公开(公告)号：US20150015296A1

公开(公告)日：2015-01-15

申请号：US14084965

申请日：2013-11-20

Applicant: Samsung Display Co., Ltd.

Inventor： JONG-YUN KIM ,  Jin-Taek Kim ,  Cheol-Ho Yu ,  Bong-Won Lee

IPC: G09G3/00

CPC classification number: G09G3/006

Abstract: A test structure includes a terminal pattern, a first extending part, a second extending part and a measuring part. The terminal pattern includes a first terminal part, a second terminal part, a third terminal part and a fourth terminal part sequentially disposed and spaced apart from each other in a first direction. The first extending part is connected to the first terminal part and the second terminal part. The first extending part extends in a second direction crossing the first direction. The second extending part is connected to the third terminal part and the fourth terminal part. The second extending part extends in the second direction. The measuring part partially overlaps the first extending part and the second extending part.

Abstract translation: 测试结构包括端子图案，第一延伸部分，第二延伸部分和测量部分。 端子图案包括沿第一方向彼此依次布置和间隔开的第一端子部分，第二端子部分，第三端子部分和第四端子部分。 第一延伸部分连接到第一端子部分和第二端子部分。 第一延伸部分沿与第一方向交叉的第二方向延伸。 第二延伸部分连接到第三端子部分和第四端子部分。 第二延伸部分沿第二方向延伸。 测量部分与第一延伸部分和第二延伸部分重叠。