公开(公告)号：US06483298B2

公开(公告)日：2002-11-19

申请号：US09872627

申请日：2001-06-01

申请人： Kevin R. Heim ,  Clifton H. Chang ,  Peter T. Weyandt ,  Patrick J. Ryan

发明人： Kevin R. Heim ,  Clifton H. Chang ,  Peter T. Weyandt ,  Patrick J. Ryan

IPC分类号： G01R3312

CPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/105 ,  G11B5/3103 ,  G11B5/3903 ,  G11B5/40 ,  G11B33/10 ,  Y10T29/49039 ,  Y10T29/49048

摘要： A test simulation circuit includes a simulated read/write head with a magnet shield and a magnetoresistive sensor exposed at a lapped surface. The test simulation circuit also includes first and second electrical test path connected respectively to the magnet shield and the magnetoresistive sensor. The second electrical test path is electrically isolated from the first electrical test path.

摘要翻译： 测试模拟电路包括具有磁屏蔽的模拟读/写头和暴露在研磨表面的磁阻传感器。 测试模拟电路还包括分别连接到磁体屏蔽和磁阻传感器的第一和第二电测试路径。 第二电测试路径与第一电测试路径电隔离。