测器及其制造方法

    公开(公告)号：TW201312121A

    公开(公告)日：2013-03-16

    申请号：TW101121857

    申请日：2012-06-19

    申请人： 名幸電子股份有限公司 ,  MEIKO ELECTRONICS CO., LTD.

    发明人： 新開昇 ,  SHINGAI, NOBORU

    IPC分类号： G01R1/067

    CPC分类号： G01R1/06733 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/06761 ,  G01R3/00 ,  H01R13/2421 ,  H01R2201/20

    摘要： 一種螺旋偵測器係包括：與被檢查物直接接觸之圓錐形的尖端部(2)；從該尖端部(2)的根部在一方向延伸之大致中空圓筒狀的尖端側本體部(3)；大致中空圓筒狀的彎曲部(4)，係與該尖端側本體部(3)連續並一體地在該一方向延伸，螺旋狀地形成外周面；及大致中空圓筒狀的基端部(5)，係與該彎曲部(4)連續並一體地在一方向延伸；該尖端側本體部(3)、該彎曲部(4)及該基端部(5)的外周面係沿著該一方向對齊。

    简体摘要： 一种螺旋侦测器系包括：与被检查物直接接触之圆锥形的尖端部(2)；从该尖端部(2)的根部在一方向延伸之大致中空圆筒状的尖端侧本体部(3)；大致中空圆筒状的弯曲部(4)，系与该尖端侧本体部(3)连续并一体地在该一方向延伸，螺旋状地形成外周面；及大致中空圆筒状的基端部(5)，系与该弯曲部(4)连续并一体地在一方向延伸；该尖端侧本体部(3)、该弯曲部(4)及该基端部(5)的外周面系沿着该一方向对齐。

    探針 PROBE
    8.
    发明专利
    探針 PROBE 失效
    探针 PROBE

    公开(公告)号：TWI363407B

    公开(公告)日：2012-05-01

    申请号：TW093109068

    申请日：2004-04-01

    申请人： 住友電氣工業股份有限公司

    发明人： 上野哲司 ,  平田嘉裕 ,  岡田一範 ,  川瀨和典

    IPC分类号： H01L

    CPC分类号： G01R1/06733

    摘要： 本發明之目的，在於提供一種接觸半導體裝置之電極墊體用之探針，其具有不易附著異物、形狀不易變化、可保持良好之電性接觸功能以及具有較高之品質者。本發明係一種接觸被檢測對象物之電極墊體用之探針，其係一體成形之物品，具有連接基板之連接端子部、具有尖銳形狀之接觸部，與支持前述接觸部之支持部，其自前述支持部前端所延伸出之接觸部者，係具有與前述支持部至少共用一側面之斷面形狀者。

    简体摘要： 本发明之目的，在于提供一种接触半导体设备之电极垫体用之探针，其具有不易附着异物、形状不易变化、可保持良好之电性接触功能以及具有较高之品质者。本发明系一种接触被检测对象物之电极垫体用之探针，其系一体成形之物品，具有连接基板之连接端子部、具有尖锐形状之接触部，与支持前述接触部之支持部，其自前述支持部前端所延伸出之接触部者，系具有与前述支持部至少共享一侧面之断面形状者。

    探棒組件 PROBE ASSEMBLY
    9.
    实用新型
    探棒組件 PROBE ASSEMBLY 失效
    探棒组件 PROBE ASSEMBLY

    公开(公告)号：TWM423249U

    公开(公告)日：2012-02-21

    申请号：TW100214503

    申请日：2011-08-05

    申请人： 鴻海精密工業股份有限公司

    发明人： 田波 ,  陳國義

    IPC分类号： G01R

    CPC分类号： G01R1/06788 ,  G01R1/06733 ,  G01R31/2817

    摘要： 一種探棒組件，包括依次連接之探頭、連接線及轉接頭，所述連接線之外皮採用耐高溫和/或耐高濕材料製成。

    简体摘要： 一种探棒组件，包括依次连接之探头、连接线及转接头，所述连接线之外皮采用耐高温和/或耐高湿材料制成。

    檢查用接觸構造體
    10.
    发明专利
    檢查用接觸構造體 失效
    检查用接触构造体

    公开(公告)号：TW201124734A

    公开(公告)日：2011-07-16

    申请号：TW099127647

    申请日：2010-08-19

    申请人： 東京威力科創股份有限公司

    发明人： 高瀨慎一郎 ,  古屋邦浩 ,  望月純

    IPC分类号： G01R

    CPC分类号： G01R1/07342 ,  G01R1/06733

    摘要： 本發明關於一種檢查用接觸構造體，其目的在於有效率地形成複數個貫穿孔於探針支撐板並減輕該探針支撐板的重量。其中探針支撐板12係層積有複數個金屬板30與表面經研磨之絕緣板31。各金屬板30與絕緣板31係分別形成有供探針11穿插之貫穿孔40、41。貫穿孔41的孔徑係較貫穿孔40的孔徑要大，並且貫穿孔40、41係貫穿於探針支撐板12的厚度方向。探針支撐板12係形成有貫穿於厚度方向之中空部50。中空部50係將形成於金屬板30之孔洞51與形成於絕緣板31之孔洞52加以連結而形成。最上層金屬板30a的孔洞51a、最下層金屬板30b的孔洞51b、中間層之其中一金屬板30c的孔洞51c的孔徑係較中間層之其他金屬板30d的孔洞51d的孔徑要小。

    简体摘要： 本发明关于一种检查用接触构造体，其目的在于有效率地形成复数个贯穿孔于探针支撑板并减轻该探针支撑板的重量。其中探针支撑板12系层积有复数个金属板30与表面经研磨之绝缘板31。各金属板30与绝缘板31系分别形成有供探针11穿插之贯穿孔40、41。贯穿孔41的孔径系较贯穿孔40的孔径要大，并且贯穿孔40、41系贯穿于探针支撑板12的厚度方向。探针支撑板12系形成有贯穿于厚度方向之中空部50。中空部50系将形成于金属板30之孔洞51与形成于绝缘板31之孔洞52加以链接而形成。最上层金属板30a的孔洞51a、最下层金属板30b的孔洞51b、中间层之其中一金属板30c的孔洞51c的孔径系较中间层之其他金属板30d的孔洞51d的孔径要小。