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    鑽石篩選裝置
    4.
    发明专利
    鑽石篩選裝置 审中-公开
    钻石筛选设备

    公开(公告)号：TW201505767A

    公开(公告)日：2015-02-16

    申请号：TW102128225

    申请日：2013-08-07

    申请人： 中國砂輪企業股份有限公司 ,  KINIK COMPANY

    发明人： 周瑞麟 ,  CHOU, JUI LIN ,  王嘉群 ,  WANG, CHIA CHUN ,  邱家豐 ,  CHIU, CHIA FENG ,  廖文仁 ,  LIAO, WEN JEN ,  陳仁風 ,  CHEN, JEN FENG

    IPC分类号： B24B53/017 ,  B24B53/12

    CPC分类号： B07C5/3422 ,  B25J9/0093 ,  B25J15/0616 ,  G05B19/4182 ,  G05B2219/40554 ,  G05B2219/40564 ,  G05B2219/40607 ,  G06T7/0006 ,  G06T2207/30108 ,  Y02P90/083

    摘要： 本發明係有關於一種鑽石篩選裝置，包括：一工作台，包括有一工作台平面；一輸送帶，組設於該工作台之該工作台平面，用以承載一鑽石陣列單元；一取像裝置，組設於該工作台上，且該取像裝置與該輸送帶相對平行於該工作台平面，用以對該鑽石陣列單元之不同區域產生一個或複數個擷取影像；一顯示裝置；以及一影像辨識模組，電性連接於該取像裝置及該顯示裝置，該影像辨識模組對該擷取影像進行一幾何特徵參數分析以判定該鑽石陣列單元之一個或複數個風險鑽石

    简体摘要： 本发明系有关于一种钻石筛选设备，包括：一工作台，包括有一工作台平面；一输送带，组设于该工作台之该工作台平面，用以承载一钻石数组单元；一取像设备，组设于该工作台上，且该取像设备与该输送带相对平行于该工作台平面，用以对该钻石数组单元之不同区域产生一个或复数个截取影像；一显示设备；以及一影像辨识模块，电性连接于该取像设备及该显示设备，该影像辨识模块对该截取影像进行一几何特征参数分析以判定该钻石数组单元之一个或复数个风险钻石

    以影像辨識爲基礎的燒蝕圖案位置收回
    6.
    发明专利
    以影像辨識爲基礎的燒蝕圖案位置收回 审中-公开
    以影像辨识为基础的烧蚀图案位置收回

    公开(公告)号：TW201443416A

    公开(公告)日：2014-11-16

    申请号：TW103109576

    申请日：2014-03-14

    申请人： 伊雷克托科學工業股份有限公司 ,  ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC.

    发明人： 薩墨菲爾德 蕾芙 克莉絲坦 ,  SUMMERFIELD, LEIF CHRISTIAN

    IPC分类号： G01N1/44

    CPC分类号： G06T7/74 ,  G01N2001/045 ,  G05B2219/50057 ,  G06T2207/30108

    摘要： 本發明在此舉例所述的具體態樣大致關於：儲存所要的雷射位置的XYZ檯座座標以及於掃描放置過程期間所放置之燒蝕圖案的核心影像；並且比較核心影像與相機/顯微鏡之目前視野的目前影像，後者包括會射中雷射的所在位置。這比較係用於實驗進行期間以修正任何累積誤差。尤其，本發明的具體態樣關於基於軟體之影像辨識的設備和方法，其修正將樣品相對於確定鋯石晶粒年代之分析系統的雷射來定位之開路系統中的誤差。

    简体摘要： 本发明在此举例所述的具体态样大致关于：存储所要的激光位置的XYZ台座座标以及于扫描放置过程期间所放置之烧蚀图案的内核影像；并且比较内核影像与相机/显微镜之目前视野的目前影像，后者包括会射中激光的所在位置。这比较系用于实验进行期间以修正任何累积误差。尤其，本发明的具体态样关于基于软件之影像辨识的设备和方法，其修正将样品相对于确定锆石晶粒年代之分析系统的激光来定位之开路系统中的误差。

    具有雷射元件且具有檢測雷射外洩能力之電子設備及其檢測雷射外洩之方法 ELECTRONIC EQUIPMENT HAVING LASER COMPONENT AND CAPABILITY OF INSPECTING LEAK OF LASER AND INSPECTING METHOD FOR INSPECTING LEAK OF LASER THEREOF
    10.
    发明专利
    具有雷射元件且具有檢測雷射外洩能力之電子設備及其檢測雷射外洩之方法 ELECTRONIC EQUIPMENT HAVING LASER COMPONENT AND CAPABILITY OF INSPECTING LEAK OF LASER AND INSPECTING METHOD FOR INSPECTING LEAK OF LASER THEREOF 审中-公开
    具有激光组件且具有检测激光外泄能力之电子设备及其检测激光外泄之方法 ELECTRONIC EQUIPMENT HAVING LASER COMPONENT AND CAPABILITY OF INSPECTING LEAK OF LASER AND INSPECTING METHOD FOR INSPECTING LEAK OF LASER THEREOF

    公开(公告)号：TW201137324A

    公开(公告)日：2011-11-01

    申请号：TW099113766

    申请日：2010-04-30

    申请人： 廣達電腦股份有限公司

    发明人： 鍾玉圻 ,  李信宏 ,  陳旭宏

    IPC分类号： G01J

    CPC分类号： G06T7/521 ,  G06T2207/30108

    摘要： 本發明提供一種具有雷射元件且具有檢測雷射外洩能力之電子設備及其檢測雷射外洩之方法。根據本發明之電子設備包含三維影像擷取裝置。根據本發明，三維影像擷取裝置被控制以擷取二維影像，並且量測真實的深度資訊圖。擷取的二維影像被處理，進而獲得估測的深度資訊圖。本發明根據估測的深度資訊圖與真實的深度資訊圖選擇性地決定雷射元件發生雷射外洩或故障。

    简体摘要： 本发明提供一种具有激光组件且具有检测激光外泄能力之电子设备及其检测激光外泄之方法。根据本发明之电子设备包含三维影像截取设备。根据本发明，三维影像截取设备被控制以截取二维影像，并且量测真实的深度信息图。截取的二维影像被处理，进而获得估测的深度信息图。本发明根据估测的深度信息图与真实的深度信息图选择性地决定激光组件发生激光外泄或故障。