公开(公告)号：US06937965B1

公开(公告)日：2005-08-30

申请号：US09520257

申请日：2000-03-07

申请人： Mark R. Bilak ,  Joseph M. Forbes ,  Curt Guenther ,  Michael J. Maloney ,  Michael D. Maurice ,  Timothy J. O'Gorman ,  Regis D. Parent ,  Jeffrey S. Zimmerman

发明人： Mark R. Bilak ,  Joseph M. Forbes ,  Curt Guenther ,  Michael J. Maloney ,  Michael D. Maurice ,  Timothy J. O'Gorman ,  Regis D. Parent ,  Jeffrey S. Zimmerman

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F7/60

CPC分类号： G01R31/2855

摘要： A method for creating a guardband that incorporates statistical models for test environment, system environment, tester-to-system offset and reliability into a model and then processes a final guardband by factoring manufacturing process variation and quality against yield loss.

摘要翻译： 一种创建保护带的方法，将测试环境，系统环境，测试仪系统偏移和可靠性的统计模型合并到模型中，然后通过将制造过程变化和质量与产量损失进行分解来处理最终的保护带。