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    探針單元、探針單元製造方法以及檢測方法
    1.
    发明专利
    探針單元、探針單元製造方法以及檢測方法 审中-公开
    探针单元、探针单元制造方法以及检测方法

    公开(公告)号：TW201610439A

    公开(公告)日：2016-03-16

    申请号：TW104119352

    申请日：2015-06-16

    申请人： 日置電機股份有限公司 ,  HIOKI DENKI KABUSHIKI KAISHA

    发明人： 小林昌史 ,  KOBAYASHI, MASASHI ,  小川原崇裕 ,  OGAWARA, TAKAHIRO

    IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R31/26

    CPC分类号： G01R3/00 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/07342

    摘要： 實現輕量化。 包括探針銷2、及支撐探針銷2之支撐部3， 支撐部3包括：臂體11，12，呈帶狀，在彼此離隙相向之狀態下被配置；保持部13，保持各臂體11，12的各基端部21a，22a；以及探針銷2，做為連結各臂體11，12的各尖端部21b，22b們之連結部而作用；以構成容許探針銷2的直動或近似直動之四節連桿機構，各臂體11，12在比基端部稍微往尖端部側之部位，及比尖端部稍微往基端部側之部位上，形成有貫穿孔H1a，H1b，H2a，H2b，各貫穿孔間的中間部位21c，22c，係做為構成四節連桿機構之各連桿而作用，同時各貫穿孔的形成部位P1a，P1b，P2a，P2b，係做為構成四節連桿機構之接頭而作用。

    简体摘要： 实现轻量化。 包括探针销2、及支撑探针销2之支撑部3， 支撑部3包括：臂体11，12，呈带状，在彼此离隙相向之状态下被配置；保持部13，保持各臂体11，12的各基端部21a，22a；以及探针销2，做为链接各臂体11，12的各尖端部21b，22b们之链接部而作用；以构成容许探针销2的直动或近似直动之四节连杆机构，各臂体11，12在比基端部稍微往尖端部侧之部位，及比尖端部稍微往基端部侧之部位上，形成有贯穿孔H1a，H1b，H2a，H2b，各贯穿孔间的中间部位21c，22c，系做为构成四节连杆机构之各连杆而作用，同时各贯穿孔的形成部位P1a，P1b，P2a，P2b，系做为构成四节连杆机构之接头而作用。

    懸臂式高頻探針卡
    3.
    发明专利
    懸臂式高頻探針卡 审中-公开
    悬臂式高频探针卡

    公开(公告)号：TW201502527A

    公开(公告)日：2015-01-16

    申请号：TW103123948

    申请日：2014-07-11

    申请人： 旺矽科技股份有限公司 ,  MPI CORPORATION

    发明人： 顧偉正 ,  KU, WEI CHENG ,  賴俊良 ,  LAI, JUN LIANG ,  黃俊中 ,  HUANG, CHUN CHUNG ,  洪敬智 ,  HUNG, JING ZHI ,  吳勇楠 ,  WU, YUNG NAN ,  何志浩 ,  HO, CHIH HAO

    IPC分类号： G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/06772 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/07342

    摘要： 一種懸臂式高頻探針卡設置於檢測機以及待測電子物件之間，且包含一載板、一針座、二探針及一電路板。其中，該載板具有一第一面及一第二面，且該第一面朝向該檢測機，而該第二面則朝向該待測電子物件；該針座設於該載板之第二面上且以絕緣材料製成；該等探針以導電材料製成，且具有相連接一懸臂段與一針尖段，該懸臂段與該針座連接，而該針尖段則用以點觸該待測電子物件；該電路板具可撓性，且設於該載板上，並與該等探針連接；該電路板上佈設訊號傳輸電路，且訊號傳輸電路一端連接各該探針，另一端則用以與該檢測裝置連接。

    简体摘要： 一种悬臂式高频探针卡设置于检测机以及待测电子对象之间，且包含一载板、一针座、二探针及一电路板。其中，该载板具有一第一面及一第二面，且该第一面朝向该检测机，而该第二面则朝向该待测电子对象；该针座设于该载板之第二面上且以绝缘材料制成；该等探针以导电材料制成，且具有相连接一悬臂段与一针尖段，该悬臂段与该针座连接，而该针尖段则用以点触该待测电子对象；该电路板具可挠性，且设于该载板上，并与该等探针连接；该电路板上布设信号传输电路，且信号传输电路一端连接各该探针，另一端则用以与该检测设备连接。

    連接端子及使用此連結端子的導通檢查器具
    4.
    发明专利
    連接端子及使用此連結端子的導通檢查器具 审中-公开
    连接端子及使用此链接端子的导通检查器具

    公开(公告)号：TW201423108A

    公开(公告)日：2014-06-16

    申请号：TW102138996

    申请日：2013-10-29

    申请人： 歐姆龍股份有限公司 ,  OMRON CORPORATION

    发明人： 寺西宏真 ,  TERANISHI, HIROTADA ,  酒井貴浩 ,  SAKAI, TAKAHIRO

    IPC分类号： G01R1/04 ,  H01R12/70 ,  H01R13/24

    CPC分类号： G01R1/06727 ,  G01R1/0466 ,  G01R1/06716 ,  H01R13/2407

    摘要： 提供一種藉由具有高彈性，而不會損傷接觸對象之構件，且接觸可靠度高之連接端子。本發明之連接端子11係由支持部20及接點部12所構成，該支持部20係以可彈性變形之軸部6為中心作轉動且用以保持軸部6，該接點部12係自支持部20延伸且於自由端部具有能與被檢查體7抵接之抵接部13，該連接端子11中，於該抵接部13抵接於被檢查體7且與支持部20一起轉動時，接點部12產生彈性變形。

    简体摘要： 提供一种借由具有高弹性，而不会损伤接触对象之构件，且接触可靠度高之连接端子。本发明之连接端子11系由支持部20及接点部12所构成，该支持部20系以可弹性变形之轴部6为中心作转动且用以保持轴部6，该接点部12系自支持部20延伸且于自由端部具有能与被检查体7抵接之抵接部13，该连接端子11中，于该抵接部13抵接于被检查体7且与支持部20一起转动时，接点部12产生弹性变形。

    接觸探針及探針卡
    5.
    发明专利
    接觸探針及探針卡 审中-公开
    接触探针及探针卡

    公开(公告)号：TW201415035A

    公开(公告)日：2014-04-16

    申请号：TW102121722

    申请日：2013-06-19

    申请人： 日本麥克隆尼股份有限公司 ,  KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS

    发明人： 上林雅朝 ,  UEBAYASHI, MASATOMO ,  相馬亮 ,  SOUMA, AKIRA

    IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/06733

    摘要： [課題]無關於被施加在各探針處之實效OD量的差異，而使刮擦量成為一定範圍以內。[解決手段]本發明之接觸探針，係為將測試機側和被試驗電路之電極墊片作電性連接的構件。此接觸探針，係具備有：位置於基端部處，並且被安裝在探針卡上的安裝部；和位置於前端部處，並與上述電極墊片作接觸之接觸部；和位置在此些之間，並將上述接觸部作彈性支持之臂部。上述接觸部，係被設置在被一體性地安裝於上述臂部之前端部處的台座部之下端部處，上述臂部，係具備有支持上述台座部並容許該台座部之上下移動的其中一側臂片、和支持上述台座部並對於該台座部之傾斜角度而以使上述接觸部之刮擦量變小的方式來作調整之另外一側臂片。本發明之探針卡，係使用有上述接觸探針。

    简体摘要： [课题]无关于被施加在各探针处之实效OD量的差异，而使刮擦量成为一定范围以内。[解决手段]本发明之接触探针，系为将测试机侧和被试验电路之电极垫片作电性连接的构件。此接触探针，系具备有：位置于基端部处，并且被安装在探针卡上的安装部；和位置于前端部处，并与上述电极垫片作接触之接触部；和位置在此些之间，并将上述接触部作弹性支持之臂部。上述接触部，系被设置在被一体性地安装于上述臂部之前端部处的台座部之下端部处，上述臂部，系具备有支持上述台座部并容许该台座部之上下移动的其中一侧臂片、和支持上述台座部并对于该台座部之倾斜角度而以使上述接触部之刮擦量变小的方式来作调整之另外一侧臂片。本发明之探针卡，系使用有上述接触探针。

    通電試驗用探針
    6.
    发明专利
    通電試驗用探針 审中-公开
    通电试验用探针

    公开(公告)号：TW201400820A

    公开(公告)日：2014-01-01

    申请号：TW102116656

    申请日：2013-05-10

    申请人： 日本麥克隆尼股份有限公司 ,  KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS

    发明人： 平川秀樹 ,  HIRAKAWA, HIDEKI ,  金澤優子 ,  KANAZAWA, YUKO

    IPC分类号： G01R1/067

    CPC分类号： G01R1/06794 ,  G01R1/06727 ,  G01R1/06755

    摘要： 本發明提供一種電氣及機械特性優良的通電試驗用探針，其可抑制因通電所引起的溫度上升。本發明之通電試驗用探針係具備：針本體部，具有連接至探針基板的電路的連接端，且由顯現出韌性的第一金屬材料所形成；以及針尖部，具有針尖，由第二金屬材料所形成，且連接於前述針本體部，該第二金屬材料係顯出比前述針本體部的前述第一金屬材料更高的硬度，在前述針本體部及前述針尖部形成有從前述針尖至前述連接端之電流路徑，該電流路徑係由相同金屬材料所形成。

    简体摘要： 本发明提供一种电气及机械特性优良的通电试验用探针，其可抑制因通电所引起的温度上升。本发明之通电试验用探针系具备：针本体部，具有连接至探针基板的电路的连接端，且由显现出韧性的第一金属材料所形成；以及针尖部，具有针尖，由第二金属材料所形成，且连接于前述针本体部，该第二金属材料系显出比前述针本体部的前述第一金属材料更高的硬度，在前述针本体部及前述针尖部形成有从前述针尖至前述连接端之电流路径，该电流路径系由相同金属材料所形成。