公开(公告)号：TW201616865A

公开(公告)日：2016-05-01

申请号：TW103146163

申请日：2014-12-29

申请人： 鴻海精密工業股份有限公司 ,  HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.

发明人： 陳俊生 ,  CHEN, CHUN-SHENG ,  王振聲 ,  WANG, ZHEN-SHENG

IPC分类号： H04N17/00 ,  G09G3/00 ,  G09F9/30

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R19/257 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/3004 ,  G01R31/31724 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/31908 ,  G09G2330/12

摘要： 一種電子設備測試系統，包括一輸入單元、一訊號轉換單元、一開關單元及一顯示單元，所述輸入單元用以接收一輸入訊號，並根據接收到之輸入訊號輸出一開關訊號，所述訊號轉換單元用以接收所述開關訊號，並根據所述開關訊號輸出一控制訊號，所述訊號轉換單元於所述顯示單元正常工作時輸出一資料訊號和一時鐘訊號給所述顯示單元，所述訊號轉換單元於對所述顯示單元進行檢測時根據接收到之開關訊號停止輸出所述資料訊號和所述時鐘訊號，所述開關單元用以接收所述控制訊號，並根據所述控制訊號輸出一測試訊號，所述顯示單元內儲存有自檢測試程式，所述顯示單元根據接收到之測試訊號運行所述自檢測試程式，從而對所述顯示單元進行檢測。

简体摘要： 一种电子设备测试系统，包括一输入单元、一信号转换单元、一开关单元及一显示单元，所述输入单元用以接收一输入信号，并根据接收到之输入信号输出一开关信号，所述信号转换单元用以接收所述开关信号，并根据所述开关信号输出一控制信号，所述信号转换单元于所述显示单元正常工作时输出一数据信号和一时钟信号给所述显示单元，所述信号转换单元于对所述显示单元进行检测时根据接收到之开关信号停止输出所述数据信号和所述时钟信号，所述开关单元用以接收所述控制信号，并根据所述控制信号输出一测试信号，所述显示单元内存储有自检测试进程，所述显示单元根据接收到之测试信号运行所述自检测试进程，从而对所述显示单元进行检测。

公开(公告)号：TW200817931A

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：TW096125210

申请日：2007-07-10

申请人： 艾斯特倫公司 ASTERION, INC.

发明人： 巴利 艾德華 布蘭查 BLANCHA, BARRY EDWARD ,  賴札克 珍努茲 雷邱維克茲 LECHOWICZ, LESZEK JANUSZ ,  史蒂芬S. 海姆 HELM, STEPHEN S. ,  席恩 派翠克 亞當 ADAM, SEAN PATRICK ,  裘基 坎馬拉格 CAMARGO, JORGE ,  包羅 曼蒂斯 MENDES, PAULO ,  卡羅斯G. 海裘 HEJL, CARLOS G.

IPC分类号： G06F ,  G01R

CPC分类号： G01R31/2834 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3183

摘要： 本發明提供一種用於在一測試系統中實施處理之系統及方法。可提供一種彈性的平臺來開發用於實施自動化測試之測試程式。在此一平臺中,測試器及其儀器與測試器作業系統隔離,從而容許使用任何測試器作業系統。在另一例示實施例中,該平臺之使用者層與架構之實體層隔離,從而容許與硬體無關之測試程式,可在具有不同測試硬體及軟體之不同測試器之中建立且使用該等測試程式。在又一實施例中,測試程式之執行與測試器平臺作業系統隔離,從而容許測試程式與測試器平臺獨立運作。在另一實施例中,在該平臺上實施功能性,以致於僅添加函數且不破壞至函數之現存鏈接,從確保在添加新軟體、硬體及/或特徵至該平臺時的連續測試系統操作。該測試系統可包括一非確定性電腦系統。在一例示測試系統中,系統迫使由該非確定性電腦系統實施之對一或多個電腦指令之執行在恆定執行時間內執行。一確定性引擎(若必要)等待可變量的時間以確保在恆定執行時間內實施對電腦指令之執行。因為執行時間係恆定的,所以執行係確定性的且因此可用於需要確定性行為之應用中。舉例而言,該確定性引擎可用於自動化測試設備(ATE)應用中。

简体摘要： 本发明提供一种用于在一测试系统中实施处理之系统及方法。可提供一种弹性的平台来开发用于实施自动化测试之测试进程。在此一平台中,测试器及其仪器与测试器操作系统隔离,从而容许使用任何测试器操作系统。在另一例示实施例中,该平台之用户层与架构之实体层隔离,从而容许与硬件无关之测试进程,可在具有不同测试硬件及软件之不同测试器之中创建且使用该等测试进程。在又一实施例中,测试进程之运行与测试器平台操作系统隔离,从而容许测试进程与测试器平台独立运作。在另一实施例中,在该平台上实施功能性,以致于仅添加函数且不破坏至函数之现存链接,从确保在添加新软件、硬件及/或特征至该平台时的连续测试系统操作。该测试系统可包括一非确定性电脑系统。在一例示测试系统中,系统迫使由该非确定性电脑系统实施之对一或多个电脑指令之运行在恒定运行时间内运行。一确定性发动机(若必要)等待可变量的时间以确保在恒定运行时间内实施对电脑指令之运行。因为运行时间系恒定的,所以运行系确定性的且因此可用于需要确定性行为之应用中。举例而言,该确定性发动机可用于自动化测试设备(ATE)应用中。

公开(公告)号：TWI313754B

公开(公告)日：2009-08-21

申请号：TW096100242

申请日：2007-01-03

申请人： 友達光電股份有限公司 AU OPTRONICS CORPORATION

发明人： 俞善仁 YU, SHANJEN ,  陳靜茹 CHEN, JINGRU

IPC分类号： G01R ,  G02F

CPC分类号： G01R31/31728 ,  G01R31/3181

摘要： 一種測試液晶顯示器面板之方法,其中液晶顯示器面板將閘極驅動電路與掃描線整合於其上,此方法至少包含同時輸入正相時序信號,反相時序信號,以及下拉信號至所選定區域之閘極驅動器之正相時序輸入端,反相時序輸入端,以及下拉信號輸入端。同時輸入起始信號至閘極驅動器之起始信號輸入端,以同時啓動該選定區域之掃描線,且同時開啓該選定區域之薄膜電晶體。以及同時由所有信號線送入一測試信號。本發明所揭露之測試液晶顯示器面板之方法亦可使用分區測試之方式進行測試。其中此方法將面板分割為多個區域並分別於不同區域進行測試。

简体摘要： 一种测试液晶显示器皮肤之方法,其中液晶显示器皮肤将闸极驱动电路与扫描线集成于其上,此方法至少包含同时输入正相时序信号,反相时序信号,以及下拉信号至所选定区域之闸极驱动器之正相时序输入端,反相时序输入端,以及下拉信号输入端。同时输入起始信号至闸极驱动器之起始信号输入端,以同时启动该选定区域之扫描线,且同时开启该选定区域之薄膜晶体管。以及同时由所有信号线送入一测试信号。本发明所揭露之测试液晶显示器皮肤之方法亦可使用分区测试之方式进行测试。其中此方法将皮肤分割为多个区域并分别于不同区域进行测试。

公开(公告)号：TW200829932A

公开(公告)日：2008-07-16

申请号：TW096100242

申请日：2007-01-03

申请人： 友達光電股份有限公司 AU OPTRONICS CORPORATION

发明人： 俞善仁 YU, SHAN JEN ,  陳靜茹 CHEN, JING RU

IPC分类号： G01R ,  G02F

CPC分类号： G01R31/31728 ,  G01R31/3181

摘要： 一種測試液晶顯示器面板之方法,其中液晶顯示器面板將閘極驅動電路與掃描線整合於其上,此方法至少包含同時輸入正相時序信號,反相時序信號,以及下拉信號至所選定區域之閘極驅動器之正相時序輸入端,反相時序輸入端,以及下拉信號輸入端。同時輸入起始信號至閘極驅動器之起始信號輸入端,以同時啓動該選定區域之掃描線,且同時開啓該選定區域之薄膜電晶體。以及同時由所有信號線送入一測試信號。本發明所揭露之測試液晶顯示器面板之方法亦可使用分區測試之方式進行測試。其中此方法將面板分割為多個區域並分別於不同區域進行測試。

简体摘要： 一种测试液晶显示器皮肤之方法,其中液晶显示器皮肤将闸极驱动电路与扫描线集成于其上,此方法至少包含同时输入正相时序信号,反相时序信号,以及下拉信号至所选定区域之闸极驱动器之正相时序输入端,反相时序输入端,以及下拉信号输入端。同时输入起始信号至闸极驱动器之起始信号输入端,以同时启动该选定区域之扫描线,且同时开启该选定区域之薄膜晶体管。以及同时由所有信号线送入一测试信号。本发明所揭露之测试液晶显示器皮肤之方法亦可使用分区测试之方式进行测试。其中此方法将皮肤分割为多个区域并分别于不同区域进行测试。

公开(公告)号：TW561505B

公开(公告)日：2003-11-11

申请号：TW091110377

申请日：2002-05-17

申请人： 新力電腦娛樂股份有限公司

发明人： 平岡 大輔

IPC分类号： G01R ,  H01L

CPC分类号： G01R31/3181 ,  G01R31/3172

摘要： 多工處理器以高於內部匯流排線之時脈速度，多工作業於LSI系統之待確認之內部信號，以便輸出多工之內部信號。因此，目標匯流排線上之內部信號可利用小數目信號線輸出LSI系統。因此，不需大量增加LSI系統之輸出終端之數目，內部信號可由必要之最少數額外輸出終端輸出。此舉可實現LSI系統之全部操作之容易確認方法，而不需複雜之LSI系統之設計及增加LSI系統之成本。

简体摘要： 多任务处理器以高于内部总线线之时脉速度，多任务作业于LSI系统之待确认之内部信号，以便输出多任务之内部信号。因此，目标总线在线之内部信号可利用小数目信号线输出LSI系统。因此，不需大量增加LSI系统之输出终端之数目，内部信号可由必要之最少数额外输出终端输出。此举可实现LSI系统之全部操作之容易确认方法，而不需复杂之LSI系统之设计及增加LSI系统之成本。

公开(公告)号：TW201625973A

公开(公告)日：2016-07-16

申请号：TW104135661

申请日：2015-10-29

申请人： 因諾帝歐股份有限公司 ,  INNOTIO INC.

发明人： 宋在勳 ,  SONG, JAE HOON

IPC分类号： G01R31/3183 ,  G01R31/3185

CPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3183

摘要： 本發明揭示一種用於最小化一晶片測試時間之方法及裝置。該裝置將複數個掃描型樣分為至少兩個掃描區段，經由一移頻之一增加或減小來辨識將在當一掃描鏈之一輸出型樣變得與一預期型樣不同時之時刻之一第一移頻且接著將小於該第一移頻之一第二移頻判定為各區段之一移頻。最小化一預燒測試時間且改良該預燒測試之品質。

简体摘要： 本发明揭示一种用于最小化一芯片测试时间之方法及设备。该设备将复数个扫描型样分为至少两个扫描区段，经由一移频之一增加或减小来辨识将在当一扫描链之一输出型样变得与一预期型样不同时之时刻之一第一移频且接着将小于该第一移频之一第二移频判定为各区段之一移频。最小化一预烧测试时间且改良该预烧测试之品质。

公开(公告)号：TW571109B

公开(公告)日：2004-01-11

申请号：TW089114354

申请日：2000-07-18

申请人： 夏普股份有限公司 SHARP KABUSHIKI KAISHA

发明人： 口 英明 HIDEAKI SAKAGUCHI

IPC分类号： G01R ,  H03M

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R31/3181 ,  G09G2310/027

摘要： 於本發明中，檢查裝置係檢查液晶驅動器LSI，其液晶驅動器LSI之構造係將複數個DA轉換器之輸出電壓，各由對應的輸出端子予以輸出者。依電壓測定器測定第1輸出端子所輸出之複數灰階電壓的電壓值，算出各測定電壓值與對應期望電壓值之電壓值的差。差動放大器中，由第1輸出端子以外的各輸出端子所輸出之各輸出電壓，被輸入至其一方之輸入端子，上述第1輸出端子所輸出之輸出電壓，被共通的輸入至另一方之輸入端子。比較器係將複數之差動放大器的放大差分電壓作為其輸入，判別各差動放大器之放大差分電壓是否在特定的電壓範圍內。

简体摘要： 于本发明中，检查设备系检查液晶驱动器LSI，其液晶驱动器LSI之构造系将复数个DA转换器之输出电压，各由对应的输出端子予以输出者。依电压测定器测定第1输出端子所输出之复数灰阶电压的电压值，算出各测定电压值与对应期望电压值之电压值的差。差动放大器中，由第1输出端子以外的各输出端子所输出之各输出电压，被输入至其一方之输入端子，上述第1输出端子所输出之输出电压，被共通的输入至另一方之输入端子。比较器系将复数之差动放大器的放大差分电压作为其输入，判别各差动放大器之放大差分电压是否在特定的电压范围内。

公开(公告)号：TW500926B

公开(公告)日：2002-09-01

申请号：TW090108168

申请日：2001-04-04

申请人： 愛德萬測試股份有限公司

发明人： 石田雅裕 ,  山口隆弘 ,  橋本 好弘

IPC分类号： G01R

CPC分类号： G01R31/3004 ,  G01R31/3181

摘要： 本案提供一種可以大幅改善半導體積體電路之故障分析可靠性的故障分析方法與故障分析裝置。其在將具有複數個測試圖樣的測試圖樣序列送給半導體積體電路後，對應於該等測試圖樣序列，儲存一些屬會對應於被供給之該等測試圖樣的變化而使其電位產生變化之部位的分析部位。然後，測量該半導體積體電路中因應該等測試圖樣之變化而發生之暫態電源電流，並判斷所測得之暫態電源電流是否有異常，再根據該等顯示暫態電源電流有異常之測試圖樣序列，以及該等對應於該等測試圖樣序列而被儲存之該等分析部位，來推斷半導體積體電路中之故障部位。

简体摘要： 本案提供一种可以大幅改善半导体集成电路之故障分析可靠性的故障分析方法与故障分析设备。其在将具有复数个测试图样的测试图样串行送给半导体集成电路后，对应于该等测试图样串行，存储一些属会对应于被供给之该等测试图样的变化而使其电位产生变化之部位的分析部位。然后，测量该半导体集成电路中因应该等测试图样之变化而发生之暂态电源电流，并判断所测得之暂态电源电流是否有异常，再根据该等显示暂态电源电流有异常之测试图样串行，以及该等对应于该等测试图样串行而被存储之该等分析部位，来推断半导体集成电路中之故障部位。

公开(公告)号：TW478083B

公开(公告)日：2002-03-01

申请号：TW090101385

申请日：2001-01-19

申请人： 日本電氣股份有限公司

发明人： 田中 幹大

IPC分类号： H01L ,  G01R

CPC分类号： G01R31/3181

摘要： 為分析發生於半導體裝置中的故障，一期望值函數係推導自位元對映資料，該位元對映資料係產生自一為半導體裝置而設的測試器。期望值函數表示故障位元的分佈區域，且具有包括一預定因子的多個因子。由期望值函數可判斷故障位元的分佈區域是否具有規則性。藉由使用該預定因子，若故障位元的分佈區域具有規則性，則規則性的週期係被自動地提供以作為額外的參數來說明該規則性，以及確認故障的原因。

简体摘要： 为分析发生于半导体设备中的故障，一期望值函数系推导自比特映射数据，该比特映射数据系产生自一为半导体设备而设的测试器。期望值函数表示故障比特的分布区域，且具有包括一预定因子的多个因子。由期望值函数可判断故障比特的分布区域是否具有守则性。借由使用该预定因子，若故障比特的分布区域具有守则性，则守则性的周期系被自动地提供以作为额外的参数来说明该守则性，以及确认故障的原因。

公开(公告)号：TW201413443A

公开(公告)日：2014-04-01

申请号：TW101134806

申请日：2012-09-21

申请人： 鴻海精密工業股份有限公司 ,  HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.

发明人： 孫正衡 ,  SUN, ZHENG HENG

IPC分类号： G06F11/26 ,  G06F11/34

CPC分类号： G01R31/2834 ,  G01R31/3181 ,  G06F11/3692

摘要： 一種測試狀態呈現及異常索引系統及方法，包括：設置測試參數、狀態範本圖樣參數及各測試項目的測試時間容許值；按照測試參數測試待測物，並按照狀態範本圖樣參數將測試狀態以狀態範本的形式進行顯示；將所拍攝的狀態範本與其對應的標準狀態範本進行比對；當比對結果為不同時，判定該測試專案異常，記錄並標記一時間索引；當比對結果為相同時，將該測試項目的測試時間與其對應的測試時間容許值進行比對；若超過，則判定該測試專案異常，記錄並標記一時間索引。利用本發明，不僅可以圖形的方式呈現測試狀態，還可以自動判定測試結果。

简体摘要： 一种测试状态呈现及异常索引系统及方法，包括：设置测试参数、状态范本图样参数及各测试项目的测试时间容许值；按照测试参数测试待测物，并按照状态范本图样参数将测试状态以状态范本的形式进行显示；将所拍摄的状态范本与其对应的标准状态范本进行比对；当比对结果为不同时，判定该测试项目异常，记录并标记一时间索引；当比对结果为相同时，将该测试项目的测试时间与其对应的测试时间容许值进行比对；若超过，则判定该测试项目异常，记录并标记一时间索引。利用本发明，不仅可以图形的方式呈现测试状态，还可以自动判定测试结果。